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公開番号2025017507
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-02-06
出願番号2023120578
出願日2023-07-25
発明の名称エレベータ検査システム及び検査装置
出願人フジテック株式会社
代理人弁理士法人ユニアス国際特許事務所
主分類B66B 5/02 20060101AFI20250130BHJP(巻上装置;揚重装置;牽引装置)
要約【課題】ロープの検査結果を容易に把握することができるエレベータ検査システムを提供する。
【解決手段】エレベータ検査システムは、ロープの磁束を検出して出力するロープテスタと、現在のかご位置を出力する処理装置と、データを記憶する記憶部とデータを演算する演算部とデータを出力する出力部とを有する検査装置と、を備え、記憶部は、磁束とかご位置とを関連付けて記憶し、演算部は、磁束の異常を判定し、記憶部は、異常と判定された磁束に関連付けて記憶されたかご位置に、新規の異常データを関連付けて記憶し、出力部は、新規の異常データが関連付けて記憶されたかご位置を、新規異常かご位置として一覧に表示する表示部を備える。
【選択図】図7
特許請求の範囲【請求項１】
ロープの磁束を検出して出力するロープテスタと、
現在のかご位置を出力する処理装置と、
データを記憶する記憶部と、データを演算する演算部と、データを出力する出力部と、を有する検査装置と、を備え、
前記記憶部は、前記磁束と前記かご位置とを関連付けて記憶し、
前記演算部は、前記磁束の異常を判定し、
前記記憶部は、異常と判定された磁束に関連付けて記憶されたかご位置に、新規の異常データを関連付けて記憶し、
前記出力部は、前記新規の異常データが関連付けて記憶されたかご位置を、新規異常かご位置として一覧に表示する表示部を備える、エレベータ検査システム。
続きを表示（約 880 文字）【請求項２】
前記記憶部は、前記かご位置と前記異常データとが関連付けて記憶された異常データベースを記憶し、
前記記憶部は、前記異常データベースに対して、前記かご位置に関連付けて前記新規の異常データを累積して記憶する、請求項１に記載のエレベータ検査システム。
【請求項３】
前記表示部は、過去の異常データのみが関連付けて記憶されたかご位置を、過去異常かご位置として一覧に表示する、請求項２に記載のエレベータ検査システム。
【請求項４】
前記検査装置は、データが入力される入力部を備え、
前記入力部は、前記新規異常かご位置のうち、対象のかご位置を選択する入力選択データと、前記ロープの素線切れ本数と、が入力され、
前記記憶部は、前記異常データベースに対して、前記入力選択データで選択されたかご位置に関連付けて、前記素線切れ本数を累積して記憶し、
前記表示部は、一覧に表示するかご位置と一緒に、それぞれのかご位置に関連付けて累積して記憶された素線切れ本数のうち、最新の素線切れ本数を表示する、請求項２又は３に記載のエレベータ検査システム。
【請求項５】
前記検査装置は、データが入力される入力部を備え、
前記入力部は、前記新規異常かご位置のうち、対象のかご位置を選択する入力選択データと、前記ロープの素線切れ本数と、が入力され、
前記記憶部は、前記異常データベースに対して、前記入力選択データで選択されたかご位置に関連付けて、前記素線切れ本数を累積して記憶し、
前記入力部は、前記表示部に一覧に表示されたかご位置のうち、対象のかご位置を選択する出力選択データが入力され、
前記表示部は、前記出力選択データで選択されたかご位置に関連付けて累積して記憶された素線切れ本数を一覧に表示する、請求項２又は３に記載のエレベータ検査システム。
【請求項６】
請求項１～３の何れか１項に記載のエレベータ検査システムに用いられる、検査装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本出願は、エレベータ検査システム及び検査装置に関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、例えば、エレベータ検査システムは、ロープの異常箇所にマーキングを施している（例えば、特許文献１）。しかしながら、特許文献１に係るエレベータ検査システムにおいては、例えば、マーキングを施した箇所の個数等の検査結果を、直ぐに把握することが難しい。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２００９－１８４７６９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
そこで、課題は、ロープの検査結果を容易に把握することができるエレベータ検査システム及び検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
エレベータ検査システムは、
ロープの磁束を検出して出力するロープテスタと、
現在のかご位置を出力する処理装置と、
データを記憶する記憶部と、データを演算する演算部と、データを出力する出力部と、を有する検査装置と、を備え、
前記記憶部は、前記磁束と前記かご位置とを関連付けて記憶し、
前記演算部は、前記磁束の異常を判定し、
前記記憶部は、異常と判定された磁束に関連付けて記憶されたかご位置に、新規の異常データを関連付けて記憶し、
前記出力部は、前記新規の異常データが関連付けて記憶されたかご位置を、新規異常かご位置として一覧に表示する表示部を備える。
【０００６】
検査装置は、前記のエレベータ検査システムに用いられる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
一実施形態に係るエレベータ検査システムの概要図
同実施形態に係るエレベータ及びロープテスタの概要図
同実施形態に係る検査装置の制御ブロック図
同実施形態に係る異常データベースを示す図
同実施形態に係る画像を示す図
同実施形態に係る表示部の表示を示す図
同実施形態に係る表示部の表示を示す図
同実施形態に係る表示部の表示を示す図
同実施形態に係る異常データベースを示す図
他の実施形態に係る表示部の表示を示す図
さらに他の実施形態に係る表示部の表示を示す図
さらに他の実施形態に係る表示部の表示を示す図
さらに他の実施形態に係る表示部の表示を示す図
【発明を実施するための形態】
【０００８】
各図面において、構成要素の寸法は、例えば、理解を容易にするために、実際の寸法に対して拡大、縮小して示す場合があり、また、各図面の間での寸法比は、一致していない場合がある。なお、各図面において、例えば、理解を容易にするために、構成要素の一部を省略して示す場合がある。
【０００９】
第１、第２等の序数を含む用語は、多様な構成要素を説明するために用いられるが、この用語は、一つの構成要素を他の構成要素から区別する目的でのみ用いられ、構成要素は、この用語によって特に限定されるものではない。なお、序数を含む構成要素の個数は、特に限定されず、例えば、一つでもよい場合がある。また、以下の明細書及び図面で用いられる序数は、特許請求の範囲に記載された序数と異なる場合がある。
【００１０】
以下、エレベータ検査システム及び検査装置における一実施形態について、図１～図９を参照しながら説明する。なお、以下の実施形態は、エレベータ検査システム及び検査装置の構成等の理解を助けるために例示するものであり、エレベータ検査システム及び検査装置の構成を限定するものではない。
（【００１１】以降は省略されています）

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