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公開番号
2025172353
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-11-26
出願番号
2024077819
出願日
2024-05-13
発明の名称
絶縁抵抗測定装置及び絶縁抵抗測定方法
出願人
日置電機株式会社
代理人
個人
,
個人
主分類
G01R
27/02 20060101AFI20251118BHJP(測定;試験)
要約
【課題】適切に絶縁抵抗を測定することが可能な絶縁抵抗測定装置を提供する。
【解決手段】絶縁抵抗測定装置は、第1端子と、第2端子と、前記第1端子と前記第2端子との間における電圧を測定する電圧測定部と、前記第1端子と前記第2端子との間に印加電圧を印加する電圧印加回路と、前記第1端子と前記第2端子との間のインピーダンスを第1値に設定した第1状態において、前記電圧測定部から前記第1端子と前記第2端子との間の第1電圧値を取得し、前記インピーダンスを前記第1値と異なる第2値に設定した第2状態において、前記電圧測定部から前記第1端子と前記第2端子との間の第2電圧値を取得し、前記第1電圧値と前記第2電圧値との差の絶対値が第1閾値以上のとき、前記電圧印加回路が印加電圧を印加した第3状態において、前記第1端子と前記第2端子との間の絶縁抵抗を測定し、前記絶対値が前記第1閾値より小さいとき、前記絶縁抵抗を測定しない、制御回路と、を備える。
【選択図】図4
特許請求の範囲
【請求項1】
第1端子と、
第2端子と、
前記第1端子と前記第2端子との間における電圧を測定する電圧測定部と、
前記第1端子と前記第2端子との間に印加電圧を印加する電圧印加回路と、
前記第1端子と前記第2端子との間のインピーダンスを第1値に設定した第1状態において、前記電圧測定部から前記第1端子と前記第2端子との間の第1電圧値を取得し、
前記インピーダンスを前記第1値と異なる第2値に設定した第2状態において、前記電圧測定部から前記第1端子と前記第2端子との間の第2電圧値を取得し、
前記第1電圧値と前記第2電圧値との差の絶対値が第1閾値以上のとき、前記電圧印加回路が印加電圧を印加した第3状態において、前記第1端子と前記第2端子との間の絶縁抵抗を測定し、
前記絶対値が前記第1閾値より小さいとき、前記絶縁抵抗を測定しない、制御回路と、
を備える絶縁抵抗測定装置。
続きを表示(約 960 文字)
【請求項2】
前記第1端子と前記第2端子との間に接続される第1抵抗を備え、
前記制御回路は、前記第1状態とするときに前記第1抵抗を前記第1端子と前記第2端子との少なくとも一方から電気的に切断し、前記第2状態とするときに前記第1抵抗を前記第1端子と前記第2端子との間に接続する、請求項1に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項3】
前記第1抵抗は、前記第1端子と前記第2端子との間を放電させるための抵抗である請求項2に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項4】
前記第1値は、前記電圧測定部の内部インピーダンスである請求項2または3に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項5】
前記第1電圧値及び前記第2電圧値は、交流電圧値である請求項1から3のいずれか一項に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項6】
前記印加電圧は、直流電圧である請求項5に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項7】
前記制御回路は、前記絶対値が前記第1閾値より大きいとき、前記絶縁抵抗を測定せずに、エラー情報を出力する請求項1から3のいずれか一項に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項8】
前記制御回路は、
前記第1電圧値が第2閾値以上のとき、前記第2状態において前記第2電圧値を取得し、
前記第1電圧値が第2閾値より小さいとき、前記第2電圧値を取得せず、かつ前記第3状態において前記絶縁抵抗を測定する、請求項1から3のいずれか一項に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項9】
第1端子と第2端子との間のインピーダンスを第1値に設定した第1状態において、前記第1端子と前記第2端子との間の第1電圧値を測定し、
前記インピーダンスを前記第1値と異なる第2値に設定した第2状態において、前記第1端子と前記第2端子との間の第2電圧値を測定し、
前記第1電圧値と前記第2電圧値との差の絶対値が第1閾値以上のとき、前記第1端子と前記第2端子との間に印加電圧を印加した第3状態において、前記第1端子と前記第2端子との間の絶縁抵抗を測定し、
前記絶対値が前記第1閾値より小さいとき、前記絶縁抵抗を測定しない、絶縁抵抗測定方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、絶縁抵抗測定装置及び絶縁抵抗測定方法に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
アース端子とライン端子との間の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定装置が知られている(例えば特許文献1)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開平8-82501号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
絶縁抵抗を測定する被測定システムのブレーカを切断せずに、絶縁抵抗を測定すると絶縁抵抗測定装置が破損する可能性がある。そこで、端子間に電圧が印加されているときには、絶縁抵抗を測定しないことが考えられる。しかしながら、ノイズに起因して端子間に電圧が印加されていると判定してしまうと、絶縁抵抗を測定することができない。
【0005】
本開示は、適切に絶縁抵抗を測定することが可能な絶縁抵抗測定装置及び絶縁抵抗測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の実施形態によれば、絶縁抵抗測定装置は、第1端子と、第2端子と、前記第1端子と前記第2端子との間における電圧を測定する電圧測定部と、前記第1端子と前記第2端子との間に印加電圧を印加する電圧印加回路と、前記第1端子と前記第2端子との間のインピーダンスを第1値に設定した第1状態において、前記電圧測定部から前記第1端子と前記第2端子との間の第1電圧値を取得し、前記インピーダンスを前記第1値と異なる第2値に設定した第2状態において、前記電圧測定部から前記第1端子と前記第2端子との間の第2電圧値を取得し、前記第1電圧値と前記第2電圧値との差の絶対値が第1閾値以上のとき、前記電圧印加回路が印加電圧を印加した第3状態において、前記第1端子と前記第2端子との間の絶縁抵抗を測定し、前記絶対値が前記第1閾値より小さいとき、前記絶縁抵抗を測定しない、制御回路と、を備える。
【0007】
本開示の実施形態によれば、絶縁抵抗測定方法は、第1端子と第2端子との間のインピーダンスを第1値に設定した第1状態において、前記第1端子と前記第2端子との間の第1電圧値を測定し、前記インピーダンスを前記第1値と異なる第2値に設定した第2状態において、前記第1端子と前記第2端子との間の第2電圧値を測定し、前記第1電圧値と前記第2電圧値との差の絶対値が第1閾値以上のとき、前記第1端子と前記第2端子との間に印加電圧を印加した第3状態において、前記第1端子と前記第2端子との間の絶縁抵抗を測定し、前記絶対値が前記第1閾値より小さいとき、前記絶縁抵抗を測定しない。
【発明の効果】
【0008】
本開示によれば、適切に絶縁抵抗を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
図1は、第1実施形態が用いられる被測定システムのブロック図である。
図2は、第1実施形態に係る絶縁抵抗測定装置のブロック図である。
図3は、比較例に係る絶縁抵抗測定装置における制御回路の動作を示すフローチャートである。
図4は、第1実施形態に係る絶縁抵抗測定装置における制御回路の動作を示すフローチャートである。
図5は、第2実施形態に係る絶縁抵抗測定装置における制御回路の動作を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、図面を参照して本開示を実施するための形態について詳細に説明する。下記の実施形態は、発明の技術思想を具体化するための例示であり、本開示を記載された構成や数値に限定するものではない。なお、各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を適宜省略する場合がある。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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