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公開番号2024179544
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-12-26
出願番号2023098473
出願日2023-06-15
発明の名称評価装置、評価システム、評価方法、および、プログラム
出願人清水建設株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G01C 7/02 20060101AFI20241219BHJP(測定;試験)
要約【課題】凹凸の許容範囲の基準が一定の半径の範囲内に限定されている場合において効率的に凹凸を評価する。
【解決手段】データ取得部はサンプル点ごとに平面の法線方向の座標である法線方向座標を示す空間データを取得し、検出部は、評価領域内に分布したサンプル点である評価サンプル点ごとに当該評価サンプル点から探索半径の範囲内に分布した他のサンプル点から前記法線方向座標の最小値を与える最小点を探索し、当該評価サンプル点に対応する法線方向座標から前記最小値の差分値が前記法線方向座標の許容範囲を超える評価サンプル点を対象サンプル点として検出し、前記探索半径は、前記許容範囲の基準を与える基準半径の2倍である。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
サンプル点ごとに平面の法線方向の座標である法線方向座標を示す空間データを取得するデータ取得部と、
評価領域内に分布したサンプル点である評価サンプル点ごとに当該評価サンプル点から探索半径の範囲内に分布した他のサンプル点から前記法線方向座標の最小値を与える最小点を探索し、
当該評価サンプル点に対応する法線方向座標から前記最小値の差分値が前記法線方向座標の許容範囲を超える評価サンプル点を対象サンプル点として検出する検出部と、を備え、
前記探索半径は、前記許容範囲の基準を与える基準半径の２倍である
評価システム。
続きを表示（約 930 文字）【請求項２】
前記平面は水平面であり、前記法線方向座標は垂直方向の高さを示す
請求項１に記載の評価システム。
【請求項３】
前記評価領域における前記対象サンプル点の分布を示す対象領域データを出力する出力処理部を備える
請求項１に記載の評価システム。
【請求項４】
被観測体表面の空間分布を示す前記空間データを測定する測定装置と、
前記対象サンプル点を含む対象領域において、前記差分値の前記許容範囲からの超過量を減少させるように前記被観測体表面の形状を調整する作業装置の少なくとも一方を備える
請求項１に記載の評価システム。
【請求項５】
サンプル点ごとに平面の法線方向の座標である法線方向座標を示す空間データを取得するデータ取得部と、
評価領域内に分布したサンプル点である評価サンプル点ごとに当該評価サンプル点から探索半径の範囲内に分布した他のサンプル点から前記法線方向座標の最小値を与える最小点を探索し、
当該評価サンプル点に対応する法線方向座標から前記最小値の差分値が前記法線方向座標の許容範囲を超える評価サンプル点を対象サンプル点として検出する検出部と、を備え、
前記探索半径は、前記許容範囲の基準を与える基準半径の２倍である
評価装置。
【請求項６】
コンピュータに
請求項５に記載の評価装置として機能させるためのプログラム。
【請求項７】
評価装置が、
サンプル点ごとに平面の法線方向の座標である法線方向座標を示す空間データを取得し、
評価領域内に分布したサンプル点である評価サンプル点ごとに当該評価サンプル点から探索半径の範囲内に分布した他のサンプル点から前記法線方向座標の最小値を与える最小点を探索し、
当該評価サンプル点に対応する法線方向座標から前記最小値の差分値が前記法線方向座標の許容範囲を超える評価サンプル点を対象サンプル点として検出する検出する評価方法であって、
前記探索半径は、前記許容範囲の基準を与える基準半径の２倍である
評価方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本願の実施形態は、評価装置、評価システム、評価方法、および、プログラムに関する。
続きを表示（約 1,900 文字）【背景技術】
【０００２】
床面、建築物、構造物、物体などの表面に対し、しばしば平坦化が要求される。従来から表面の凹凸を計測する手法が提案されている。例えば、特許文献１に記載の形状計測方法は、構造物の周辺に表面が平面であるとともに表面の高さが既知である基準盤を設置し、基準盤を含めて構造物の表面の三次元形状データを複数の計測点について取得し、基準盤の表面に相当する三次元形状データから基準盤の表面を含む仮想的な平面を設定し、仮想的な平面を基準として、構造物の表面に相当する三次元形状データから構造物の表面の高さを計測する。
【０００３】
また、特許文献２に記載のトラススクリードの管理方法は、ブレード部の高さを計測するための複数の基準点の高さを計測し、計測結果に基づいた複数の基準点の高さに関する情報が表示された表示画像を確認しながらトラススクリードに設けられた複数の調整ナットを調整してトラススクリードの撓み量を変化させブレード部の高さを調整する。
【０００４】
鉛直方向の高さの凹凸は、基準レベルまたは評価領域全体の平均レベルを基準として評価されることが通例である。例えば、スケートリンクに張られる氷の表面に対しては、局所的な凹凸に限らず、対象領域全体にわたる凹凸を抑制することも要求される。スケートリンクでは、周囲よりも陥没した部分に融解した水が溜まるので、安全性や滑走感が損なわれうるためである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
特開２０２１－６０３１７号公報
特開２０２１－７０９２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、評価対象とする評価領域全体にわたる評価が常に必要とされるとは限らない。評価領域全体にわたり表面を平坦化する場合には、必要以上の多くの領域において切削もしくは被覆などの作業が要求される結果、多くの労力や時間を要する。また切削により生ずる廃材の処分に係る施設の確保、もしくは、被覆のために多くの資材の調達を要する。限られた面積の領域での凹凸を重視し、離れた位置との間で高低差が許容されることがある。例えば、バスケットコートでは、一定の大きさの領域における凹凸を許容範囲内に制限することが要求されるが、バスケットコート全体にわたる制限までは要求されない。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
第１の態様に係る評価装置は、サンプル点ごとに平面の法線方向の座標である法線方向座標を示す空間データを取得するデータ取得部と、評価領域内に分布したサンプル点である評価サンプル点ごとに当該評価サンプル点から探索半径の範囲内に分布した他のサンプル点から前記法線方向座標の最小値を与える最小点を探索し、当該評価サンプル点に対応する法線方向座標から前記最小値の差分値が前記法線方向座標の許容範囲を超える評価サンプル点を対象サンプル点として検出する検出部と、を備え、前記探索半径は、前記許容範囲の基準を与える基準半径の２倍である。
【０００８】
第２の態様に係る評価システムは、サンプル点ごとに平面の法線方向の座標である法線方向座標を示す空間データを取得するデータ取得部と、評価領域内に分布したサンプル点である評価サンプル点ごとに当該評価サンプル点から探索半径の範囲内に分布した他のサンプル点から前記法線方向座標の最小値を与える最小点を探索し、当該評価サンプル点に対応する法線方向座標から前記最小値の差分値が前記法線方向座標の許容範囲を超える評価サンプル点を対象サンプル点として検出する検出部と、を備え、前記探索半径は、前記許容範囲の基準を与える基準半径の２倍である。
【０００９】
第３の態様に係る評価方法は、評価装置が、サンプル点ごとに平面の法線方向の座標である法線方向座標を示す空間データを取得し、評価領域内に分布したサンプル点である評価サンプル点ごとに当該評価サンプル点から探索半径の範囲内に分布した他のサンプル点から前記法線方向座標の最小値を与える最小点を探索し、当該評価サンプル点に対応する法線方向座標から前記最小値の差分値が前記法線方向座標の許容範囲を超える評価サンプル点を対象サンプル点として検出する検出し、前記探索半径は、前記許容範囲の基準を与える基準半径の２倍である。
【発明の効果】
【００１０】
本願によれば、凹凸の許容範囲の基準が一定の半径の範囲内に限定されているとき効率的に凹凸を評価することができる。
【図面の簡単な説明】
（【００１１】以降は省略されています）

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