TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
10個以上の画像は省略されています。
公開番号
2025042859
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-03-28
出願番号
2023150036
出願日
2023-09-15
発明の名称
発光素子および発光素子の製造方法
出願人
豊田合成株式会社
代理人
弁理士法人あいち国際特許事務所
主分類
H10H
20/831 20250101AFI20250321BHJP()
要約
【課題】光取り出し効率の高い発光素子を提供する。
【解決手段】フリップチップ型で紫外発光の発光素子1は、p型層(p型コンタクト層15)上に設けられ、Ru、Rhまたはそれらを主成分とする合金からなりp型層に接する層を含み、発光波長の紫外光を透過する厚さに設定されたp側電極17と、p側電極17上の一部領域に接してドット状に設けられ、エッチングに対して耐性を示す導電性材料を含むエッチングストップ層18Bと、p側電極17およびエッチングストップ層18B上に接して設けられ、発光波長の紫外光を反射するDBR層19と、DBR層19のうちエッチングストップ層18B上の領域に設けられ、DBR層19を貫通して底面にエッチングストップ層18Bが露出する孔25と、DBR層19上に設けられ、孔25を介してエッチングストップ層18Bと接続する第2のp側電極(p側パッド電極22)と、を有する。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
フリップチップ型で紫外発光の発光素子において、
n型のIII族窒化物半導体からなるn型層と、
前記n型層上に設けられたIII族窒化物半導体からなる活性層と、
前記活性層上に設けられたp型のIII族窒化物半導体からなるp型層と、
前記p型層上に設けられ、Ru、Rh、またはそれらを主成分とする合金からなり前記p型層に接する層を含み、発光波長の紫外光を透過する厚さに設定されたp側電極と、
前記p側電極上の一部領域に接してドット状に設けられ、エッチングに対して耐性を示す導電性材料を含むエッチングストップ層と、
前記p側電極およびエッチングストップ層上に接して設けられ、発光波長の紫外光を反射する絶縁性のDBR層と、
前記DBR層のうち前記エッチングストップ層上の領域に設けられ、前記DBR層を貫通して底面に前記エッチングストップ層が露出する孔と、
前記DBR層上に設けられ、前記孔を介して前記エッチングストップ層と接続する第2のp側電極と、
を有する発光素子。
続きを表示(約 1,200 文字)
【請求項2】
前記DBR層上に接して設けられ、Al、Mgまたはそれらを主成分とする合金からなる反射層をさらに有する、請求項1に記載の発光素子。
【請求項3】
前記エッチングストップ層全体の面積は、前記p側電極の面積に対して1%以上60%以下である、請求項1に記載の発光素子。
【請求項4】
前記エッチングストップ層は多層膜であり、前記p型層と接する層はAlまたはAlを主成分とする合金からなる層である、請求項1または請求項2に記載の発光素子。
【請求項5】
前記エッチングストップ層は、複数のドットが配列されたパターン、または複数の配列されたドットと延伸部を有したパターンである、請求項1または請求項2に記載の発光素子。
【請求項6】
前記エッチングストップ層の前記ドットの直径は、前記孔の直径の1.2倍以上1.5倍以下である、請求項5に記載の発光素子。
【請求項7】
隣接する前記ドット間の距離は、前記孔の直径の1倍以上6倍以下である、請求項5に記載の発光素子。
【請求項8】
前記エッチングに対して耐性を示す導電性材料は、Ti、TiN、Ni、AlまたはPtである、請求項1または請求項2に記載の発光素子。
【請求項9】
発光波長は210~280nmである、請求項1または請求項2に記載の発光素子。
【請求項10】
フリップチップ型で紫外発光の発光素子の製造方法において、
n型のIII族窒化物半導体からなるn型層を形成するn型層形成工程と、
前記n型層上に、III族窒化物半導体からなる活性層を形成する活性層形成工程と、
前記活性層上に、p型のIII族窒化物半導体からなるp型層を形成するp型層形成工程と、
前記p型層上に接するように、Ru、Rh、またはそれらを主成分とする合金からなり前記p型層に接する層を含み、発光波長の紫外光を透過する厚さのp側電極を形成するp側電極形成工程と、
前記p側電極上の一部領域に接するように、エッチングに対して耐性を示す導電性材料を含むエッチングストップ層をドット状に形成するエッチングストップ層形成工程と、
前記p側電極およびエッチングストップ層上に接するように、発光波長の紫外光を反射する絶縁性のDBR層を形成するDBR層形成工程と、
前記DBR層のうち前記エッチングストップ層上の領域に、前記DBR層を貫通して底面に前記エッチングストップ層が露出するまでエッチングして孔を形成する孔形成工程と、
前記DBR層上に、前記孔を介して前記エッチングストップ層と接続する第2のp側電極を形成する第2のp側電極形成工程と、
を有する発光素子の製造方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、発光素子および発光素子の製造方法に関する。
続きを表示(約 2,200 文字)
【背景技術】
【0002】
III族窒化物半導体を用いた固体発光素子の紫外光の波長は約210~400nmの範囲の波長帯に対応している。一方、UVC(波長100~280nm)は効率的に殺菌、除菌できることが知られており、水や空気などの殺菌、消毒に使用することが注目されている。そのため、発光波長がUVCに対応する紫外光を放射するIII族窒化物半導体発光素子の需要が高まっており、高効率化に向けた研究、開発が盛んに行われている。
【0003】
特許文献1には、深紫外光を発するフリップチップ型の発光素子において、Rhからなるp側電極の側面と上面を覆うようにTiNからなるp側電極被覆層を設けることが記載されている。そして、このp側電極被覆層は、保護層をドライエッチングする際のエッチングストップ層として機能することが記載されている。
【0004】
特許文献2には、深紫外光を発するフリップチップ型の発光素子において、p側コンタクト電極として、p型層側から順に、Rh層、Al層、Ti層、TiN層を積層させた構造が記載されている。このうちTiN層は、保護層をドライエッチングする際のエッチングストップ層として機能することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
特開2021-72376号公報
特開2022-30948号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
特許文献1、2ではp型コンタクト電極をRhとすることによって基板側に深紫外光を反射させているが、反射率は十分に高いとは言えなかった。そのため、深紫外光の反射率をより高め、光取り出し効率の向上を図ることが求められていた。
【0007】
本発明は、かかる背景に鑑みてなされたものであり、光取り出し効率の高い発光素子を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明の一態様は、
フリップチップ型で紫外発光の発光素子において、
n型のIII族窒化物半導体からなるn型層と、
前記n型層上に設けられたIII族窒化物半導体からなる活性層と、
前記活性層上に設けられたp型のIII族窒化物半導体からなるp型層と、
前記p型層上に設けられ、Ru、Rh、またはそれらを主成分とする合金からなり前記p型層に接する層を含み、発光波長の紫外光を透過する厚さに設定されたp側電極と、
前記p側電極上の一部領域に接してドット状に設けられ、エッチングに対して耐性を示す導電性材料を含むエッチングストップ層と、
前記p側電極およびエッチングストップ層上に接して設けられ、発光波長の紫外光を反射する絶縁性のDBR層と、
DBR層のうち前記エッチングストップ層上の領域に設けられ、前記DBR層を貫通して底面に前記エッチングストップ層が露出する孔と、
DBR層上に設けられ、前記孔を介して前記エッチングストップ層と接続する第2のp側電極と、
を有する発光素子にある。
【0009】
本発明の他の態様は、
フリップチップ型で紫外発光の発光素子の製造方法において、
n型のIII族窒化物半導体からなるn型層を形成するn型層形成工程と、
前記n型層上に、III族窒化物半導体からなる活性層を形成する活性層形成工程と、
前記活性層上に、p型のIII族窒化物半導体からなるp型層を形成するp型層形成工程と、
前記p型層上に、Ru、Rh、またはそれらを主成分とする合金からなり前記p型層に接する層を含み、発光波長の紫外光を透過する厚さのp側電極を形成するp側電極形成工程と、
前記p側電極上の一部領域に接するように、エッチングに対して耐性を示す導電性材料を含むエッチングストップ層をドット状に形成するエッチングストップ層形成工程と、
前記p側電極およびエッチングストップ層上に接するように、発光波長の紫外光を反射する絶縁性のDBR層を形成するDBR層形成工程と、
DBR層のうち前記エッチングストップ層上の領域に、前記DBR層を貫通して底面に前記エッチングストップ層が露出するまでエッチングして孔を形成する孔形成工程と、
DBR層上に、前記孔を介して前記エッチングストップ層と接続する第2のp側電極を形成する第2のp側電極形成工程と、
を有する発光素子の製造方法にある。
【発明の効果】
【0010】
上記態様によれば、p側電極の一部領域上にドット状にエッチストップ層を設けているため、p側電極に対してエッチングストップ層の面積が十分に小さくなる。そのため、エッチングストップ層による紫外光の吸収が少なくなる。また、p側電極とDBR層とが接する面積が広くなり、DBR層によって紫外光を反射率させる面積を広くすることができる。その結果、光取り出し効率の高い発光素子を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
富士電機株式会社
半導体装置
9日前
ホシデン株式会社
検知センサ
15日前
株式会社東芝
受光装置
1日前
株式会社東芝
半導体装置
6日前
株式会社東芝
半導体装置
6日前
株式会社東芝
半導体装置
6日前
株式会社東芝
半導体装置
2日前
株式会社半導体エネルギー研究所
半導体装置
20日前
TDK株式会社
電子部品
9日前
キヤノン株式会社
受信装置
13日前
住友電気工業株式会社
半導体装置
20日前
株式会社半導体エネルギー研究所
発光デバイス
13日前
東洋紡株式会社
光電変換素子およびその製造方法
7日前
日亜化学工業株式会社
発光素子
2日前
株式会社ソシオネクスト
半導体装置
17日前
三菱電機株式会社
半導体装置
8日前
ルネサスエレクトロニクス株式会社
半導体装置
8日前
ルネサスエレクトロニクス株式会社
半導体装置
6日前
キオクシア株式会社
半導体記憶装置
1日前
株式会社半導体エネルギー研究所
半導体装置の作製方法
20日前
保土谷化学工業株式会社
有機エレクトロルミネッセンス素子
9日前
日亜化学工業株式会社
発光装置の製造方法
16日前
日亜化学工業株式会社
発光装置の製造方法
10日前
キヤノン株式会社
発光デバイス
20日前
キオクシア株式会社
記憶装置
9日前
ローム株式会社
フォトダイオード
2日前
三菱電機株式会社
半導体装置、及び、電力変換装置
10日前
シチズン電子株式会社
発光装置
17日前
富士電機株式会社
ワイドバンドギャップ半導体装置
6日前
日本電気株式会社
量子デバイスおよびその製造方法
1日前
シチズン電子株式会社
発光装置
7日前
ローム株式会社
電子部品パッケージ
15日前
キオクシア株式会社
半導体装置
17日前
ローム株式会社
電子部品パッケージ
15日前
キオクシア株式会社
磁気記憶装置
2日前
キオクシア株式会社
半導体装置
17日前
続きを見る
他の特許を見る