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公開番号2025015006
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-30
出願番号2023118053
出願日2023-07-20
発明の名称保守点検方法、保守点検装置および使用方法
出願人住友電気工業株式会社,株式会社ブロードネットマックス
代理人弁理士法人ワンディ-IPパ-トナ-ズ
主分類H01S 3/00 20060101AFI20250123BHJP(基本的電気素子)
要約【課題】光アンプの劣化を考慮して光アンプをより適切なタイミングで交換する。
【解決手段】保守点検方法は、LDを備える光アンプの保守点検方法であって、複数の前記光アンプにおける前記LDの駆動電流の計測値の時間変化をそれぞれ示す複数の時系列データを取得するステップと、取得した前記複数の時系列データをクラスタリングすることにより、前記複数の光アンプを複数のクラスタに分類するステップと、前記複数の光アンプを分類した前記複数のクラスタのうちの、少なくともいずれか1つの前記クラスタに属する前記光アンプの交換タイミングを決定するステップとを含む。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
ＬＤ（ＬａｓｅｒＤｉｏｄｅ）を備える光アンプの保守点検方法であって、
複数の前記光アンプにおける前記ＬＤの駆動電流の計測値の時間変化をそれぞれ示す複数の時系列データを取得するステップと、
取得した前記複数の時系列データをクラスタリングすることにより、前記複数の光アンプを複数のクラスタに分類するステップと、
前記複数の光アンプを分類した前記複数のクラスタのうちの、少なくともいずれか１つの前記クラスタに属する前記光アンプの交換タイミングを決定するステップとを含む、保守点検方法。
続きを表示（約 1,200 文字）【請求項２】
前記交換タイミングを決定するステップにおいては、前記駆動電流が所定の上限値に達するタイミングである到達タイミングを推定し、推定した前記到達タイミングを前記交換タイミングとして決定する、請求項１に記載の保守点検方法。
【請求項３】
前記交換タイミングを決定するステップにおいては、前記クラスタごとに異なる前記上限値を用いて、前記クラスタごとに前記到達タイミングを推定する、請求項２に記載の保守点検方法。
【請求項４】
前記保守点検方法は、さらに、
前記交換タイミングを決定した前記光アンプの製造ロットを特定するステップと、
推定した前記到達タイミングを、特定した前記製造ロットにおいて製造され、かつ前記クラスタに属さない前記光アンプの前記交換タイミングとして決定するステップとを含む、請求項２に記載の保守点検方法。
【請求項５】
前記複数の時系列データを取得するステップにおいては、前記光アンプごとに予め設定された温度補正係数と、前記光アンプの温度の計測結果とを用いて補正された前記計測値の時間変化を示す前記時系列データを取得する、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の保守点検方法。
【請求項６】
前記保守点検方法は、さらに、
前記交換タイミングを決定するステップにおいて決定した前記光アンプの前記交換タイミングまでの時間が所定値未満である場合、前記光アンプの冷却を強化するステップを含む、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の保守点検方法。
【請求項７】
ＬＤを備える光アンプの保守点検に用いられる保守点検装置であって、
複数の前記光アンプにおける前記ＬＤの駆動電流の計測値の時間変化をそれぞれ示す複数の時系列データを取得する取得部と、
前記取得部により取得された前記複数の時系列データをクラスタリングすることにより、前記複数の光アンプを複数のクラスタに分類する分類部と、
前記分類部により前記複数の光アンプが分類された前記複数のクラスタのうちの、少なくともいずれか１つの前記クラスタに属する前記光アンプの交換タイミングを決定する決定部とを備える、保守点検装置。
【請求項８】
ＬＤを備える光アンプの使用方法であって、
複数の前記光アンプを設置するステップと、
前記複数の光アンプを駆動させるステップと、
駆動中の前記複数の光アンプにおける前記ＬＤの駆動電流の計測値の時間変化をそれぞれ示す複数の時系列データを取得するステップと、
取得した前記複数の時系列データをクラスタリングした結果に基づいて決定された、前記光アンプの交換タイミングを取得するステップと、
取得した前記交換タイミングにおいて、前記光アンプを交換するステップとを含む、使用方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、保守点検方法、保守点検装置および使用方法に関する。
続きを表示（約 1,400 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、光通信システムにおいて、励起用のＬＤ（ＬａｓｅｒＤｉｏｄｅ）を備える光アンプを用いて光信号を増幅する技術が用いられている。たとえば、非特許文献１（木村俊雄、他６名、“光アンプ励起用２５０ｍＷ１４８０ｎｍＬＤモジュール”、古河電工時報、古河電気工業株式会社、平成１２年１月、第１０５号、ｐ．１９－２３）には、光アンプにおけるＬＤの劣化を考慮して、製品の初期におけるＬＤ駆動電流値の１．２倍をＥＯＬ（ＥｎｄＯｆＬｉｆｅ）駆動電流と定義することが記載されている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００３】
木村俊雄、他６名、“光アンプ励起用２５０ｍＷ１４８０ｎｍＬＤモジュール”、古河電工時報、古河電気工業株式会社、平成１２年１月、第１０５号、ｐ．１９－２３
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
非特許文献１に記載の技術を超えて、光アンプの劣化を考慮して光アンプをより適切なタイミングで交換することが可能な技術が望まれる。
【０００５】
本開示は、上述の課題を解決するためになされたもので、その目的は、光アンプの劣化を考慮して光アンプをより適切なタイミングで交換することが可能な保守点検方法、保守点検装置および使用方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の保守点検方法は、ＬＤを備える光アンプの保守点検方法であって、複数の前記光アンプにおける前記ＬＤの駆動電流の計測値の時間変化をそれぞれ示す複数の時系列データを取得するステップと、取得した前記複数の時系列データをクラスタリングすることにより、前記複数の光アンプを複数のクラスタに分類するステップと、前記複数の光アンプを分類した前記複数のクラスタのうちの、少なくともいずれか１つの前記クラスタに属する前記光アンプの交換タイミングを決定するステップとを含む。
【０００７】
本開示の一態様は、このような特徴的な処理をステップとする保守点検方法として実現され得るだけでなく、かかる特徴的な処理を実行する処理部を備える保守点検装置として実現され得たり、かかる特徴的な処理のステップをコンピュータに実行させるためのプログラムとして実現され得る。また、本開示の一態様は、保守点検装置の一部または全部を実現する半導体集積回路として実現され得たり、保守点検装置を含む保守点検システムとして実現され得る。
【発明の効果】
【０００８】
本開示によれば、光アンプの劣化を考慮して光アンプをより適切なタイミングで交換することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
図１は、本開示の実施の形態に係る保守点検装置による保守点検の対象である光アンプの構成を示す図である。
図２は、本開示の実施の形態に係る保守点検装置の構成を示す図である。
図３は、本開示の実施の形態に係る保守点検装置における処理部によるクラスタリングの一例を示す図である。
図４は、本開示の実施の形態に係る保守点検システムにおける保守点検処理のシーケンスの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
最初に、本開示の実施形態の内容を列記して説明する。
（【００１１】以降は省略されています）

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