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公開番号2025174067
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-11-28
出願番号2024080094
出願日2024-05-16
発明の名称検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラム
出願人アンリツ株式会社
代理人弁理士法人日誠国際特許事務所
主分類G01N 21/27 20060101AFI20251120BHJP(測定;試験)
要約【課題】検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを低減することができる検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラムを提供すること。
【解決手段】分光測定装置10によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置11によって参照される検量線を生成する検量線生成装置2であって、真値が既知の複数の物品に対して分光測定装置10によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部20と、複数の物品に対する前処理後の吸収スペクトル及び真値から検量線を算出する検量線算出部22とを備える。前処理部20は、前処理を行う波長範囲を設定する波長範囲設定部31を有する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）であって、
真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部（２０）と、
前記複数の物品に対する前記前処理後の吸収スペクトル及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出部（２２）と、を備え、
前記前処理部は、前記前処理を行う波長範囲を設定する波長範囲設定部（３１）を有する検量線生成装置。
続きを表示（約 860 文字）【請求項２】
前記波長範囲設定部は、前記前処理を行う吸収スペクトルの波長範囲として、前記検量線の評価値が閾値以上となる波長範囲を設定する請求項１に記載の検量線生成装置。
【請求項３】
前記前処理部は、
前記波長範囲設定部によって設定された波長範囲に対する正規化を前記前処理として実行し、
前記正規化を実行するために使用する計算要素を取得する波長範囲を設定する正規化波長範囲設定部を更に有し、
前記正規化波長範囲設定部によって設定された波長範囲の計算要素に基づいて前記正規化を実行する請求項１に記載の検量線生成装置。
【請求項４】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成方法であって、
真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理ステップと、
前記複数の物品に対する前記前処理後の吸収スペクトル及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出ステップと、を有し、
前記前処理ステップは、前記前処理を行う波長範囲を設定する波長範囲設定ステップを有する検量線生成方法。
【請求項５】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線をコンピュータに生成させる検量線生成プログラムであって、
真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理ステップと、
前記複数の物品に対する前記前処理後の吸収スペクトル及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出ステップと、を有し、
前記前処理ステップは、前記前処理を行う波長範囲を設定する波長範囲設定ステップを有する検量線生成プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラムに関する。
続きを表示（約 1,200 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、光源から放たれた光のうち成形品を透過した透過光を信号光としてセンサに入射させ、その信号光を分析することで、成形品の成分が適正であるか否を検査する検査装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１９－１１２１９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載された検査装置は、成形品を透過した不要な波長の信号光を含めて分析してしまうため、検査結果を誤判定してしまうことがあるという課題があった。
【０００５】
本発明は、上述のような事情に鑑みてなされたもので、検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを低減することができる検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る検量線生成装置は、分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）であって、真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部（２０）と、前記複数の物品に対する前記前処理後の吸収スペクトル及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出部（２２）と、を備え、前記前処理部は、前記前処理を行う波長範囲を設定する波長範囲設定部（３１）を有する。
【０００７】
この構成により、本発明に係る検量線生成装置は、真値が既知の複数の物品の吸収スペクトルからばらつきが大きい不要な波長範囲を除いて検量線を生成することができるため、検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを低減することができる。
【０００８】
なお、本発明に係る検量線生成装置において、前記波長範囲設定部は、前記前処理を行う吸収スペクトルの波長範囲として、前記検量線の評価値が閾値以上となる波長範囲を設定するようにしてもよい。
【０００９】
この構成により、本発明に係る検量線生成装置は、前処理を行う吸収スペクトルの波長範囲として、検量線の評価値が閾値以上となる波長範囲を設定するため、検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを低減することができる。
【００１０】
また、本発明に係る検量線生成装置において、前記前処理部は、前記波長範囲設定部によって設定された波長範囲に対する正規化を前記前処理として実行し、前記正規化を実行するために使用する計算要素を取得する波長範囲を設定する正規化波長範囲設定部を更に有し、前記正規化波長範囲設定部によって設定された波長範囲の計算要素に基づいて前記正規化を実行するようにしてもよい。
（【００１１】以降は省略されています）

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