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公開番号
2025018502
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-02-06
出願番号
2023122244
出願日
2023-07-27
発明の名称
ソケット
出願人
株式会社ヨコオ
代理人
個人
,
個人
主分類
H01R
33/76 20060101AFI20250130BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】検査対象物を所定位置に案内するための構造を薄くする。
【解決手段】検査対象物と接触するコンタクタと、前記検査対象物の少なくとも一部分を前記コンタクタに対して位置決めするガイド部と、を備え、前記ガイド部は、前記検査対象物と重なる領域に対して部分的に位置している、ソケット。
【選択図】図2
特許請求の範囲
【請求項1】
検査対象物と接触するコンタクタと、
前記検査対象物の少なくとも一部分を前記コンタクタに対して位置決めするガイド部と、
を備え、
前記ガイド部は、前記検査対象物と重なる領域に対して部分的に位置している、ソケット。
続きを表示(約 550 文字)
【請求項2】
前記ガイド部は、前記検査対象物と重なる前記領域の中央部に対して互いに反対側に位置している、請求項1に記載のソケット。
【請求項3】
検査対象物と接触するコンタクタと、
前記検査対象物の少なくとも一部分を前記コンタクタに対して位置決めするガイド部と、
を備え、
前記ガイド部と、前記検査対象物の周囲に位置する所定部材と、が互いに取り付けられている、ソケット。
【請求項4】
前記ガイド部及び前記所定部材は、互いに取り外し可能である、請求項3に記載のソケット。
【請求項5】
検査対象物と接触するコンタクタを備え、
前記コンタクタは、前記検査対象物の少なくとも一部分を案内するレジストを有する、ソケット。
【請求項6】
前記コンタクタは、前記検査対象物と接触する接点部を有し、
前記レジストは、前記接点部を少なくとも部分的に囲んでいる、請求項5に記載のソケット。
【請求項7】
前記レジストは、前記接点部を少なくとも部分的に露出する孔を画定しており、
前記孔の少なくとも一部分の幅が前記検査対象物から離れるにつれて減少している、請求項6に記載のソケット。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、ソケットに関する。
続きを表示(約 1,100 文字)
【背景技術】
【0002】
近年、BGA(Ball Grid Array)等の半導体デバイスの検査に用いられる様々なソケットが開発されている。
【0003】
特許文献1には、ソケットの一例について記載されている。ソケットは、プローブと、プローブが挿通されたハウジングと、ハウジングの上面側に配置された可動台座と、を備えている。可動台座は、検査対象物を収容する凹部を画定している。
【0004】
特許文献2には、ソケットの一例について記載されている。ソケットは、コンタクトシートを備えている。コンタクトシートの上面側には、半導体チップの接触端子に接触する接触端子が設けられている。接触端子の外周部には、半導体チップの接触端子を案内するガイドが設けられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
特開2023-36137号公報
特開2000-30828号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
ソケットは、半導体デバイス等の検査対象物を所定位置に案内するための構造を有することがある。半導体デバイスの高速化によって、プローブの短尺化やコンタクタの薄膜化が要請されることがある。プローブの短尺化やコンタクタの薄膜化によって、検査対象物を所定位置に案内するための構造を薄くすることが要請されることがある。
【0007】
本発明の目的の一例は、検査対象物を所定位置に案内するための構造を薄くすることにある。本発明の他の目的は、本明細書の記載から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明の一態様は、
検査対象物と接触するコンタクタと、
前記検査対象物の少なくとも一部分を前記コンタクタに対して位置決めするガイド部と、
を備え、
前記ガイド部は、前記検査対象物と重なる領域に対して部分的に位置している、ソケットである。
【0009】
本発明の一態様は、
検査対象物と接触するコンタクタと、
前記検査対象物の少なくとも一部分を前記コンタクタに対して位置決めするガイド部と、
を備え、
前記ガイド部と、前記検査対象物の周囲に位置する所定部材と、が互いに取り付けられている、ソケットである。
【0010】
本発明の一態様は、
検査対象物と接触するコンタクタを備え、
前記コンタクタは、前記検査対象物の少なくとも一部分を案内するレジストを有する、ソケットである。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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