特許ウォッチ

公開番号2025061959
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-04-11
出願番号2025013459,2024090379
出願日2025-01-30,2020-06-15
発明の名称眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラム
出願人株式会社トプコン
代理人個人
主分類A61B 3/10 20060101AFI20250404BHJP(医学または獣医学;衛生学)
要約【課題】光源が高速化した場合でも撮影条件を高精度に調整することための新たな技術を提供する。
【解決手段】眼科装置は、干渉光学系と、光スキャナ制御部と、補正制御部とを含む。干渉光学系は、非点収差補正光学部材と、合焦位置変更部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、非点収差補正光学部材、合焦位置変更部材及び光スキャナを介して測定光を被検眼に照射し、被検眼からの測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する。光スキャナ制御部は、測定光を偏向するように光スキャナを制御する。補正制御部は、第1スキャンパターンにより得られた干渉光の検出結果に基づいて非点収差補正光学部材を制御し、第2スキャンパターンにより得られた干渉光の検出結果に基づいて合焦位置変更部材を制御する。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
非点収差補正光学部材と、合焦位置変更部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記非点収差補正光学部材、前記合焦位置変更部材及び前記光スキャナを介して前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する光スキャナ制御部と、
第１スキャンパターンに従って前記測定光を偏向することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように前記非点収差補正光学部材を制御し、前記第１スキャンパターンと異なる第２スキャンパターンに従って前記測定光を偏向することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記合焦位置変更部材を制御する補正制御部と、
を含む眼科装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記干渉光の検出結果を解析する解析部と、
前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する画像形成部と、
を含み、
前記解析部は、前記画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析し、
前記補正制御部は、前記複数の分割画像に対する複数の解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
前記非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科装置。
【請求項４】
非点収差補正光学部材と、合焦位置変更部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記非点収差補正光学部材、前記合焦位置変更部材及び前記光スキャナを介して前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系を含む眼科装置の制御方法であって、
前記光スキャナを制御する第１制御ステップと、
前記第１制御ステップにおいて第１スキャンパターンに従って前記測定光を偏向することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように前記非点収差補正光学部材を制御し、前記第１スキャンパターンと異なる第２スキャンパターンに従って前記測定光を偏向することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記合焦位置変更部材を制御する第２制御ステップと、
を含む眼科装置の制御方法。
【請求項５】
前記干渉光の検出結果を解析する解析ステップと、
前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する第１画像形成ステップと、
を含み、
前記解析ステップは、前記画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析し、
前記第２制御ステップは、前記複数の分割画像に対応する複数の解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
ことを特徴とする請求項４に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項６】
前記非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む
ことを特徴とする請求項４又は請求項５に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項７】
コンピュータに、請求項４～請求項６のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法の各ステップを実行させることを特徴とするプログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
この発明は、眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
近年、レーザー光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成するための光コヒーレンストモグラフィ（ＯｐｔｉｃａｌＣｏｈｅｒｅｎｃｅＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）が注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴ（ＣｏｍｐｕｔｅｄＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ）のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。例えば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化されている。
【０００３】
このような装置では、被測定物体の形態の観察に最適な画像を取得するため、ＯＣＴの実行前に撮影条件（計測条件）の調整が行われる（例えば、特許文献１、特許文献２）。撮影条件の調整には、撮影部位の位置の調整、フォーカス調整、偏波調整がある。特に、特許文献２には、撮影時に行われるラスタスキャンに要する時間より短い時間でラスタスキャンを行って撮影条件を調整する手法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１６－０２２３１２号公報
国際公開第２０１６／００２７４０号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
近年、光源の高速化が進み、ＯＣＴの撮影部位をスキャンするための光スキャナの動作速度がボトルネックになるケースが現れ始めている。光源の高速化が進むと、スキャン時間が長いラスタスキャンでは、撮影条件を高精度に調整することがより一層困難になる。
【０００６】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的の１つは、光源が高速化した場合でも撮影条件を高精度に調整することための新たな技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
いくつかの実施形態の第１態様は、非点収差補正光学部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記非点収差補正光学部材及び前記光スキャナを介して前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、前記干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する光スキャナ制御部と、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように前記非点収差補正光学部材を制御する補正制御部と、を含む眼科装置である。
【０００８】
いくつかの実施形態の第２態様は、第１態様において、前記干渉光の検出結果を解析する解析部を含み、前記補正制御部は、前記解析部により得られた解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する。
【０００９】
いくつかの実施形態の第３態様は、第２態様において、前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する画像形成部を含み、前記解析部は、前記画像をＡスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析し、前記補正制御部は、前記複数の分割画像に対する複数の解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する。
【００１０】
いくつかの実施形態の第４態様では、第３態様において、前記解析部は、各分割画像について解析結果に対応する評価値を算出し、前記補正制御部は、前記複数の分割画像に対する複数の評価値の統計値に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許