TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
10個以上の画像は省略されています。
公開番号
2024135364
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2024-10-04
出願番号
2023046001
出願日
2023-03-22
発明の名称
メモリシステム
出願人
キオクシア株式会社
代理人
弁理士法人鈴榮特許綜合事務所
主分類
G11C
11/16 20060101AFI20240927BHJP(情報記憶)
要約
【課題】データの誤りへの耐性の高いメモリシステムを提供する。
【解決手段】一実施形態によるメモリシステムは、磁気メモリと、メモリコントローラとを含む。磁気メモリは、第1方向に延びる複数の磁性体を含む。複数の磁性体の各々は、第1方向に並ぶ複数の部分を含む。メモリコントローラは、エンコーダを含む。エンコーダは、複数の第1データセクションから第1符号語を生成する。第1符号語は、複数の第1データセクション及び第1符号語中のランクに基づく数の誤りを訂正する第1誤り訂正符号パリティを含み、複数の列とそれぞれ関連付けられた複数の第1ビット列を含む。複数の第1ビット列の各々は複数の行とそれぞれ関連付けられた複数のビットを含む。メモリコントローラは、複数の第1ビット列を、複数の磁性体に、複数の第1ビット列の各々が複数の磁性体の重複しない1つに書き込まれるように、それぞれ書き込む。
【選択図】図11
特許請求の範囲
【請求項1】
第1方向に延びる複数の磁性体を含むメモリであって、前記複数の磁性体の各々は前記第1方向に並ぶ複数の部分を含むメモリと、
複数の第1データセクションから第1符号語を生成するエンコーダであって、前記第1符号語は、前記複数の第1データセクション及び前記第1符号語中のランクに基づく数の誤りを訂正する第1誤り訂正符号パリティを含み、前記第1符号語は、複数の列とそれぞれ関連付けられた複数の第1ビット列を含み、前記複数の第1ビット列の各々は複数の行とそれぞれ関連付けられた複数のビットを含む、エンコーダを含み、
前記複数の第1ビット列を、前記複数の磁性体に、前記複数の第1ビット列の各々が前記複数の磁性体の重複しない1つに書き込まれるように、それぞれ書き込む、
メモリコントローラと、
を備えるメモリシステム。
続きを表示(約 1,000 文字)
【請求項2】
前記メモリコントローラは、複数の第1タイプデータを受け取り、
前記複数の第1データセクションは、前記複数の第1タイプデータのそれぞれのセクションの組である、
請求項1に記載のメモリシステム。
【請求項3】
前記メモリコントローラは、第1サイズのデータを最小の単位とする書込みの要求を受け取り、
前記複数の第1タイプデータの各々は、前記第1サイズを有する、
請求項2に記載のメモリシステム。
【請求項4】
前記メモリコントローラは、前記複数の第1タイプデータを前記メモリシステムの外部から受け取る、
請求項3に記載のメモリシステム。
【請求項5】
前記複数の第1ビット列は、n(ただし、nは2以上の整数)個の第1ビット列からなり、
前記複数の第1タイプデータの1つの全てのセクションは、前記複数の第1ビット列のうちのm(ただし、mはn未満の整数)個のビット列に含まれる、
請求項4に記載のメモリシステム。
【請求項6】
前記メモリコントローラは、第1タイプデータを前記メモリシステムの外部から受け取り、
前記複数の第1データセクションのサブセットは、前記第1タイプデータと第2タイプデータとの組のセクションである、
請求項1に記載のメモリシステム。
【請求項7】
前記第2タイプデータは、前記第1タイプデータの巡回冗長検査符号を含む、
請求項6に記載のメモリシステム。
【請求項8】
前記メモリコントローラは、第2符号語を生成し、
前記第2符号語は、前記第2符号語中のランクに基づく数の誤りを訂正する第2誤り訂正符号パリティを含み、複数の列とそれぞれ関連付けられた複数の第2ビット列を含み、
前記複数の第1ビット列の1つ、及び前記複数の第2ビット列の1つから第3符号語を生成し、
第3符号語を前記複数の磁性体の1つに書き込む、
請求項1に記載のメモリシステム。
【請求項9】
前記第2符号語は、BCH符号である、
請求項8に記載のメモリシステム。
【請求項10】
前記第1誤り訂正符号パリティは、各々が前記複数の列のそれぞれに対応する複数の第3ビット列を含み、
前記複数の第1ビット列の各々は、前記複数の第3ビット列の各々を含む、
請求項1に記載のメモリシステム。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
実施形態は、概してメモリシステムに関する。
続きを表示(約 2,400 文字)
【背景技術】
【0002】
メモリとメモリコントローラを含んだメモリシステムが知られている。メモリの例は、磁性体の細線を用いた磁気メモリを含む。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
米国特許第11,347,584号明細書
【非特許文献】
【0004】
Ernest M. Gabidulin、“Rank Codes”、TUM. University Press、2021年5月、URL<https://mediatum.ub.tum.de/doc/1601193/1601193.pdf>
萩原学、“モダン代数的符号と呼ばれるネットワーク誤り訂正符号”、京都大学数理解析研究所講究録 第1956巻、2015年、p.75-93、URL<https://www.kurims.kyoto-u.ac.jp/~kyodo/kokyuroku/contents/pdf/1956-09.pdf>
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
データの誤りへの耐性の高いメモリシステムを提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
一実施形態によるメモリシステムは、メモリと、メモリコントローラとを含む。上記メモリは、第1方向に延びる複数の磁性体を含む。上記複数の磁性体の各々は上記第1方向に並ぶ複数の部分を含む。上記メモリコントローラは、エンコーダを含む。上記エンコーダは、複数の第1データセクションから第1符号語を生成する。上記第1符号語は、上記複数の第1データセクション及び上記第1符号語中のランクに基づく数の誤りを訂正する第1誤り訂正符号パリティを含み、複数の列とそれぞれ関連付けられた複数の第1ビット列を含む。上記複数の第1ビット列の各々は複数の行とそれぞれ関連付けられた複数のビットを含む。上記メモリコントローラは、上記複数の第1ビット列を、上記複数の磁性体に、上記複数の第1ビット列の各々が上記複数の磁性体の重複しない1つに書き込まれるように、それぞれ書き込む。
【図面の簡単な説明】
【0007】
図1は、第1実施形態のメモリシステムを含んだ情報処理システムの機能ブロックを示す。
図2は、第1実施形態のメモリシステムの機能ブロック及び機能ブロックの接続を示す。
図3は、第1実施形態のメモリシステムの磁気メモリの機能ブロック及び機能ブロックの接続を示す。
図4は、第1実施形態のメモリシステムのメモリセルアレイの構成要素を示す。
図5は、第1実施形態のメモリシステムのメモリセルアレイの一部の構造の例を示す。
図6は、第1実施形態のメモリシステムの磁性体の構造の例を示す。
図7は、第1実施形態のメモリシステムの誤り訂正回路の機能ブロックを示す。
図8は、第1実施形態のメモリシステムの一部の或る動作の間の変化を示す。
図9は、第1実施形態のメモリシステムで使用される誤り訂正符号の符号語の生成において使用される単位を概念的に示す。
図10は、第1実施形態のメモリシステムで使用される符号語の幾つかのパラメータを示す。
図11は、第1実施形態のメモリシステムでのデータが記憶される領域の例を示す。
図12は、第1実施形態のメモリシステムでの第1タイプ符号語の生成のための情報データの分割を概念的に示す。
図13は、第1実施形態のメモリシステムでのユーザーデータの記憶のためのデータに対する操作を概念的に示す。
図14は、第1実施形態のメモリシステムでのエンコードによって生成されるデータの第1例を示す。
図15は、第1実施形態のメモリシステムでのエンコードによって生成されるデータの第2例を示す。
図16は、第1実施形態のメモリシステムでのエンコードによって生成されるデータの例を示す。
図17は、第1実施形態のメモリシステムでのデコードによって生成されるデータの例を示す。
図18は、第1実施形態のメモリシステムでのデコードによって生成されるデータの例を示す。
図19は、第1実施形態のメモリシステムでの或る動作のフローを示す。
図20は、第1実施形態のメモリシステムでの或る動作のフローを示す。
図21は、磁壁メモリでの意図と異なる磁壁シフトの第1パターンを示す。
図22は、磁壁メモリでの意図と異なる磁壁シフトの第2パターンを示す。
【発明を実施するための形態】
【0008】
以下に実施形態が図面を参照して記述される。或る実施形態又は相違する実施形態での略同一の機能及び構成を有する複数の構成要素は、互いに区別されるために、参照符号の末尾にさらなる数字又は文字が付加される場合がある。
【0009】
各機能ブロックは、ハードウェア、コンピュータソフトウェアのいずれか又は両者を組み合せたものとして実現されることが可能である。また、各機能ブロックが、以下の例のように区別されていることは必須ではない。一部の機能が、例示の機能ブロックとは別の機能ブロックによって実行されてもよいし、細かい機能サブブロックに分割されていてもよい。
【0010】
実施形態の方法のフローにおけるいずれのステップも、例示の順序に限定されず、そうでないと示されない限り、例示の順序とは異なる順序で及び(又は)別のステップと並行して起こることが可能である。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
株式会社半導体エネルギー研究所
記憶装置
28日前
キオクシア株式会社
半導体記憶装置
1か月前
ローム株式会社
半導体装置
1か月前
ローム株式会社
SRAM回路
1か月前
株式会社東芝
磁気ヘッド、及び、磁気記録装置
28日前
キオクシア株式会社
メモリデバイス
1か月前
キオクシア株式会社
半導体記憶装置
29日前
キオクシア株式会社
半導体装置及びカウント方法
1か月前
株式会社東芝
磁気記録装置
29日前
日本板硝子株式会社
情報記録媒体用ガラス板
1か月前
キオクシア株式会社
磁気メモリ及びメモリシステム
1か月前
株式会社東芝
磁気再生処理装置、磁気記録再生装置及び磁気再生方法
1か月前
日本放送協会
磁性細線メモリ装置及び磁区駆動方法
28日前
株式会社半導体エネルギー研究所
半導体装置
23日前
株式会社半導体エネルギー研究所
半導体装置
9日前
Verbatim Japan株式会社
ディスク状部材の取出装置
1か月前
株式会社東芝
ディスク装置
29日前
株式会社東芝
ディスク装置
29日前
株式会社東芝
ディスク装置
22日前
株式会社東芝
ディスク装置
1か月前
ルネサスエレクトロニクス株式会社
不揮発性メモリシステム及び不揮発性メモリの書換制御方法
29日前
有限会社芳美商事
レコード盤のセンターラベル用プロテクタ及びレコード盤のセンターラベル保護方法
1か月前
富士フイルム株式会社
磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
1か月前
富士フイルム株式会社
磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
1か月前
富士フイルム株式会社
磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
1か月前
株式会社レゾナック・ハードディスク
磁気記録媒体、磁気記録媒体の製造方法、磁気記憶装置
29日前
富士フイルム株式会社
磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
1か月前
富士フイルム株式会社
磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
1か月前
富士フイルム株式会社
磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
1か月前
富士フイルム株式会社
磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
1か月前
富士フイルム株式会社
磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
1か月前
日本板硝子株式会社
情報記録媒体用ガラス組成物及び情報記録媒体用ガラス板
1か月前
キオクシア株式会社
半導体記憶装置
7日前
富士フイルム株式会社
磁気テープカートリッジ、及び磁気テープカートリッジ製造方法
今日
株式会社東芝
磁気ディスク装置及びライト方法
8日前
株式会社東芝
磁気ディスク装置及びデータ制御方法
14日前
続きを見る
他の特許を見る