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公開番号2025129409
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-04
出願番号2025115037,2021149750
出願日2025-07-08,2021-09-14
発明の名称測定装置、測定方法、及びプログラム
出願人日置電機株式会社
代理人弁理士法人後藤特許事務所
主分類G01R 31/12 20200101AFI20250828BHJP(測定;試験)
要約【課題】部分放電消滅電圧又は繰り返し部分放電消滅電圧などの第二電圧値の妥当性を評価できるようにする。
【解決手段】測定装置1は、測定対象物2にインパルス電圧が複数回繰り返して印加されるたびにインパルス電圧が段階的に上昇するよう制御し、インパルス電圧の値ごとに検出される部分放電の発生状態を示す状態指標に基づいて上昇制御が停止されたときのインパルス電圧が段階的に下降するよう制御する。測定装置1は、その下降したインパルス電圧の値ごとに部分放電を検出した回数を取得し、その比率が最初に第二閾値未満になったときのインパルス電圧の値を第二電圧値として取得し、比率が第二閾値以上となるインパルス電圧が一段下げられたときに、比率が第二閾値未満になったときの複数のインパルス電圧のうち最も小さい電圧値を第二電圧値に関連する関連電圧値として取得する。
【選択図】図5
特許請求の範囲【請求項１】
一又は複数のコイルで構成される測定対象物における部分放電の発生に関わる電圧を測定する測定装置であって、
前記測定対象物に対して複数回繰り返してインパルス電圧を印加する印加回路と、
前記印加回路により前記測定対象物に生じる電圧信号に基づいて前記測定対象物で発生する部分放電を検出する検出回路と、
前記測定対象物に前記インパルス電圧が前記複数回繰り返して印加されるたびに、前記インパルス電圧が段階的に上昇するよう前記印加回路の動作を制御する昇圧制御手段と、
前記インパルス電圧の値ごとに検出される前記部分放電の発生状態を示す状態指標に基づいて、前記昇圧制御手段による前記インパルス電圧の上昇制御を停止する停止手段と、
前記停止手段によって前記上昇制御が停止されたときの前記インパルス電圧が段階的に下降するよう前記印加回路の動作を制御する降圧制御手段と、
前記インパルス電圧の値ごとに前記複数回のうち前記測定対象物で部分放電を検出した回数を取得する処理手段と、を含み、
前記処理手段は、
前記降圧制御手段による前記インパルス電圧の値ごとに前記回数の比率を求め、前記比率が最初に第二閾値未満になったときの前記インパルス電圧の値を第二電圧値として取得し、
前記比率が前記第二閾値以上となる前記インパルス電圧が前記降圧制御手段によって一段下げられたときに、前記比率が前記第二閾値未満になったときの複数の前記インパルス電圧のうち最も小さい電圧値を前記第二電圧値に関連する関連電圧値として取得する、
測定装置。
続きを表示（約 2,000 文字）【請求項２】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記第二電圧値と前記関連電圧値とを表示する表示手段をさらに含む、
測定装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載の測定装置であって、
前記第二電圧値は、繰り返し部分放電消滅電圧である、
測定装置。
【請求項４】
請求項１又は請求項２に記載の測定装置であって、
前記第二電圧値は、部分放電消滅電圧である、
測定装置。
【請求項５】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記処理手段により得られる結果を出力する出力手段をさらに含み、
前記処理手段は、前記停止手段によって前記上昇制御が停止されたときの前記インパルス電圧の大きさを示す第三電圧値を取得し、
前記出力手段は、前記第二電圧値及び前記第三電圧値の各々について前記回数又は前記回数の比率を表示する、
測定装置。
【請求項６】
請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の測定装置であって、
前記停止手段は、前記降圧制御手段によって前記インパルス電圧が段階的に下げられているときに、前記回数の比率が連続して０パーセントとなる前記インパルス電圧の電圧範囲の大きさがあらかじ定められた値よりも大きい場合には、前記インパルス電圧の降圧制御を停止する、
測定装置。
【請求項７】
一又は複数のコイルで構成される測定対象物における部分放電の発生に関わる電圧を測定する測定方法であって、
前記測定対象物に対して複数回繰り返してインパルス電圧を印加する印加ステップと、
前記印加ステップにより前記測定対象物に生じる電圧信号に基づいて前記測定対象物で発生する部分放電を検出する検出ステップと、
前記測定対象物に前記インパルス電圧が前記複数回繰り返して印加されるたびに、前記インパルス電圧を段階的に上昇させる昇圧制御ステップと、
前記インパルス電圧の値ごとに検出される前記部分放電の発生状態を示す状態指標に基づいて、前記昇圧制御ステップによる前記インパルス電圧の上昇制御を停止する停止ステップと、
前記停止ステップによって前記上昇制御が停止されたときの前記インパルス電圧を段階的に下降させる降圧制御ステップと、
前記インパルス電圧の値ごとに前記複数回のうち前記測定対象物で部分放電を検出した回数を取得する処理ステップと、を含み、
前記処理ステップは、
前記降圧制御ステップによる前記インパルス電圧の値ごとに前記回数の比率を求め、前記比率が最初に第二閾値未満になったときの前記インパルス電圧の値を第二電圧値として取得し、
前記比率が前記第二閾値以上となる前記インパルス電圧が前記降圧制御ステップによって一段下げられたときに、前記比率が前記第二閾値未満になったときの複数の前記インパルス電圧のうち最も小さい電圧値を前記第二電圧値に関連する関連電圧値として取得する、
測定方法。
【請求項８】
一又は複数のコイルで構成される測定対象物に対して複数回繰り返してインパルス電圧を印加する印加回路と、前記印加回路により前記測定対象物に生じる電圧信号に基づいて前記測定対象物で発生する部分放電を検出する検出回路と、を制御して前記測定対象物における部分放電の発生に関わる電圧を測定するコンピュータに、
前記測定対象物に前記インパルス電圧が前記複数回繰り返して印加されるたびに、前記インパルス電圧が段階的に上昇するよう前記印加回路の動作を制御する昇圧制御ステップと、
前記インパルス電圧の値ごとに検出される前記部分放電の発生状態を示す状態指標に基づいて、前記昇圧制御ステップによる前記インパルス電圧の上昇制御を停止する停止ステップと、
前記停止ステップによって前記上昇制御が停止されたときの前記インパルス電圧が段階的に下降するよう前記印加回路の動作を制御する降圧制御ステップと、
前記インパルス電圧の値ごとに前記複数回のうち前記測定対象物で部分放電を検出した回数を取得する処理ステップと、を実行させるためのプログラムであって、
前記処理ステップは、
前記降圧制御ステップによる前記インパルス電圧の値ごとに前記回数の比率を求め、前記比率が最初に第二閾値未満になったときの前記インパルス電圧の値を第二電圧値として取得し、
前記比率が前記第二閾値以上となる前記インパルス電圧が前記降圧制御ステップによって一段下げられたときに、前記比率が前記第二閾値未満になったときの複数の前記インパルス電圧のうち最も小さい電圧値を前記第二電圧値に関連する関連電圧値として取得する、
プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、部分放電の発生に関わる電圧を測定する測定装置、測定方法、及びプログラムに関する。
続きを表示（約 2,400 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、所定個数のインパルス電圧が印加されるたびにインパルス電圧を段階的に上昇させながら、測定対象物に印加されるインパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する計測システムが開示されている。この計測システムは、部分放電回数が規定回数未満となった最初の周期において、印加電圧信号から電圧のピーク値を、例えば部分放電消滅電圧又は繰り返し部分放電消滅電圧の第二電圧値として取得する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特許第６１３４１０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、部分放電の発生は確率現象であるため、偶発的に部分放電の発生頻度及び発生強度が相対的に高くなったり、低くなったりする。このような状況では、上述のような第二電圧値が本来の値よりも高目に測定されることもあり、このような場合には、測定対象物の本来の性能よりも高く評価されてしまう。
【０００５】
例えば、第二電圧値が高目に測定されると、測定対象物の本来の耐部分放電性を超えた電圧が測定対象物に印加されることも起こり得るため、測定対象物の性能に影響を与えるおそれがある。
【０００６】
本発明は、このような問題に着目してなされたものであり、第二電圧値の妥当性を評価できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明のある態様によれば、一又は複数のコイルで構成される測定対象物の部分放電の発生に関わる電圧を測定する測定装置は、前記測定対象物に対して複数回繰り返してインパルス電圧を印加する印加回路と、前記印加回路により前記測定対象物に生じる電圧信号に基づいて前記測定対象物で発生する部分放電を検出する検出回路と、を含む。そして測定装置は、前記測定対象物に前記インパルス電圧が前記複数回繰り返して印加されるたびに、前記インパルス電圧が段階的に上昇するよう前記印加回路の動作を制御する昇圧制御手段と、前記インパルス電圧の値ごとに検出される前記部分放電の発生状態を示す状態指標に基づいて、前記昇圧制御手段による前記インパルス電圧の上昇制御を停止する停止手段と、を含む。さらに測定装置は、前記停止手段によって前記上昇制御が停止されたときの前記インパルス電圧が段階的に下降するよう前記印加回路の動作を制御する降圧制御手段と、前記インパルス電圧の値ごとに前記複数回のうち前記測定対象物で部分放電を検出した回数を取得する処理手段と、を含む。前記処理手段は、前記降圧制御手段による前記インパルス電圧の値ごとに前記回数の比率を求め、前記比率が最初に第二閾値未満になったときの前記インパルス電圧の値を第二電圧値として取得し、前記比率が前記第二閾値以上となる前記インパルス電圧が前記降圧制御手段によって一段下げられたときに、前記比率が前記第二閾値未満になったときの複数の前記インパルス電圧のうち最も小さい電圧値を前記第二電圧値に関連する関連電圧値として取得する。
【発明の効果】
【０００８】
本態様によれば、第二電圧値と関連電圧値とを比較することにより、取得した第二電圧値が、インパルス電圧の下降に従って規則正しく部分放電が弱くなったときの電圧値であるのか、偶発的に弱い部分放電が発生したときの電圧値であるのか、あるいは、放電比率の減少の程度が斬増または漸減する状況での電圧値であるのかを推察することができる。
【０００９】
このように、第二電圧値に加えて関連電圧値を取得することにより、第二電圧値の妥当性を評価することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
図１は、本発明の実施形態における測定装置の機能構成を示すブロック図である。
図２は、測定装置における処理部の機能構成例を示すブロック図である。
図３は、測定対象物における部分放電の発生頻度に基づいてインパルス電圧の電圧制御を上昇制御から下降制御に切り替えたときの測定結果の一例を示す観念図である。
図４は、測定対象物における部分放電の発生強度に基づいてインパルス電圧の電圧制御を上昇制御から下降制御に切り替えたときの測定結果の一例を示す観念図である。
図５は、ＲＰＤＥＶ及びＰＤＥＶの妥当性を把握するための参照ＲＰＤＥＶ及び参照ＰＤＥＶの測定結果の一例を示す観念図である。
図６は、測定装置による測定結果を表示する画像の一例を示す図である。
図７は、本実施形態における測定方法を示すフローチャートである。
図８は、測定方法に含まれるＰＤＩＶ測定処理の処理手順例を示すフローチャートである。
図９は、ＰＤＩＶ測定処理に含まれる繰り返し測定処理の処理手順例を示すフローチャートである。
図１０は、測定方法に含まれるＲＰＤＩＶ測定処理の処理手順例を示すフローチャートである。
図１１は、測定方法に含まれる折り返し測定処理の処理手順例を示すフローチャートである。
図１２は、測定方法に含まれるＲＰＤＥＶ測定処理の処理手順例を示すフローチャートである。
図１３は、測定方法に含まれるＰＤＥＶ測定処理の処理手順例を示すフローチャートである。
図１４は、ＰＤＥＶ測定処理に含まれる参照電圧更新処理の処理手順例を示すフローチャートである。
図１５は、測定方法に含まれる結果出力処理の処理手順例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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