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公開番号
2025043049
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-03-28
出願番号
2023150344
出願日
2023-09-15
発明の名称
基板剥離装置、基板剥離方法及び半導体装置の製造方法
出願人
キオクシア株式会社
代理人
弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類
H01L
21/02 20060101AFI20250321BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】基板を適切に剥離できる基板剥離装置、基板剥離方法及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】一つの実施形態によれば、吸着ステージと光源とを有する基板剥離装置が提供される。吸着ステージには、複数の基板の接合体が吸着される。吸着ステージは、第1の領域と第2の領域とを含む。第2の領域は、第1の領域より内側である。光源は、レーザー光を第1の領域及び第2の領域へ向けて順に照射可能である。吸着ステージは、第2の領域における接合体の吸着力が第1の領域における接合体の吸着力より弱い。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
複数の基板の接合体が吸着され、第1の領域と前記第1の領域より内側の第2の領域とを含む吸着ステージと、
レーザー光を前記第1の領域及び前記第2の領域へ向けて順に照射可能である光源と、
を備え、
前記吸着ステージは、
前記第2の領域における前記接合体の吸着力が前記第1の領域における前記接合体の吸着力より弱い
基板剥離装置。
続きを表示(約 1,700 文字)
【請求項2】
前記吸着ステージは、
前記第1の領域に配される平坦面と前記第2の領域に配され前記平坦面から隆起した凸面とを含む主面を有するステージベースを含む、
請求項1に記載の基板剥離装置。
【請求項3】
前記吸着ステージは、前記第2の領域に対応する空間の圧力が前記第1の領域に対応する空間の圧力より高い、
請求項1に記載の基板剥離装置。
【請求項4】
前記ステージベースは、前記第1の領域で前記主面から前記主面の反対側の底面まで延びる穴を有する、
請求項2に記載の基板剥離装置。
【請求項5】
前記吸着ステージは、
前記平坦面に配され、それぞれが第1の高さを有する複数の第1のピンと、
前記凸面に配され、それぞれが前記第1の高さを有する複数の第2のピンと、
前記平坦面の外周側に配され、前記第1の高さを有する隔壁と、
を有する、
請求項4に記載の基板剥離装置。
【請求項6】
前記吸着ステージは、
前記第1の領域及び前記第2の領域に配される主面と前記第1の領域で前記主面から前記主面の反対側の底面まで延びる穴とを含むステージベースと、
前記第1の領域で前記主面に配され、それぞれが第1の高さを有する複数の第1のピンと、
前記第2の領域で前記主面に配され、それぞれが前記第1の高さを有する複数の第2のピンと、
前記第1の領域の外周側で前記主面に配され、前記第1の高さを有する第1の隔壁と、
前記第1の領域と前記第2の領域との境界で前記主面に配され、前記第1の高さを有する第2の隔壁と、
を有する
請求項1に記載の基板剥離装置。
【請求項7】
前記第2の領域の最大平面幅は、10mm以下である
請求項2に記載の基板剥離装置。
【請求項8】
前記第2の領域の最大平面幅は、50mm以下である
請求項6に記載の基板剥離装置。
【請求項9】
第1の基板を用意し、
前記第1の基板に第1の膜を積層し、
第2の基板に第2の膜を積層し、
前記第1の膜における前記第1の基板とは反対側の主面と前記第2の膜における前記第2の基板とは反対側の主面とを接合して接合体を形成し、
前記接合体を吸着ステージに吸着した状態で前記接合体に対して前記第1の基板の側からレーザー光を照射し、
前記接合体から前記第1の基板を剥離する、
ことを備え、
前記吸着ステージは、第1の領域と前記第1の領域より内側の第2の領域とを含み、前記第2の領域における前記接合体の吸着力が前記第1の領域における前記接合体の吸着力より弱く、
前記照射は、
前記第1の領域に向けて前記レーザー光を照射することと、
前記第1の領域の照射の後に、前記第2の領域に向けて前記レーザー光を照射することと、
を含む
基板剥離方法。
【請求項10】
第1の基板を用意し、
前記第1の基板に第1の膜を積層し、
第2の基板に第2の膜を積層し、
前記第1の膜における前記第1の基板とは反対側の主面と前記第2の膜における前記第2の基板とは反対側の主面とを接合して接合体を形成し、
前記接合体を吸着ステージに吸着した状態で前記接合体に対して前記第1の基板の側からレーザー光を照射し、
前記接合体から前記第1の基板を剥離する、
ことを備え、
前記吸着ステージは、第1の領域と前記第1の領域より内側の第2の領域とを含み、
前記照射は、
前記第1の領域に向けて第1のエネルギーで前記レーザー光を照射することと、
前記第1の領域の照射の後に、前記第2の領域に向けて前記第1のエネルギーより小さい第2のエネルギーで前記レーザー光を照射することと、
を含む
基板剥離方法。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本実施形態は、基板剥離装置、基板剥離方法及び半導体装置の製造方法に関する。
続きを表示(約 2,000 文字)
【背景技術】
【0002】
半導体装置を製造する際に、2つの基板を接合し、その後、レーザー光を照射することで2つの基板のうち一方の基板を剥離(レーザー剥離)することがある。このレーザー剥離を行う基板剥離装置において、基板が適切に剥離されることが望まれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2018-190826号公報
特開2018-026415号公報
特許第6727069号公報
特開2023-036132号公報
国際公開第2023/032706号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
一つの実施形態は、基板を適切に剥離できる基板剥離装置、基板剥離方法及び半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
一つの実施形態によれば、吸着ステージと光源とを有する基板剥離装置が提供される。吸着ステージには、複数の基板の接合体が吸着される。吸着ステージは、第1の領域と第2の領域とを含む。第2の領域は、第1の領域より内側である。光源は、レーザー光を第1の領域及び第2の領域へ向けて順に照射可能である。吸着ステージは、第2の領域における接合体の吸着力が第1の領域における接合体の吸着力より弱い。
【図面の簡単な説明】
【0006】
第1の実施形態にかかる基板剥離装置の概略構成を示す図。
第1の実施形態における吸着ステージの構成を示す断面図。
第1の実施形態における吸着ステージの構成を示す平面図。
第1の実施形態における吸着ステージの中心付近の構成を示す拡大断面図。
第1の実施形態における吸着ステージの中心付近の構成を示す拡大平面図。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示すフローチャート。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示す断面図。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示す拡大断面図。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示す断面図。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示す拡大断面図。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示す平面図。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示す断面図。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示す断面図。
第1の実施形態の変形例における応力の緩和を示す断面図。
第1の実施形態の変形例における応力の緩和を示す拡大断面図。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示す断面図。
第1の実施形態の変形例における半導体装置の製造方法を示す拡大断面図。
第2の実施形態にかかる基板剥離装置の概略構成を示す図。
第2の実施形態における吸着ステージの構成を示す断面図。
第2の実施形態における吸着ステージの構成を示す平面図。
第2の実施形態における中心領域の構成を示す断面図。
第2の実施形態における中心領域の構成を示す拡大平面図。
第2の実施形態の変形例における応力の緩和を示す断面図。
第2の実施形態の変形例における応力の緩和を示す拡大断面図。
第3の実施形態における半導体装置の製造方法を示す平面図。
第3の実施形態における半導体装置の製造方法を示す断面図。
【発明を実施するための形態】
【0007】
以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる基板剥離装置を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
【0008】
(第1の実施形態)
第1の実施形態にかかる基板剥離装置は、半導体装置の製造における接合された2つの基板のうち一方の基板をレーザー光の照射で剥離すること(レーザー剥離)に用いられるが、基板を適切に剥離するための工夫が施される。
【0009】
基板剥離装置1は、図1に示すように構成され得る。図1は、基板剥離装置1の概略構成を示す図である。
【0010】
基板剥離装置1は、吸着ステージ10、レーザーモジュール20、駆動機構30、駆動機構40、排気装置50及びコントローラ60を有する。以下では、吸着ステージ10の底面10bに垂直な方向をZ方向とし、Z方向に垂直な面内で互いに直交する2方向をX方向及びY方向とする。
(【0011】以降は省略されています)
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