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公開番号2024091239
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-07-04
出願番号2023101378
出願日2023-06-21
発明の名称フィルムの欠点検査装置及び欠点検査方法
出願人東レ株式会社
代理人
主分類G01N 21/892 20060101AFI20240627BHJP(測定;試験)
要約【課題】フィルムに発生する欠点が容易に弁別可能となる欠点検査装置、欠点検査方法の提供。
【解決手段】光散乱性を持つフィルムに発生する欠点を検出する欠点検査装置であって、前記フィルムを把持する把持部と、前記フィルムの一方の面を照らすように設置された短波長光源および前記フィルムの他方の面から前記光源より照射された光が前記フィルムを透過した透過光を受光するカメラと、前記光源と前記フィルムとの間に設置された第1の偏光板および前記フィルムと前記カメラとの間に前記第1の偏光板の偏光方向と直交する向きで設置された第2の偏光板を有する撮像部と、前記撮像部で得られた画像に対し演算処理を施すことにより欠点種を弁別する画像処理部と、を有する欠点検査装置。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
光散乱性を持つフィルムに発生する欠点を検出する欠点検査装置であって、前記フィルムを把持する把持部と、前記フィルムの一方の面を照らすように設置された短波長光源および前記フィルムの他方の面から前記光源より照射された光が前記フィルムを透過した透過光を受光するカメラと、前記光源と前記フィルムとの間に設置された第１の偏光板および前記フィルムと前記カメラとの間に前記第１の偏光板の偏光方向と直交する向きで設置された第２の偏光板を有する撮像部と、前記撮像部で得られた画像に対し演算処理を施すことにより欠点種を弁別する画像処理部と、を有する欠点検査装置。
続きを表示（約 800 文字）【請求項２】
前記光源から発する光が、波長５００ｎｍ以下の範囲に最も強いピークを有する請求項１に記載の欠点検査装置。
【請求項３】
前記欠点種の弁別が、ピンホール欠点と明欠点の弁別を含む請求項１または２に記載の欠点検査装置。
【請求項４】
前記フィルムがポリオレフィン微多孔膜である請求項１または２に記載の欠点検査装置。
【請求項５】
前記フィルムが電池のセパレータに用いられるフィルムである請求項１または２に記載の欠点検査装置。
【請求項６】
光散乱性を持つフィルムに発生する欠点を検出する欠点検査方法であって、前記フィルムを把持する把持工程と、前記フィルムの一方の面を照らすように設置された短波長光源および前記フィルムの他方の面から前記光源より照射された光が前記フィルムを透過した透過光を受光するカメラと、前記光源と前記フィルムとの間に設置された第１の偏光板および前記フィルムと前記カメラとの間に前記第１の偏光板の偏光方向と直交する向きで設置された第２の偏光板を有する撮像部により前記フィルムを撮像する撮像工程と、前記撮像工程で得られた画像に対し演算処理を施すことにより欠点種を弁別する画像処理工程と、を有する欠点検査方法。
【請求項７】
前記光源から発する光が波長５００ｎｍ以下に最も強いピークを有する請求項６に記載の欠点検査方法。
【請求項８】
前記欠点種の弁別が、ピンホール欠点と明欠点の弁別を含む請求項６または７に記載の欠点検査方法。
【請求項９】
前記フィルムがポリオレフィン微多孔膜である請求項６または７に記載の欠点検査方法。
【請求項１０】
前記フィルムが電池のセパレータに用いられるフィルムである請求項６または７に記載の欠点検査方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、光散乱性を持つフィルムに発生する欠点を検出することが可能なフィルムの欠点検査装置、フィルムの欠点検査方法に関する。
続きを表示（約 1,400 文字）【背景技術】
【０００２】
光散乱性を持つフィルム、例えばポリオレフィン微多孔膜は、製造工程において、搬送時の傷や帯電などにより、膜厚異常や穴あきなどによる欠点が発生する場合がある。
【０００３】
それら欠点が発生した製品の出荷可否を判定するには、インラインでの全数検査により欠点サイズや形状等をモニタし、合否判定を実施する必要がある。
【０００４】
このようなフィルムの欠点を検査する従来技術として、透過光を用いた光学的欠点検査があるが、穴欠点等を分類して検出することは困難である（例えば特許文献１）。
【０００５】
また、上記のような欠点検査方法では膜厚異常部とピンホール部（穴あき部）とで画像上の輝度の差異がなく、同様の欠点として検出されてしまう。これを解決する方法として、偏光板２枚をフィルムを介してクロスニコル（垂直）の配置に設置し、採取した画像を２段階の二値化処理を施すことで暗欠点（ピンホール部（穴あき部））と明欠点（膜厚異常部等）とが弁別可能となる方法が知られている（例えば特許文献２）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
国際公開第２０１８／１６４０５７号
特開平１１－３２６２３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記特許文献２の方法で明暗を弁別する際に暗欠点と明欠点とのコントラストが得られにくく、画像処理が複雑になる課題があった。
【０００８】
本発明は、上述した課題を解消し、フィルムに発生する膜厚異常部と穴あき部とが容易に弁別可能となる欠点検査装置、欠点検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前述した目的を達成するために、本発明に係るフィルム欠点検査装置、フィルム欠点検査方法は下記を特徴としている。
【００１０】
本発明は、光散乱性を持つフィルムに発生する欠点を検出する欠点検査装置であって、前記フィルムを把持する把持部と、前記フィルムの一方の面を照らすように設置された短波長光源および前記フィルムの他方の面から前記光源より照射された光が前記フィルムを透過した透過光を受光するカメラと、前記光源と前記フィルムとの間に設置された第１の偏光板および前記フィルムと前記カメラとの間に前記第１の偏光板の偏光方向と直交する向きで設置された第２の偏光板を有する撮像部と、前記撮像部で得られた画像に対し演算処理を施すことにより欠点種を弁別する画像処理部と、を有する欠点検査装置である。本発明は光散乱性を持つフィルムに発生する欠点を検出する欠点検査方法であって、前記フィルムを把持する把持工程と、前記フィルムの一方の面を照らすように設置された短波長光源および前記フィルムの他方の面から前記光源より照射された光が前記フィルムを透過した透過光を受光するカメラと、前記光源と前記フィルムとの間に設置された第１の偏光板および前記フィルムと前記カメラとの間に前記第１の偏光板の偏光方向と直交する向きで設置された第２の偏光板を有する撮像部により前記フィルムを撮像する撮像工程と、前記撮像工程で得られた画像に対し演算処理を施すことにより欠点種を弁別する画像処理工程と、を有する欠点検査方法である。
（【００１１】以降は省略されています）

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