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公開番号2024174712
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-12-17
出願番号2023092692
出願日2023-06-05
発明の名称画像読取装置および画像読取方法
出願人株式会社リコー
代理人弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類H04N 1/04 20060101AFI20241210BHJP(電気通信技術)
要約【課題】可視画像と不可視画像との少なくとも何れか一方からの被写体または背景部の特徴量の抽出に際して、画像に悪影響が出ることを防止する。
【解決手段】被写体に対して可視光と不可視光とを照射する照明部と、前記被写体により反射された可視光及び不可視光を受光し、可視画像と不可視画像とを撮像する撮像部と、前記撮像部の撮像範囲に設けられる背景部と、前記可視画像と前記不可視画像との少なくとも何れか一方から、前記被写体または前記背景部の特徴量を検出する画像処理部と、を備え、前記背景部は、可視光の特定波長の反射率を、可視光の反射率の下限を規定する可視光下限反射率以上とし、不可視光の特定波長の反射率を、不可視光の反射率の上限を規定する不可視光上限反射率以下とする。
【選択図】図7
特許請求の範囲【請求項１】
被写体に対して可視光と不可視光とを照射する照明部と、
前記被写体により反射された可視光及び不可視光を受光し、可視画像と不可視画像とを撮像する撮像部と、
前記撮像部の撮像範囲に設けられる背景部と、
前記可視画像と前記不可視画像との少なくとも何れか一方から、前記被写体または前記背景部の特徴量を検出する画像処理部と、
を備え、
前記背景部は、可視光の特定波長の反射率を、可視光の反射率の下限を規定する可視光下限反射率以上とし、不可視光の特定波長の反射率を、不可視光の反射率の上限を規定する不可視光上限反射率以下とする、
ことを特徴とする画像読取装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記背景部は、可視光の特定波長の反射率を、可視光の反射率の上限を規定する可視光上限反射率以下とする、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記背景部は、不可視光の特定波長の反射率を、不可視光の反射率の下限を規定する不可視光下限反射率以上とする、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記背景部は、可視光の複数の特定波長の反射率の最大値と最小値との差分を、当該差分の上限を規定する可視光反射率差分上限以下とする、
ことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記照明部は、前記不可視光として赤外光を照射し、
前記撮像部は、前記不可視画像として赤外画像を撮像する、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記画像処理部は、前記可視画像と前記不可視画像との少なくとも何れか一方の特徴量として、前記被写体と前記背景部との間のエッジを検出し、
前記背景部は、前記特定波長が８５０ｎｍの場合における前記不可視光上限反射率を、５５％以下とする、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記画像処理部は、前記可視画像の特徴量として、前記被写体の輝度を検出し、
前記背景部は、前記特定波長が５５０ｎｍの場合における前記可視光下限反射率を、５５％以上とする、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記画像処理部は、前記可視画像と前記不可視画像との少なくとも何れか一方の特徴量として、前記被写体と前記背景部との間のエッジを検出し、
前記背景部は、前記特定波長が５５０ｎｍの場合における前記可視光上限反射率を、９９％以下とする、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項９】
前記画像処理部は、前記不可視画像の特徴量として、前記背景部の輝度を検出し、
前記背景部は、前記特定波長が８５０ｎｍの場合における前記不可視光下限反射率を、１％以上とする、
ことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項１０】
前記画像処理部は、前記可視画像の特徴量として、前記被写体の彩度を検出し、
前記背景部は、複数の前記特定波長が４５０，５５０，６００ｎｍの場合における前記可視光反射率差分上限を、４４％以下とする、
ことを特徴とする請求項４に記載の画像読取装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置および画像読取方法に関する。
続きを表示（約 2,000 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、画像読取装置では、読み取った画像から検出した原稿と背景との間のエッジを基に、原稿の傾きおよび位置を補正したり、原稿サイズに切り出したりする画像処理技術が考えられている。
【０００３】
また、特許文献１には、原稿の重送検知をするために、可視画像と不可視画像から特徴量を抽出する技術が開示されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、従来の画像読取装置では、上記画像処理のために、背景部に不可視光に対して低反射な不可視光低反射部を設けることで、原稿と背景との間のエッジ検出を可能としていた。
【０００５】
しかしながら、不可視光低反射部における不可視光に対する反射率を小さくすると、一般的に、可視光に対する反射率も小さくなってしまう。このように可視光に対する反射率が小さくなってしまうと、原稿地肌が暗くなることで白紙検知等の画像処理機能に影響が出たり、画像内に背景が残る場合には違和感のある画像になったりする、という問題がある。
【０００６】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、可視画像と不可視画像との少なくとも何れか一方からの被写体または背景部の特徴量の抽出に際して、画像に悪影響が出ることを防止することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、被写体に対して可視光と不可視光とを照射する照明部と、前記被写体により反射された可視光及び不可視光を受光し、可視画像と不可視画像とを撮像する撮像部と、前記撮像部の撮像範囲に設けられる背景部と、前記可視画像と前記不可視画像との少なくとも何れか一方から、前記被写体または前記背景部の特徴量を検出する画像処理部と、を備え、前記背景部は、可視光の特定波長の反射率を、可視光の反射率の下限を規定する可視光下限反射率以上とし、不可視光の特定波長の反射率を、不可視光の反射率の上限を規定する不可視光上限反射率以下とする、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、可視画像と不可視画像との少なくとも何れか一方からの被写体または背景部の特徴量の抽出に際して、画像に悪影響が出ることを防止することができる、という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
図１は、第１の実施の形態にかかる画像読取装置の装置構成の一例を示す図である。
図２は、読取部の構成の一例を説明する図である。
図３は、画像読取装置を構成する各部の電気的接続を示すブロック図である。
図４は、撮像部における媒質による分光反射特性の違いを示す図である。
図５は、可視画像と不可視画像の違いを例示的に示す図である。
図６は、画像処理部の機能構成を示すブロック図である。
図７は、背景部の反射率の規定を示す図である。
図８は、背景部の反射率による読取画像の違いを示す図である。
図９は、被写体のエッジ検出例を示す図である。
図１０は、原稿の傾きと位置の補正例を示す図である。
図１１は、第２の実施の形態にかかる背景部の反射率の規定を示す図である。
図１２は、不可視光イメージセンサへの可視光の混入例を示す図である。
図１３は、第３の実施の形態にかかる背景部の反射率の規定を示す図である。
図１４は、自動レベル補正（ＡＬＣ）の一例を示す図である。
図１５は、不可視光に対する背景部の反射率による読取画像の違いを示す図である。
図１６は、第４の実施の形態にかかる背景部の反射率の規定を示す図である。
図１７は、背景部の可視光反射率差分による読取画像の違いを示す図である。
図１８は、第５の実施の形態にかかる背景部の反射率の規定を示す図である。
図１９は、第６の実施の形態にかかる背景部の反射率の規定を示す図である。
図２０は、第７の実施の形態にかかる背景部の反射率の規定を示す図である。
図２１は、第８の実施の形態にかかる背景部の反射率の規定を示す図である。
図２２は、第９の実施の形態にかかる背景部の反射率の規定を示す図である。
図２３は、画像読取装置の変形例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に添付図面を参照して、画像読取装置および画像読取方法の実施の形態を詳細に説明する。なお、以下において可視光線の波長域（可視波長域）を対象とする場合に可視、可視光線以外の赤外線や紫外線などの波長域を対象とする場合に不可視などと呼ぶ。
（【００１１】以降は省略されています）

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