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公開番号
2025017318
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-02-05
出願番号
2024096462
出願日
2024-06-14
発明の名称
基板処理装置及び基板処理方法
出願人
ユ-ジーン テクノロジー カンパニー.リミテッド
代理人
弁理士法人前田特許事務所
主分類
C23C
16/455 20060101AFI20250129BHJP(金属質材料への被覆;金属質材料による材料への被覆;化学的表面処理;金属質材料の拡散処理;真空蒸着,スパッタリング,イオン注入法,または化学蒸着による被覆一般;金属質材料の防食または鉱皮の抑制一般)
要約
【課題】マルチステーションチャンバー内において複数枚の基板に対して互いに独立して工程を行うことが可能な基板処理装置及び基板処理方法を提供すること。
【解決手段】それぞれ独立して工程が行われる第1の工程ステーション、第2の工程ステーション、第3の工程ステーション及び第4の工程ステーションを備え、複数枚の基板に対する工程を行うことが可能なマルチステーションチャンバーと、前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションに複数のガスを区分してそれぞれ供給するためのガス供給部と、前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションにそれぞれ供給されるガスを切り替えて前記第1乃至第4の工程ステーションに前記複数のガスが順次に供給されるように前記ガス供給部を制御する制御部と、を備える基板処理装置。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
それぞれ独立して工程が行われる第1の工程ステーション、第2の工程ステーション、第3の工程ステーション及び第4の工程ステーションを備え、複数枚の基板に対する工程を行うことが可能なマルチステーションチャンバーと、
前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションに複数のガスを区分してそれぞれ供給するためのガス供給部と、
前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションにそれぞれ供給されるガスを切り替えて前記第1乃至第4の工程ステーションに前記複数のガスが順次に供給されるように前記ガス供給部を制御する制御部と、
を備える、基板処理装置。
続きを表示(約 2,600 文字)
【請求項2】
前記ガス供給部は、
前記マルチステーションチャンバーに第1の工程ガスを供給する第1のガス供給部と、
前記マルチステーションチャンバーに前記第1の工程ガスとは異なる第2の工程ガスを供給する第2のガス供給部と、
前記マルチステーションチャンバーに第1のパージガスを供給する第1のパージ供給部と、
前記マルチステーションチャンバーに第2のパージガスを供給する第2のパージ供給部と、
を備える、請求項1に記載の基板処理装置。
【請求項3】
前記制御部は、前記第1の工程ガス、前記第2の工程ガス、前記第1のパージガス及び前記第2のパージガスがそれぞれ前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションのうちの互いに異なる工程ステーションに区分されて供給されるように前記第1のガス供給部、前記第2のガス供給部、前記第1のパージ供給部及び前記第2のパージ供給部を制御する、請求項2に記載の基板処理装置。
【請求項4】
前記第2の工程ステーションは、前記第1の工程ステーションの第1の方向に配置され、
前記第4の工程ステーションは、前記第1の工程ステーションの前記第1の方向と垂直な第2の方向に配置され、
前記第3の工程ステーションは、前記第1の工程ステーションの前記第1の方向と前記第2の方向との間の対角方向に配置される、請求項3に記載の基板処理装置。
【請求項5】
前記制御部は、
前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションの順に前記第1の工程ガスを供給するように前記第1のガス供給部を制御し、
前記第4の工程ステーション、前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション及び前記第3の工程ステーションの順に前記第1のパージガスを供給するように前記第1のパージ供給部を制御し、
前記第3の工程ステーション、前記第4の工程ステーション、前記第1の工程ステーション及び前記第2の工程ステーションの順に前記第2の工程ガスを供給するように前記第2のガス供給部を制御し、
前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション、前記第4の工程ステーション及び前記第1の工程ステーションの順に前記第2のパージガスを供給するように前記第2のパージ供給部を制御する、請求項4に記載の基板処理装置。
【請求項6】
前記第1のガス供給部は、前記第1の工程ガスを蓄えて前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションに選択的に供給するために前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションにそれぞれ接続される第1のガスリザーバーを備え、
前記第2のガス供給部は、前記第2の工程ガスを蓄えて前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションに選択的に供給するために前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションにそれぞれ接続される第2のガスリザーバーを備え、
前記第1のパージ供給部は、前記第1のパージガスを蓄えて前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションに選択的に供給するために前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションにそれぞれ接続される第1のパージリザーバーを備え、
前記第2のパージ供給部は、前記第2のパージガスを蓄えて前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションに選択的に供給するために前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションにそれぞれ接続される第2のパージリザーバーを備える、請求項2に記載の基板処理装置。
【請求項7】
前記第1のガスリザーバー及び前記第2のガスリザーバーは、前記第1のパージリザーバー及び前記第2のパージリザーバーとは大きさが異なる、請求項6に記載の基板処理装置。
【請求項8】
前記第1のパージリザーバーと前記第2のパージリザーバーは、前記第1のガスリザーバー及び前記第2のガスリザーバーよりもさらに小さい、請求項7に記載の基板処理装置。
【請求項9】
前記第1のパージリザーバーと前記第2のパージリザーバーは、大きさが同一である、請求項6に記載の基板処理装置。
【請求項10】
前記第1のガス供給部は、前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションのそれぞれと前記第1のガスリザーバーとの間にそれぞれ配設される複数の第1のガス弁をさらに備え、
前記第2のガス供給部は、前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションのそれぞれと前記第2のガスリザーバーとの間にそれぞれ配設される複数の第2のガス弁をさらに備え、
前記第1のパージ供給部は、前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションのそれぞれと前記第1のパージリザーバーとの間にそれぞれ配設される複数の第1のパージ弁をさらに備え、
前記第2のパージ供給部は、前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションのそれぞれと前記第2のパージリザーバーとの間にそれぞれ配設される複数の第2のパージ弁をさらに備える、請求項6に記載の基板処理装置。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、基板処理装置及び基板処理方法に関し、より詳細には、マルチステーションチャンバー内において複数枚の基板に対して互いに独立して工程を行うことが可能な基板処理装置及び基板処理方法に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
基板処理装置は、処理空間内に処理しようとする基板を位置付けた後、化学気相蒸着(Chemical Vapor Deposition;CVD)法又は原子層蒸着(Atomic Layer Deposition;ALD)法などを用いて処理空間内に注入された工程ガスに含まれている反応粒子を基板の上に蒸着する装置であり、1枚の基板に対して処理工程が行える枚葉式(Single Wafer Type)と、複数枚の基板に対して同時に処理工程が行えるバッチ式(Batch Type)と、が挙げられる。
【0003】
一般に、バッチ式基板処理装置は、縦型(vertical)構造の工程チューブに複数枚の基板を多段状に収容して処理工程を行い、このようなバッチ式基板処理装置は、基板の蒸着面と垂直に工程ガスが吹き付けられず、側方向に吹き付けられて噴射ノズルとの距離に応じて蒸着率が異なってくるという不具合が生じてしまう虞がある。
【0004】
また、枚葉式基板処理装置の場合には、1つのチャンバーにおいて基板を1枚ずつしか処理することができないため、工程歩留まりが低いという欠点がある。
【0005】
これらの理由から、1つのチャンバーにおいて複数枚の基板に対して基板の蒸着面と垂直に工程ガスを吹き付けながら工程を進めることのできる基板処理装置が切望されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
大韓民国登録特許第10-2028202号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
本発明は、複数の工程ステーションに複数のガスを区分してそれぞれ供給することにより、それぞれの工程ステーションにおいて互いに異なる工程を行う基板処理装置及び基板処理方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明の一実施形態に係る基板処理装置は、それぞれ独立して工程が行われる第1の工程ステーション、第2の工程ステーション、第3の工程ステーション及び第4の工程ステーションを備え、複数枚の基板に対する工程を行うことが可能なマルチステーションチャンバーと、前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションに複数のガスを区分してそれぞれ供給するためのガス供給部と、前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションにそれぞれ供給されるガスを切り替えて前記第1乃至第4の工程ステーションに前記複数のガスが順次に供給されるように前記ガス供給部を制御する制御部と、を備えていてもよい。
【0009】
前記ガス供給部は、前記マルチステーションチャンバーに第1の工程ガスを供給する第1のガス供給部と、前記マルチステーションチャンバーに前記第1の工程ガスとは異なる第2の工程ガスを供給する第2のガス供給部と、前記マルチステーションチャンバーに第1のパージガスを供給する第1のパージ供給部と、前記マルチステーションチャンバーに第2のパージガスを供給する第2のパージ供給部と、を備えていてもよい。
【0010】
前記制御部は、前記第1の工程ガス、前記第2の工程ガス、前記第1のパージガス及び前記第2のパージガスがそれぞれ前記第1の工程ステーション、前記第2の工程ステーション、前記第3の工程ステーション及び前記第4の工程ステーションのうちの互いに異なる工程ステーションに区分されて供給されるように前記第1のガス供給部、前記第2のガス供給部、前記第1のパージ供給部及び前記第2のパージ供給部を制御することができる。
(【0011】以降は省略されています)
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