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公開番号
2025025244
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-02-21
出願番号
2023129839
出願日
2023-08-09
発明の名称
半導体装置
出願人
ルネサスエレクトロニクス株式会社
代理人
個人
主分類
H03M
1/08 20060101AFI20250214BHJP(基本電子回路)
要約
【課題】誘電緩和現象によって生じる誤差を抑制して、精度良く動作することが可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】半導体装置は、第1容量素子と、サンプリング時に、第1入力電圧に対応する第1電圧を生成して第1容量素子の一端に印加し、ホールド時に、生成した第1電圧を保持しつつ第1容量素子の一端に印加する信号キャンセル回路と、サンプリング時に、第1入力電圧をサンプリングし、ホールド時に、サンプリングした第1入力電圧に対応する第2電圧を保持しつつ第1容量素子の他端に印加するサンプリング回路と、ホールド時に、第1容量素子の他端の電圧に応じた出力信号を生成し、且つ、フィードバック信号を第1容量素子の一端に印加する、ネガティブフィードバック回路と、入力電圧のAD変換を行うADコンバータと、ネガティブフィードバック回路の出力信号とADコンバータの出力信号との加減算を行う加減算回路と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
第1容量素子と、
サンプリングモードにおいて、第1入力電圧に対応する第1電圧を生成して前記第1容量素子の一端に印加し、サンプリングモード後のホールドモードにおいて、生成した前記第1電圧を保持しつつ前記第1容量素子の一端に印加する信号キャンセル回路と、
サンプリングモードにおいて、前記第1入力電圧をサンプリングし、ホールドモードにおいて、サンプリングした前記第1入力電圧に対応する第2電圧を保持しつつ前記第1容量素子の他端に印加するサンプリング回路と、
ホールドモードにおいて、前記第1容量素子の他端の電圧に応じた出力信号を生成するとともに、当該出力信号に対応するフィードバック信号を前記第1容量素子の一端に印加する、ネガティブフィードバック回路と、
前記第1入力電圧に対してAD変換を行う第1ADコンバータと、
前記ネガティブフィードバック回路の出力信号と、前記第1ADコンバータの出力信号と、の加減算を行って、その結果を出力する加減算回路と、
を備えた、半導体装置。
続きを表示(約 2,200 文字)
【請求項2】
前記サンプリング回路は、
一端が前記第1容量素子の他端に接続された第2容量素子と、
サンプリングモードにおいて、前記第1入力電圧を前記第2容量素子の他端に印加し、ホールドモードにおいて、前記第1入力電圧を前記第2容量素子において保持させる、第1スイッチと、
ホールドモードにおいて、前記第2容量素子の他端の電圧を基準電圧に遷移させることにより、前記第2容量素子の一端の電圧を前記第2電圧に遷移させる、第2スイッチと、
を有する、
請求項1に記載の半導体装置。
【請求項3】
前記信号キャンセル回路は、
前記第1入力電圧を反転させた電圧を生成する第1反転回路と、
サンプリングモードにおいて、前記第1入力電圧をサンプリングし、ホールドモードにおいて、サンプリングした前記第1入力電圧を保持しつつデジタル信号に変換するサブADコンバータと、
前記サブADコンバータの出力信号を反転させて出力する第2反転回路と、
前記第2反転回路の出力信号をアナログ電圧に変換するサブDAコンバータと、
サンプリングモードでは、前記第1反転回路によって生成された電圧を選択して前記第1電圧として出力し、ホールドモードでは、前記サブADコンバータから出力されたアナログ電圧を選択して前記第1電圧として出力する、選択回路と、
を備えた、
請求項2に記載の半導体装置。
【請求項4】
前記第1ADコンバータは、前記サブADコンバータによって構成されている、
請求項3に記載の半導体装置。
【請求項5】
前記サブDAコンバータは、
複数のサブ容量素子と、
前記複数のサブ容量素子のそれぞれに対応して設けられた複数のサブスイッチと、
を有し、
前記複数のサブ容量素子は、前記第1容量素子としても用いられる、
請求項3に記載の半導体装置。
【請求項6】
前記信号キャンセル回路は、サンプリングモードを構成する第1サンプリングモード及び第2サンプリングモードのうち第1サンプリングモードでは、コモン電圧又はその反転電圧を前記第1電圧として前記第1容量素子の一端に印加し、第2サンプリングモードでは、前記第1入力電圧を反転させた電圧を前記第1電圧として前記第1容量素子の一端に印加するように構成され、
前記サンプリング回路は、第1サンプリングモードでは、前記コモン電圧を前記第2容量素子の他端に印加し、第2サンプリングモードでは、前記第1入力電圧を前記第2容量素子の他端に印加するように構成される、
請求項2に記載の半導体装置。
【請求項7】
前記信号キャンセル回路は、前記第1容量素子及び前記第2容量素子のそれぞれの容量値に応じた振幅の前記第1電圧、を生成する、
請求項2に記載の半導体装置。
【請求項8】
前記ネガティブフィードバック回路は、
前記第1容量素子の他端の電圧が一方の入力端子に供給され、且つ、基準電圧が他方の入力端子に供給された、コンパレータと、
前記コンパレータの比較結果に応じたデジタルの出力信号を生成する逐次比較レジスタ回路と、
前記逐次比較レジスタ回路によって生成された出力信号をアナログ電圧に変換して前記フィードバック信号として出力するDAコンバータと、
を備え、
前記加減算回路は、前記逐次比較レジスタ回路によって生成された出力信号と、前記第1ADコンバータの出力信号と、の加減算を行って、その結果を出力する、
請求項2に記載の半導体装置。
【請求項9】
前記ネガティブフィードバック回路は、
前記第1容量素子の他端の電圧が一方の入力端子に供給され、且つ、基準電圧が他方の入力端子に供給された、コンパレータと、
前記コンパレータの比較結果に応じたデジタルの出力信号を生成する逐次比較レジスタ回路と、
を備え、
前記ネガティブフィードバック回路は、前記サブDAコンバータを用いて、前記逐次比較レジスタ回路によって生成された出力信号をアナログ電圧に変換して前記フィードバック信号として出力し、
前記加減算回路は、前記逐次比較レジスタ回路によって生成された出力信号と、前記第1ADコンバータの出力信号と、の加減算を行って、その結果を出力する、
請求項3に記載の半導体装置。
【請求項10】
前記ネガティブフィードバック回路の出力信号に対してAD変換を行う第2ADコンバータをさらに備え、
前記ネガティブフィードバック回路は、
前記第1容量素子の他端の電圧と基準電圧との電位差に応じた出力信号及びそれに対応する前記フィードバック信号を生成するオペアンプを備え、
前記加減算回路は、前記第2ADコンバータの出力信号と、前記第1ADコンバータの出力信号と、の加減算を行って、その結果を出力する、
請求項2に記載の半導体装置。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、半導体装置に関し、例えば、誘電緩和現象によって生じる誤差を抑制して、精度良く動作することが可能な半導体装置に関する。
続きを表示(約 2,300 文字)
【背景技術】
【0002】
特許文献1には、誘電緩和現象によって生じるAD変換の誤差を抑制する、電荷再分配式の逐次比較型のAD変換回路が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2020-107985号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献1に開示された電荷再分配式の逐次比較型のAD変換回路に限られず、サンプリング用の容量素子とDA変換用の容量素子とが分離したAD変換回路、及び、トッププレートサンプリング型のAD変換回路などにも、誘電緩和現象によって生じる誤差を抑制して、精度良く動作することが求められている。
【0005】
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の一態様にかかる半導体装置は、第1容量素子と、サンプリングモードにおいて、第1入力電圧に対応する第1電圧を生成して前記第1容量素子の一端に印加し、サンプリングモード後のホールドモードにおいて、生成した前記第1電圧を保持しつつ前記第1容量素子の一端に印加する信号キャンセル回路と、サンプリングモードにおいて、前記第1入力電圧をサンプリングし、ホールドモードにおいて、サンプリングした前記第1入力電圧に対応する第2電圧を保持しつつ前記第1容量素子の他端に印加するサンプリング回路と、ホールドモードにおいて、前記第1容量素子の他端の電圧に応じた出力信号を生成するとともに、当該出力信号に対応するフィードバック信号を前記第1容量素子の一端に印加する、ネガティブフィードバック回路と、前記第1入力電圧に対してAD変換を行う第1ADコンバータと、前記ネガティブフィードバック回路の出力信号と、前記第1ADコンバータの出力信号と、の加減算を行って、その結果を出力する加減算回路と、を備える。
【発明の効果】
【0007】
本開示は、誘電緩和現象によって生じる誤差を抑制して、精度良く動作することが可能な半導体装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
図1は、実施の形態1に係る半導体装置の構成例を示す回路図である。
図2は、図1に示す半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。
図3は、実施の形態1に係る半導体装置の第1変形例を示す回路図である。
図4は、図3に示す半導体装置の具体例を示す回路図である。
図5は、実施の形態1に係る半導体装置の第2変形例を示す回路図である。
図6は、図5に示す半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。
図7は、実施の形態1に係る半導体装置の第3変形例を示す回路図である。
図8は、実施の形態2に係る半導体装置の構成例を示す回路図である。
図9は、図8に示す半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。
図10は、実施の形態2に係る半導体装置の第1変形例を示す回路図である。
図11は、図10に示す半導体装置の具体例を示す回路図である。
図12は、実施の形態2に係る半導体装置の第2変形例を示す回路図である。
図13は、図12に示す半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。
図14は、実施の形態3に係る半導体装置の構成例を示す回路図である。
図15は、図14に示す半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。
図16は、実施の形態3に係る半導体装置の第1変形例を示す回路図である。
図17は、事前検討された半導体装置の第1の構成例を示す回路図である。
図18は、図17に示す半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。
図19は、誘電緩和現象を持つ容量素子Csの等価回路を示す図である。
図20は、事前検討された半導体装置の第2の構成例を示す回路図である。
図21は、図20に示す半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。
図22は、事前検討された半導体装置の第3の構成例を示す回路図である。
図23は、図22に示す半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。
図24は、事前検討された半導体装置の第4の構成例を示す回路図である。
図25は、図24に示す半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、図面を参照しつつ、実施の形態について説明する。なお、図面は簡略的なものであるから、この図面の記載を根拠として実施の形態の技術的範囲を狭く解釈してはならない。また、同一の要素には、同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
【0010】
以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明する。ただし、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、応用例、詳細説明、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態において、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でもよい。
(【0011】以降は省略されています)
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