特許ウォッチ

公開番号2025092247
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-19
出願番号2023208010
出願日2023-12-08
発明の名称分光分析装置及び分光分析方法
出願人横河電機株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類G01N 21/27 20060101AFI20250612BHJP(測定;試験)
要約【課題】リファレンス測定に用いる構成をより簡素化できる分光分析装置を提供する。
【解決手段】本開示に係る分光分析装置1は、被測定対象に照射光を照射する照射部10と、照射光に基づく被測定対象からの反射光を受光する受光部40と、反射光に基づいて被測定対象の光学特性を分析する制御部80と、観察窓Wにおいて被測定対象に照射光を導く透過部W1と、観察窓W及び観察窓Wを覆う筒T1の少なくとも一方に配置されているリファレンス物質Rとのいずれかに切り替えて照射光を導く操作部20と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
被測定対象に照射光を照射する照射部と、
前記照射光に基づく前記被測定対象からの反射光を受光する受光部と、
前記反射光に基づいて前記被測定対象の光学特性を分析する制御部と、
観察窓において前記被測定対象に前記照射光を導く透過部と、前記観察窓及び前記観察窓を覆う筒の少なくとも一方に配置されているリファレンス物質とのいずれかに切り替えて前記照射光を導く操作部と、
を備える、
分光分析装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
請求項１に記載の分光分析装置であって、
前記透過部と前記リファレンス物質とは、前記観察窓に対する前記照射光の入射側から見て同心円上の互いに異なる位置に配置され、
前記操作部は、前記照射光の前記同心円上での照射位置を相対的に変化させる変化機構を含む、
分光分析装置。
【請求項３】
請求項２に記載の分光分析装置であって、
前記照射部は、前記筒の内部に配置されている、
分光分析装置。
【請求項４】
請求項３に記載の分光分析装置であって、
前記変化機構は、前記照射部の位置を前記同心円の中心軸周りに回転させる回転機構を含む、
分光分析装置。
【請求項５】
請求項４に記載の分光分析装置であって、
前記リファレンス物質は、前記観察窓において前記透過部と共に固定され、
前記回転機構は、前記筒を前記中心軸周りに回転させる第１回転機構を含む、
分光分析装置。
【請求項６】
請求項４又は５に記載の分光分析装置であって、
前記リファレンス物質は、前記筒に固定され、
前記回転機構は、前記筒の内部に配置され前記照射部を収容する内筒の位置を前記中心軸周りに回転させる第２回転機構を含む、
分光分析装置。
【請求項７】
請求項３乃至５のいずれか１項に記載の分光分析装置であって、
前記リファレンス物質は、前記観察窓において前記透過部と共に固定され、
前記変化機構は、前記観察窓を前記同心円の中心軸周りに回転させる第３回転機構を含む、
分光分析装置。
【請求項８】
請求項３乃至５のいずれか１項に記載の分光分析装置であって、
前記変化機構は、前記照射部を前記筒の内部で平行移動させる第１スライド機構を含む、
分光分析装置。
【請求項９】
請求項３乃至５のいずれか１項に記載の分光分析装置であって、
前記リファレンス物質は、前記観察窓において前記透過部と共に固定され、
前記変化機構は、前記観察窓を平行移動させる第２スライド機構を含む、
分光分析装置。
【請求項１０】
請求項２に記載の分光分析装置であって、
前記リファレンス物質は、前記観察窓において前記透過部と共に固定され、
前記照射部は、前記筒の外部に配置されている、
分光分析装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、分光分析装置及び分光分析方法に関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、被測定対象の光学特性を分析するための技術が知られている。例えば、特許文献１には、より正確で安定した吸光スペクトルの測定を可能にする分光分析装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１１－０５２９９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載の従来技術では、被測定対象での光の反射率を算出するために必要となる、反射率が既知のリファレンス物質が配置されていた。従来技術では、リファレンス物質での反射光パワーを測定するためのリファレンス測定に用いる構成が複雑であった。
【０００５】
本開示は、リファレンス測定に用いる構成をより簡素化できる分光分析装置及び分光分析方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
幾つかの実施形態に係る分光分析装置は、被測定対象に照射光を照射する照射部と、前記照射光に基づく前記被測定対象からの反射光を受光する受光部と、前記反射光に基づいて前記被測定対象の光学特性を分析する制御部と、観察窓において前記被測定対象に前記照射光を導く透過部と、前記観察窓及び前記観察窓を覆う筒の少なくとも一方に配置されているリファレンス物質とのいずれかに切り替えて前記照射光を導く操作部と、を備える。
【０００７】
これにより、分光分析装置は、リファレンス物質での反射光パワーを測定するためのリファレンス測定に用いる構成をより簡素化できる。分光分析装置の操作部は、観察窓において被測定対象に照射光を導く透過部とリファレンス物質とのいずれかに切り替えて照射光を導く。これにより、分光分析装置は、操作部により照射光の照射位置を変化させるだけでリファレンス測定を実行できる。したがって、分光分析装置は、分解、洗浄、及び筒の取り外しなどを伴わない、簡便なリファレンス測定又は分光器としての校正作業を実現可能にする。分光分析装置は、従来技術のようにサンプル測定用の光学系とリファレンス測定用の光学系とを大きく分離させる必要なく、分光分析装置における光学系全体の簡素化が容易である。分光分析装置は、筒などの既存部品にリファレンス物質を取り付けるため、部品点数を増やすことなく、また装置のサイズを維持したままサンプル測定及びリファレンス測定の両方を実行可能である。
【０００８】
一実施形態における分光分析装置では、前記透過部と前記リファレンス物質とは、前記観察窓に対する前記照射光の入射側から見て同心円上の互いに異なる位置に配置され、前記操作部は、前記照射光の前記同心円上での照射位置を相対的に変化させる変化機構を含んでもよい。これにより、分光分析装置は、操作部により照射光の照射位置を同心円上で変化させるだけでリファレンス測定を実行できる。
【０００９】
一実施形態における分光分析装置では、前記照射部は、前記筒の内部に配置されていてもよい。これにより、分光分析装置は、光学系全体をコンパクトにまとめることが可能となり、装置全体の小型化を容易にする。
【００１０】
一実施形態における分光分析装置では、前記変化機構は、前記照射部の位置を前記同心円の中心軸周りに回転させる回転機構を含んでもよい。これにより、分光分析装置は、操作部により照射光の照射位置を同心円の中心軸周りに回転させるだけでリファレンス測定を実行できる。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許