TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
公開番号2025144412
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-10-02
出願番号2024044169
出願日2024-03-19
発明の名称建物の内部を3Dスキャナを用いて3次元計測するための計測位置を決定するための探索方法、及びプログラム
出願人株式会社フジタ,株式会社セック
代理人弁理士法人高橋・林アンドパートナーズ
主分類G01B 11/24 20060101AFI20250925BHJP(測定;試験)
要約【課題】既存の建物の内部を3次元計測する際に、効率的に計測位置を決定するための探索方法、またはプログラムを提供する。
【解決手段】建物の内部を3Dスキャナを用いて3次元計測するための計測位置を決定するための探索方法であって、建物の建築図面から計測対象範囲及び障害物の位置情報を含む建物の輪郭線を示す2値画像に基づいて距離マップを生成し、距離マップにおける計測点候補うち、輪郭線からの計測点までの距離に応じて、計測点候補から所定の条件を満たす計測点を除外することで得られる壁計測点を取得し、計測対象範囲から壁計測点に基づいて特定される計測範囲を除外することで得られる未計測範囲に基づいて床計測点を取得し、壁計測点に床計測点を加算することで、3Dスキャナの計測位置を決定する。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
建物の内部を3Dスキャナを用いて3次元計測するための計測位置を決定するための探索方法であって、
前記建物の建築図面から計測対象範囲及び障害物の位置情報を含む前記建物の輪郭線を示す2値画像に基づいて距離マップを生成し、
前記距離マップにおける計測点候補のうち、前記輪郭線からの計測点までの距離に応じて、前記計測点候補から所定の条件を満たす計測点を除外することで得られる壁計測点を取得し、
計測対象範囲から前記壁計測点に基づいて特定される計測範囲を除外することで得られる未計測範囲に基づいて床計測点を取得し、
前記壁計測点に前記床計測点を加算することで、3Dスキャナの計測位置を決定することをコンピュータが実行する探索方法。
続きを表示(約 620 文字)【請求項2】
前記距離マップは、前記輪郭線から離れた前記計測点との距離を計算した第1距離マップと、前記輪郭線のうち未計測の輪郭線との距離を定義する第2距離マップとを合成した合成マップである、請求項1に記載の探索方法。
【請求項3】
前記計測点候補から前記計測点を除外することは、前記計測点候補の各々に対して計測可能な輪郭線を除外することである、請求項1に記載の探索方法。
【請求項4】
前記計測点候補から前記計測点を除外することは、除外対象の計測点を除外しても前記輪郭線の全てを計測可能な計測点を除外することである、請求項3に記載の探索方法。
【請求項5】
前記未計測範囲に基づいて前記床計測点を取得することは、前記未計測範囲を計測可能な計測点を計算することである、請求項1に記載の探索方法。
【請求項6】
前記未計測範囲を計測可能な計測点を計算することは、前記未計測範囲を矩形で近似し、矩形の外側から計測可能か計算することである、請求項1に記載の探索方法。
【請求項7】
前記未計測範囲を計測可能な計測点を計算することは、前記未計測範囲を矩形で近似し、矩形の内側から計測可能か計算することである、請求項1に記載の探索方法。
【請求項8】
請求項1乃至7のいずれか一項に記載の探索方法を、コンピュータに実行させるためのプログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明の一実施形態は、建物の内部を3Dスキャナを用いて3次元計測するための計測位置を決定するための探索方法、及びプログラムに関するものである。
続きを表示(約 1,400 文字)【背景技術】
【0002】
既存の建物の内部構造を3次元計測してBIM(Building Information Modeling)情報として取得して、活用する研究開発が進められている(例えば、特許文献1)。建物の内部構造を3次元計測するために地上型3Dレーザースキャナ(以降、単に3Dスキャナという)が用いられるが、建物の内部構造が広く、また複雑であるほど、3Dスキャナの位置を変えてスキャンする必要があるため、スキャンの回数が増加する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2022-142994号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
建物の内部を3Dスキャナで計測を行う場合、3Dスキャナは360度回転しながら高密度の計測を行うため、一か所あたりの計測に関わる処理時間が長いという問題がある。したがって、建物の内部において、計測する対象を網羅しつつ可能な限りスキャン回数を減らしたいという要求がある。実際に建物の計測を行うにあたり、遮蔽物の影響や3Dスキャナの計測可能範囲を考慮する必要があり計測範囲の予測が難しい。そのため、必要となる範囲よりも広い範囲での計測や、多くの計測回数による計測を実施する必要があり、計測負荷が高くなる。これを解消するために、厳密に計測場所のシミュレーションを行う場合、建物の構造を示す3次元データに対する演算処理に要する計算負荷が高くなってしまい現実的ではない。
【0005】
上記問題に鑑み、本発明の一実施形態は、既存の建物の内部を3次元計測する際に、効率的に計測位置を決定するための探索方法、またはプログラムを提供することを目的の一つとする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の一実施形態に係る探索方法は、建物の内部を、3Dスキャナを用いて3次元計測するための計測位置を決定するための探索方法であって、建物の建築図面から計測対象範囲及び障害物の位置情報を含む建物の輪郭線を示す2値画像に基づいて距離マップを生成し、距離マップにおける計測点候補うち、輪郭線からの計測点までの距離に応じて、計測点候補から所定の条件を満たす計測点を除外することで得られる壁計測点を取得し、計測対象範囲から壁計測点に基づいて特定される計測範囲を除外することで得られる未計測範囲に基づいて床計測点を取得し、壁計測点に床計測点を加算することで、3Dスキャナの計測位置を決定することをコンピュータが実行する。
【0007】
上記の探索方法において、距離マップは、輪郭線から離れた計測点との距離を計算した第1距離マップと、輪郭線のうち未計測の輪郭線との距離を定義する第2距離マップとを合成した合成マップである。
【0008】
上記の探索方法において、計測点候補から計測点を除外することは、計測点候補の各々に対して計測可能な輪郭線を除外することである。
【0009】
上記の探索方法において、計測点候補から計測点を除外することは、除外対象の計測点を除外しても輪郭線の全てを計測可能な計測点を除外することである。
【0010】
上記の探索方法において、未計測範囲に基づいて床計測点を取得することは、未計測範囲を計測可能な計測点を計算することである。
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する

関連特許

日本精機株式会社
位置検出装置
2日前
日本精機株式会社
位置検出装置
2日前
日本精機株式会社
位置検出装置
2日前
アズビル株式会社
圧力センサ
1日前
エイブリック株式会社
磁気センサ回路
1日前
TDK株式会社
ガスセンサ
1日前
株式会社熊谷組
RI計測装置
2日前
富士電機株式会社
エンコーダ
1日前
アズビル株式会社
動粘度測定システム
2日前
株式会社精工技研
光電界センサヘッド
1日前
オンキヨー株式会社
検出装置、及び、判定装置
3日前
株式会社アイシン
回転角検出装置
1日前
株式会社イシダ
X線検査装置
1日前
東フロコーポレーション株式会社
熱式流量計
1日前
アズビル株式会社
熱式流量計および補正方法
1日前
旭化成株式会社
検査装置
1日前
株式会社豊田中央研究所
センサ構造体
2日前
アンリツ株式会社
計量装置
1日前
株式会社明電舎
車両固定装置
1日前
株式会社イシダ
組合せ計量装置
1日前
株式会社イシダ
X線検査装置
2日前
株式会社明電舎
車両固定装置
1日前
株式会社イシダ
X線検査装置
1日前
矢崎総業株式会社
電流検出装置
2日前
株式会社明電舎
センサ固定用治具
2日前
TDK株式会社
センサ装置
1日前
株式会社ゼロボード
情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
1日前
大口電子株式会社
廃液からのガス発生量の測定方法
1日前
株式会社イシダ
計量装置
2日前
株式会社リガク
電池分析用構造体
1日前
横河電機株式会社
測定装置及び測定方法
1日前
株式会社 システムスクエア
電磁波検査装置及びプログラム
2日前
Astemo株式会社
電池監視装置
2日前
日本製鉄株式会社
計測装置及び計測方法
1日前
株式会社バルカー
評価装置、および評価方法
2日前
共立電気計器株式会社
電流センサおよび電流測定装置
1日前
続きを見る