TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
10個以上の画像は省略されています。
公開番号
2025161507
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-10-24
出願番号
2024064758
出願日
2024-04-12
発明の名称
測定器
出願人
株式会社ミツトヨ
代理人
個人
主分類
G01B
21/00 20060101AFI20251017BHJP(測定;試験)
要約
【課題】 基点設定や測定データの確定にあたって、ユーザの操作による影響を排除することができ、測定精度が向上する測定器を提供する。
【解決手段】 測定器であって、ユーザからの指示操作を受け付ける操作受付部と、指が操作受付部に近接離間するときに、指と操作受付部との距離を測距する近接センサを備える。操作受付部は、測定データを確定させる測定データ確定の指示を受け付け、指が操作受付部に接近してきたことを近接センサが検知したら、中央制御部は、測定値を仮確定測定データとして順次メモリに記憶しておき、操作受付部が測定データ確定の指示を受け付けたら、メモリに記憶した仮確定測定データのなかの一つまたは二つ以上を確定した測定データとする。
【選択図】図11
特許請求の範囲
【請求項1】
測定器であって、
本体部と、
前記本体部に設けられ、接触または非接触により測定対象物の位置を検出する位置検出器と、
前記本体部に設けられ、ユーザからの指示操作を受け付ける操作受付部と、
物体が前記操作受付部に近接離間するときに、前記物体と前記操作受付部との距離を測距する近接センサと、
全体の動作を制御する中央制御部と、を備える
ことを特徴とする測定器。
続きを表示(約 1,300 文字)
【請求項2】
請求項1に記載の測定器であって、
前記操作受付部は、測定データを確定させる測定データ確定の指示を受け付け、
前記物体が前記操作受付部に近接してきたことを前記近接センサが検知したら、
前記中央制御部は、前記位置検出器による測定値を仮確定測定データとして順次記憶部に記憶しておき、
前記操作受付部が測定データ確定の指示を受け付けたら、前記中央制御部は、前記記憶部に記憶した前記仮確定測定データのなかの一つまたは二つ以上を確定した測定データとする
ことを特徴とする測定器。
【請求項3】
請求項2に記載の測定器であって、
前記操作受付部が測定データ確定の指示を受け付けたら、前記中央制御部は、前記記憶部に記憶した前記仮確定測定データのなかで、前記操作受付部が測定データ確定の指示を検知する直前の仮確定測定データを確定した測定データとする
ことを特徴とする測定器。
【請求項4】
請求項1に記載の測定器であって、
前記操作受付部は、基点設定指示を受け付け、
前記操作受付部が基点設定指示を受け付けた後、続いて、前記物体が前記操作受付部から離間したことを前記近接センサが検知したら、前記中央制御部は、前記位置検出器にて検出された前記測定対象物の位置を基点として設定する
ことを特徴とする測定器。
【請求項5】
請求項1に記載の測定器であって、
前記操作受付部は、ホールドモードへのモード移行指示を受け付け、
前記操作受付部がホールドモードへのモード移行指示を受け付けた後、続いて、前記物体が前記操作受付部から離間したことを前記近接センサが検知したら、前記中央制御部は、前記位置検出器による測定値のサンプリングを開始し、指示されたホールドモードを実行する
ことを特徴とする測定器。
【請求項6】
請求項1に記載の測定器であって、
さらに、慣性センサを備える
ことを特徴とする測定器。
【請求項7】
請求項1に記載の測定器であって、
前記操作受付部は、前記物体の接触または押圧によってユーザからの指示操作を受け付ける
ことを特徴とする測定器。
【請求項8】
請求項1から請求項7のいずれかに記載の測定器において、
前記位置検出器は、
一軸の測定軸を有する検出器である
ことを特徴とする測定器。
【請求項9】
請求項1から請求項7のいずれかに記載の測定器において、
前記位置検出器は、
前記本体部に進退可能に設けられ、測定対象物に当接する可動部材と、
前記可動部材の位置を検出するエンコーダと、を有する
ことを特徴とする測定器。
【請求項10】
請求項1から請求項7のいずれかに記載の測定器において、
当該測定器はユーザが手に持って持ち運びできる可搬の測定器であって、
測定対象に対して相対姿勢または位置を保持するようにスタンドに取り付けられるものである
ことを特徴とする測定器。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、小型測定器に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
測定対象物の寸法等を測定する小型の測定器(スモールツール)として、ノギス、マイクロメータ、ダイヤルゲージ(インジケータ)、てこ式ダイヤルゲージ(テストインジケータ)、ハイトゲージなどが広く使用されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特許第6472309号
特許第5192144号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
ダイヤルゲージやてこ式ダイヤルゲージでは、測定子をワーク、マスターワークあるいはゲージブロックに当接させた状態で基点(原点)設定を行うことが多い。このとき、ユーザはボタン操作で基点(原点)の取り込み設定を行っている。しかしながら、ユーザがボタン操作をすると測定器を押すことになるので、このとき測定器の位置や姿勢が動いてしまう。すると、基点(原点)がずれてしまうことになり、その後の測定動作でもボタン操作で指示を入力すると測定値に誤差を含む要因になる。
【0005】
本発明の目的は、基点(原点)設定や測定データの確定にあたって、ユーザの操作による影響を排除することができ、測定精度が向上する測定器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の測定器は、
測定器であって、
本体部と、
前記本体部に設けられ、接触または非接触により測定対象物の位置を検出する位置検出器と、
前記本体部に設けられ、ユーザからの指示操作を受け付ける操作受付部と、
物体が前記操作受付部に近接離間するときに、前記物体と前記操作受付部との距離を測距する近接センサと、
全体の動作を制御する中央制御部と、を備える
ことを特徴とする。
【0007】
本発明の一実施形態では、
前記操作受付部は、測定データを確定させる測定データ確定の指示を受け付け、
前記物体が前記操作受付部に近接してきたことを前記近接センサが検知したら、
前記中央制御部は、前記位置検出器による測定値を仮確定測定データとして順次記憶部に記憶しておき、
前記操作受付部が測定データ確定の指示を受け付けたら、前記中央制御部は、前記記憶部に記憶した前記仮確定測定データのなかの一つまたは二つ以上を確定した測定データとする
ことが好ましい。
【0008】
本発明の一実施形態では、
前記操作受付部が測定データ確定の指示を受け付けたら、前記中央制御部は、前記記憶部に記憶した前記仮確定測定データのなかで、前記操作受付部が測定データ確定の指示を検知する直前の仮確定測定データを確定した測定データとする
ことが好ましい。
【0009】
本発明の一実施形態では、
前記操作受付部は、基点設定指示を受け付け、
前記操作受付部が基点設定指示を受け付けた後、続いて、前記物体が前記操作受付部から離間したことを前記近接センサが検知したら、前記中央制御部は、前記位置検出器にて検出された前記測定対象物の位置を基点として設定する
ことが好ましい。
【0010】
本発明の一実施形態では、
前記操作受付部は、ホールドモードへのモード移行指示を受け付け、
前記操作受付部がホールドモードへのモード移行指示を受け付けた後、続いて、前記物体が前記操作受付部から離間したことを前記近接センサが検知したら、前記中央制御部は、前記位置検出器による測定値のサンプリングを開始し、指示されたホールドモードを実行する
ことが好ましい。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
関連特許
株式会社ミツトヨ
測定器
21日前
株式会社ミツトヨ
測定装置
1か月前
株式会社ミツトヨ
画像測定機およびプログラム
1か月前
株式会社ミツトヨ
2値化画像生成方法、欠陥検査方法及びプログラム
1か月前
株式会社ミツトヨ
外観検査方法、検査範囲指定方法およびプログラム
1か月前
ホヤ レンズ タイランド リミテッド
プラスチックレンズの製造方法
1か月前
ホヤ レンズ タイランド リミテッド
プラスチックレンズ及びその製造方法、並びに眼鏡
1か月前
個人
採尿及び採便具
15日前
日本精機株式会社
検出装置
9日前
個人
計量機能付き容器
4日前
個人
アクセサリー型テスター
1か月前
個人
高精度同時多点測定装置
1か月前
株式会社ミツトヨ
測定器
21日前
甲神電機株式会社
電流検出装置
9日前
アズビル株式会社
電磁流量計
24日前
大成建設株式会社
風洞実験装置
4日前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
2日前
愛知時計電機株式会社
ガスメータ
21日前
個人
計量具及び計量機能付き容器
4日前
双庸電子株式会社
誤配線検査装置
10日前
日本信号株式会社
距離画像センサ
7日前
長崎県
形状計測方法
1か月前
個人
システム、装置及び実験方法
24日前
愛知電機株式会社
軸部材の外観検査装置
18日前
大和製衡株式会社
組合せ計量装置
18日前
大和製衡株式会社
組合せ計量装置
18日前
個人
非接触による電磁パルスの測定方法
7日前
ローム株式会社
半導体装置
29日前
ローム株式会社
半導体装置
29日前
個人
液位検視及び品質監視システム
2日前
日本特殊陶業株式会社
センサ
21日前
トヨタ自動車株式会社
測定システム
28日前
日東精工株式会社
振動波形検査装置
10日前
株式会社不二越
X線測定装置
7日前
株式会社デンソー
電流センサ
29日前
株式会社電巧社
試験装置及び試験方法
10日前
続きを見る
他の特許を見る