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公開番号
2025049851
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-04-04
出願番号
2023158311
出願日
2023-09-22
発明の名称
弾性波デバイス、及び、その製造方法
出願人
三安ジャパンテクノロジー株式会社
代理人
個人
主分類
H03H
9/145 20060101AFI20250327BHJP(基本電子回路)
要約
【課題】WLP構造の弾性波デバイスにおいてモールド圧力に対する一定の耐性を持ちながら可及的に低背化可能な新しい構造と、その製造方法の提供。
【解決手段】一面2aに複数の機能素子3と、機能素子3よりも厚さを大きくする厚膜配線4と、機能素子3及び厚膜配線4の形成領域を囲繞すると共に厚膜配線4と厚さを等しくする囲繞金属層5とを備えてなるデバイスチップ2と、 厚膜配線4及び囲繞金属層5上に形成された絶縁性材料又は高抵抗材料よりなる薄膜層6と、薄膜層6を介して厚膜配線4及び囲繞金属層5上に接合されると共に、デバイスチップ2及び囲繞金属層5と共働して機能素子3を気密封止する封止空間9を形成するルーフ基板7とを備える。ルーフ基板7を、高抵抗シリコン、セラミック又はガラスから構成させている。
【選択図】図2
特許請求の範囲
【請求項1】
一面に少なくともIDT電極を含む複数の機能素子と、前記機能素子よりも厚さを大きくする厚膜配線と、前記機能素子及び前記厚膜配線の形成領域を囲繞すると共に前記厚膜配線と厚さを等しくする囲繞金属層とを備えてなるデバイスチップと、
前記厚膜配線及び前記囲繞金属層上に形成された絶縁性材料又は高抵抗材料よりなる薄膜層と、
前記薄膜層を介して前記厚膜配線及び前記囲繞金属層上に接合されると共に、前記デバイスチップ及び前記囲繞金属層と共働して前記機能素子を気密封止する封止空間を形成するルーフ基板とを備えてなり、
前記ルーフ基板を、高抵抗シリコン、セラミック又はガラスから構成させてなる、弾性波デバイス。
続きを表示(約 610 文字)
【請求項2】
前記薄膜層をシリコンから構成すると共に、
前記薄膜層における前記ルーフ基板に接する面、及び、前記ルーフ基板における前記薄膜層に接する面の表面粗さをいずれもRa0.0001nm以上0.5nm以下としてなる、請求項1に記載の弾性波デバイス。
【請求項3】
前記ルーフ基板の厚さを、前記デバイスチップの他面と前記厚膜配線及び前記囲繞金属層における前記薄膜層に接する面との間の距離の2倍以上とさせてなる、請求項1に記載の弾性波デバイス。
【請求項4】
前記デバイスチップの前記一面の面積に占める前記厚膜配線及び前記囲繞金属層の形成領域の面積の割合が25%以上60%以下となるようにしてなる、請求項1に記載の弾性波デバイス。
【請求項5】
請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の弾性波デバイスの製造方法であって、
前記デバイスチップとなるウエハの一面上に前記機能素子、前記厚膜配線、前記囲繞金属層を形成させる第1ステップと、
前記第1ステップ後に前記薄膜層を形成させる第2ステップと、
前記第2ステップ後に前記ルーフ基板となる集合基板の一面を前記薄膜層に接合させる第3ステップと、
前記第3ステップ後に、前記ウエハの他面に対する研削によって前記ウエハを薄板化させる第4ステップとを含む、弾性波デバイスの製造方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
この発明は、モバイル通信機器などにおいて周波数フィルタなどとして使用するのに適した弾性波デバイスの改良に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
WLP(Wafer Level Package)構造を有する弾性波(Surface Acoustic Wave/SAW)デバイスは、特許文献1に示される構造を持つ。
この特許文献1のものは、デバイスチップの一面上に樹脂製のカバーを設けると共に、このカバーにより形成された内部空間内に前記一面に形成させたIDT電極が位置されるようになっている。
【0003】
この種の弾性波デバイスにおいては、低背化の要請がある。
また、この種の弾性波デバイスには、他のデバイスと一緒にモジュールを構成するときに、モジュール基板上に形成される封止樹脂のモールド圧力に対する一定の耐性が求められる。
また、この種の弾性波デバイスには、TCF特性(周波数温度特性)の向上、および、放熱性の向上が求められる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2002-217673号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
この発明が解決しようとする主たる問題点は、この種のWLP構造の弾性波デバイスにおいて、前記モールド圧力に対する一定の耐性を持ちながら可及的に低背化でき、かつ、TCF特性、および、放熱性も合理的に向上可能な新しい構造と、その製造方法を提供する点にある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
前記課題を達成するために、この発明にあっては、第一の観点から、弾性波デバイスを、
一面に少なくともIDT電極を含む複数の機能素子と、前記機能素子よりも厚さを大きくする厚膜配線と、前記機能素子及び前記厚膜配線の形成領域を囲繞すると共に前記厚膜配線と厚さを等しくする囲繞金属層とを備えてなるデバイスチップと、
前記厚膜配線及び前記囲繞金属層上に形成された絶縁性材料又は高抵抗材料よりなる薄膜層と、
前記薄膜層を介して前記厚膜配線及び前記囲繞金属層上に接合されると共に、前記デバイスチップ及び前記囲繞金属層と共働して前記機能素子を気密封止する封止空間を形成するルーフ基板とを備えてなり、
前記ルーフ基板を、高抵抗シリコン、セラミック又はガラスから構成させてなる、ものとした。
【0007】
前記薄膜層をシリコンから構成すると共に、
前記薄膜層における前記ルーフ基板に接する面、及び、前記ルーフ基板における前記薄膜層に接する面の表面粗さをいずれもRa0.0001nm以上0.5nm以下とすることが、この発明の態様の一つとされる。
【0008】
また、前記ルーフ基板の厚さを、前記デバイスチップの他面と前記厚膜配線及び前記囲繞金属層における前記薄膜層に接する面との間の距離の2倍以上とさせることが、この発明の態様の一つとされる。
【0009】
また、前記デバイスチップの前記一面の面積に占める前記厚膜配線及び前記囲繞金属層の形成領域の面積の割合が25%以上60%以下となるようにすることが、この発明の態様の一つとされる。
【0010】
また、前記課題を達成するために、この発明にあっては、第二の観点から、弾性波デバイスの製造方法を、
前記弾性波デバイスの製造方法であって、
前記デバイスチップとなるウエハの一面上に前記機能素子、前記厚膜配線、前記囲繞金属層を形成させる第1ステップと、
前記第1ステップ後に前記薄膜層を形成させる第2ステップと、
前記第2ステップ後に前記ルーフ基板となる集合基板の一面を前記薄膜層に接合させる第3ステップと、
前記第3ステップ後に、前記ウエハの他面に対する研削によって前記ウエハを薄板化させる第4ステップとを含む、ものとした。
【発明の効果】
(【0011】以降は省略されています)
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