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公開番号2024174611
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-12-17
出願番号2023092523
出願日2023-06-05
発明の名称記録装置、記録方法、およびプログラム
出願人キヤノン株式会社
代理人弁理士法人谷・阿部特許事務所
主分類B41J 2/01 20060101AFI20241210BHJP(印刷;線画機;タイプライター;スタンプ)
要約【課題】記録媒体上に記録されたテストチャートが分割して読み取られた場合であっても、適切に記録位置調整を行うこと。
【解決手段】プリントコントローラは、第1の読み取り画像と第2の読み取り画像の各記録素子基板に対応するパッチの代表位置を、各読み取り画像の重複領域に位置する原点からの差分位置情報に変換する。プリントコントローラは、第2の読み取り画像の差分位置情報と伸縮率Kとに基づき、第2の読み取り画像の差分位置情報を伸縮率が1となるように変換する。伸縮率が1となるように変換するとは、第2の読み取り画像における特定のパターン間の距離を第1の読み取り画像の対応する同じ特定のパターン間の距離と等しくなるように変換することを意味する。プリントコントローラは、第1の読み取り画像について、記録素子基板間のずれ量を算出するための基準線の傾きを算出する。
【選択図】図18
特許請求の範囲【請求項１】
記録材を付与する複数の記録素子基板を含む記録手段を１つ又は複数有する記録装置であって、
前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせる読み取り制御手段と、
前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する調整手段と、
を備えることを特徴とする記録装置。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチは、前記読み取り画像対において前記テストチャートの同じ部分を重複して読み取った重複領域に含まれる、
ことを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
前記同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチは、同じ記録手段に含まれる同じ記録素子基板に対応するパッチである、
ことを特徴とする請求項２に記載の記録装置。
【請求項４】
前記調整手段は、前記読み取り画像対の一方における前記パッチの位置情報を前記伸縮率が１になるよう変換し、前記重複領域における前記パッチの位置情報に基づき、前記読み取り画像対の前記パッチの位置情報を結合する、
ことを特徴とする請求項２に記載の記録装置。
【請求項５】
前記調整手段は、前記結合されたパッチの位置情報に基づき前記記録材の付着位置のずれ量を算出し、当該ずれ量に基づき前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する、
ことを特徴とする請求項４に記載の記録装置。
【請求項６】
前記ずれ量は、前記結合されたパッチの位置情報における２つの所定の記録素子基板に対応するパッチの位置を結んだ基準線に基づき算出するずれ量を含む、
ことを特徴とする請求項５に記載の記録装置。
【請求項７】
前記基準線は、同じ記録手段に含まれる異なる２つの記録素子基板に対応するパッチの位置を結んだ線である、
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
【請求項８】
前記基準線を構成する２つのパッチの位置は、共通する１つの座標系の座標点で表される、
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
【請求項９】
前記基準線を構成する２つのパッチの位置は、前記重複領域における所定のパッチの位置からの距離を示す差分として表される、
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
【請求項１０】
前記調整手段は、前記記録手段を複数有する場合、前記基準線の傾きが当該複数の記録手段の傾きの平均と同じになるよう前記基準線を補正する、
ことを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録装置における記録位置を調整するための制御技術に関する。
続きを表示（約 2,500 文字）【背景技術】
【０００２】
記録媒体の幅に相当する記録幅を持つ、いわゆるフルライン型の記録ヘッドを用いる記録装置が知られており、このような記録装置の１つにインクジェット記録装置がある。フルライン型のインクジェット記録装置における記録ヘッドは、複数のノズル列を含む記録素子基板が複数配置され、記録媒体に対して１回相対移動させることにより、記録媒体のほぼ全面に画像を記録できる。フルライン型の記録ヘッドが設けられた記録装置においては、記録ヘッドの取り付け位置や、複数の記録ヘッド間における相対的な取り付け位置に誤差が生じることがある。この誤差は、記録媒体上での記録材の付着位置（インクジェット記録装置ではインク着弾位置）にずれを生じさせ、記録品位の低下要因となる。以下、このような、記録材の付着位置のずれを補正する処理を「記録位置調整」と呼称する。
【０００３】
記録位置調整では、記録媒体上に記録されたテストチャートを、イメージセンサを備えたスキャナ装置を用いて読み取り、読み取った画像からテストチャートに含まれるノズル列、記録素子基板に対応するパッチの位置をまず検出する。そして、それらパターン間の相対的な位置を求め、この相対位置に基づいて記録位置の調整を行う。パッチの位置検出精度を高める方法として、特許文献１には、記録ヘッドの両端部に近い２つの記録素子基板の推定位置を結んだ基準線と各記録素子基板との距離から求めた記録素子基板間のずれ量に基づき記録位置調整を行う方法が開示されている。
【０００４】
フルライン型の記録ヘッドを用いるインクジェット記録装置で大判印刷を行う場合、記録ヘッドは記録媒体に合せて大きくすることになる。記録ヘッドが大きくなると記録位置調整用のテストチャートも大きくなるため、スキャナ装置はテストチャートの大きさに対応した読み取りサイズが必要になる。読み取りサイズの大きいスキャナ装置には、複数のイメージセンサを組み合わせたものもある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
特開２０２０－１７２０８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、特許文献１に記載の技術において複数のイメージセンサを組み合わせたスキャナ装置を用いると、基準線を求めるための記録ヘッドの両端部に近い２つの記録素子基板の位置は、読み取り条件が異なる２つの読み取り画像に基づき推定することになる。その結果、基準線を求めるための２つ記録素子基板の相対的な位置の推定精度が低下して基準線の精度も低下するため、適切に記録位置調整ができなくなる。
【０００７】
そこで本発明は、記録媒体上に記録されたテストチャートが分割して読み取られた場合であっても、適切に記録位置調整を行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、記録材を付与する複数の記録素子基板を含む記録手段を１つ又は複数有する記録装置であって、前記記録手段により記録媒体に印刷された前記記録素子基板それぞれに対応する複数のパッチを含むテストチャートを複数の光学センサで分割して読み取り装置に読み取らせる読み取り制御手段と、前記読み取り装置により前記記録媒体に印刷されたテストチャートを読み取らせて得られた複数の読み取り画像に基づき、当該複数の読み取り画像のうちの２つの読み取り画像からなる読み取り画像対について、同じ記録手段に含まれる記録素子基板に対応するパッチの伸縮率を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した前記伸縮率と、前記複数の読み取り画像における前記パッチの位置情報とに基づき、前記記録手段から付与される記録材の付着位置を調整する調整手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、記録媒体上に記録されたテストチャートが分割して読み取られた場合であっても、適切に記録位置調整を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
インクジェット記録装置の概要図。
スキャナ装置がテストチャートを読み取る際の、スキャナ装置上方側からの俯瞰図。
インクジェット記録装置を制御するためのハードウェア構成を示すブロック図。
ノズル列位置ずれ補正用のパッチを説明するための図。
パターンマッチング用パターンの例を示す図。
スキャナ装置とテストチャートと記録ヘッドとの位置関係を示す図。
ヘッド位置ずれ補正用のテストチャートを説明するための図。
ノズル列間のずれ量を算出する方法を説明するための図。
記録素子基板間のずれ量を算出する方法を説明するための図。
記録ヘッドの傾き量を算出する方法を説明するための図。
記録ヘッド間のずれ量を算出する方法を説明するための図。
記録素子基板に対応したパッチの検知マークの検出を説明するための図。
スキャナ装置の２つのセンサから取得した２つの読み取り画像例を示す図。
本実施形態に係るずれ量算出処理を説明するためのフローチャート。
本実施形態に係るずれ量算出処理１を説明するためのフローチャート。
読み取り画像間の伸縮率を算出するための手順を説明するための図。
本実施形態に係るずれ量算出処理２を説明するためのフローチャート。
本実施形態に係る一方の読み取り画像の各記録素子基板の差分位置情報を対応する伸縮率で補正する手順を説明するための図。
本実施形態に係る基準線を得る手順を説明するための図。
本実施形態に係る基準線の傾きを補正し、第１の読み取り画像上での第２の読み取り画像の各記録素子基板の座標を算出する手順を説明するための図。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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