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公開番号2025174068
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-11-28
出願番号2024080095
出願日2024-05-16
発明の名称検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラム
出願人アンリツ株式会社
代理人弁理士法人日誠国際特許事務所
主分類G01N 21/27 20060101AFI20251120BHJP(測定;試験)
要約【課題】検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを防止することができる検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラムを提供すること。
【解決手段】分光測定装置10によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置11によって参照される検量線を生成する検量線生成装置2であって、真値が既知の複数の物品に対して分光測定装置10によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部20と、前処理が行われた複数の吸収スペクトルを教師データとテストデータとに分類する分類部21と、教師データ及び真値から検量線を算出する検量線算出部22とを備える。分類部21は、前処理が行われた各吸収スペクトルから得られる統計値を算出し、統計値を満遍なく網羅するように教師データに分類する吸収スペクトルを選択する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）であって、
真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部（２０）と、
前記前処理が行われた複数の吸収スペクトルを教師データとテストデータとに分類する分類部（２１）と、
前記教師データ及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出部（２２）と、
前記テストデータ及び前記真値から前記検量線を評価する検量線評価部（２３）と、を備え、
前記分類部は、
前記前処理が行われた各吸収スペクトルから得られる統計値を算出し、
前記統計値を満遍なく網羅するように前記教師データに分類する吸収スペクトルを選択する検量線生成装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記統計値は、第１種別の統計値と、第２種別の統計値と、を含み、
前記分類部は、
前記第１種別の統計値を満遍なく網羅するように前記教師データに分類する吸収スペクトルを選択し、
前記複数の吸収スペクトルから前記教師データに分類された吸収スペクトルを除いた吸収スペクトルから、前記第２種別の統計値を満遍なく網羅するように前記教師データに分類する吸収スペクトルを選択する請求項１に記載の検量線生成装置。
【請求項３】
前記統計値は、平均値、最大値、最小値、標準偏差及びレンジのいずれかである請求項１に記載の検量線生成装置。
【請求項４】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成方法であって、
真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理ステップと、
前記前処理が行われた複数の吸収スペクトルを教師データとテストデータとに分類する分類ステップと、
前記教師データ及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出ステップと、
前記テストデータ及び前記真値から前記検量線を評価する検量線評価ステップと、を有し、
前記分類ステップは、
前記前処理が行われた各吸収スペクトルから得られる統計値を算出し、
前記統計値を満遍なく網羅するように前記教師データに分類する吸収スペクトルを選択する検量線生成方法。
【請求項５】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線をコンピュータに生成させる検量線生成プログラムであって、
真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理ステップと、
前記前処理が行われた複数の吸収スペクトルを教師データとテストデータとに分類する分類ステップと、
前記教師データ及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出ステップと、
前記テストデータ及び前記真値から前記検量線を評価する検量線評価ステップと、を有し、
前記分類ステップは、
前記前処理が行われた各吸収スペクトルから得られる統計値を算出し、
前記統計値を満遍なく網羅するように前記教師データに分類する吸収スペクトルを選択する検量線生成プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラムに関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、光源から放たれた光のうち成形品を透過した透過光を信号光としてセンサに入射させ、その信号光を分析することで、成形品の成分が適正であるか否を検査する検査装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１９－１１２１９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載されたような検査装置として、検量線に基づいて成形品の成分が適正であるか否を検査するものがある。検量線は、真値が既知の教師データから生成される。しかしながら、網羅性が低い教師データから検量線を生成してしまうと、検量線の精度が低下してしまうため、検査装置に検査結果を誤判定してしまうことがある。
【０００５】
本発明は、上述のような事情に鑑みてなされたもので、検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを防止することができる検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る検量線生成装置は、分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）であって、真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部（２０）と、前記前処理が行われた複数の吸収スペクトルを教師データとテストデータとに分類する分類部（２１）と、前記教師データ及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出部（２２）と、前記テストデータ及び前記真値から前記検量線を評価する検量線評価部（２３）と、を備え、前記分類部は、前記前処理が行われた各吸収スペクトルから得られる統計値を算出し、前記統計値を満遍なく網羅するように前記教師データに分類する吸収スペクトルを選択する構成を有する。
【０００７】
この構成により、本発明に係る検量線生成装置は、各吸収スペクトルから得られる統計値に対して網羅性が高くなるように教師データに分類する吸収スペクトルを選択することによって検量線の精度を向上させるため、検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを防止することができる。
【０００８】
なお、本発明に係る検量線生成装置において、前記統計値は、第１種別の統計値と、第２種別の統計値と、を含み、前記分類部は、前記第１種別の統計値を満遍なく網羅するように前記教師データに分類する吸収スペクトルを選択し、前記複数の吸収スペクトルから前記教師データに分類された吸収スペクトルを除いた吸収スペクトルから、前記第２種別の統計値を満遍なく網羅するように前記教師データに分類する吸収スペクトルを選択するようにしてもよい。
【０００９】
この構成により、本発明に係る検量線生成装置は、各吸収スペクトルから得られる複数の統計値に対して網羅性が高くなるように教師データに分類する吸収スペクトルを選択することによって検量線の精度を向上させるため、検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを防止することができる。
【００１０】
また、本発明に係る検量線生成装置において、前記統計値は、平均値、最大値、最小値、標準偏差及びレンジのいずれかとしてもよい。
（【００１１】以降は省略されています）

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