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公開番号2025177551
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-12-05
出願番号2024084492
出願日2024-05-24
発明の名称絶縁抵抗測定装置
出願人日置電機株式会社
代理人個人
主分類G01R 27/08 20060101AFI20251128BHJP(測定;試験)
要約【課題】絶縁抵抗の測定精度を向上させることが可能な絶縁抵抗測定装置を提供する。
【解決手段】絶縁抵抗測定装置は、第1端子T1と、第2端子T2と、ガード端子Gと、ガード端子の入力抵抗を第1値と記第1値より低い第2値とに設定する設定回路と、第1端子とガード端子との間の第1電圧値が第1閾値以下か否かを判定する電圧判定部13と、第1端子と第2端子との間に印加電圧を印加する電圧印加回路11と、第1端子と第2端子との間の絶縁抵抗を測定する抵抗測定部16と、を備え、設定回路が入力抵抗を第1値に設定した第1状態において、電圧判定部が第1電圧値を第1閾値以下と判定したとき、設定回路が前記入力抵抗を第2値に設定しかつ電圧印加回路が印加電圧を印加する第2状態となり、第2状態において、抵抗測定部は、第1端子と第2端子との間の絶縁抵抗を測定する。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項１】
第１端子と、
第２端子と、
ガード端子と、
前記ガード端子の入力抵抗を第１値と前記第１値より低い第２値とに設定する設定回路と、
前記第１端子と前記ガード端子との間の第１電圧値が第１閾値以下か否かを判定する電圧判定部と、
前記第１端子と前記第２端子との間に印加電圧を印加する電圧印加回路と、
前記第１端子と前記第２端子との間の絶縁抵抗を測定する抵抗測定部と、
を備え、
前記設定回路が前記第１値に設定した第１状態において、前記電圧判定部が前記第１電圧値を前記第１閾値以下と判定したとき、前記設定回路が前記入力抵抗を前記第２値に設定しかつ前記電圧印加回路が印加電圧を印加する第２状態となり、
前記第２状態において、前記抵抗測定部は、前記第１端子と前記第２端子との間の絶縁抵抗を測定し、
前記第１状態において、前記電圧判定部が前記第１電圧値を前記第１閾値より大きいと判定したとき、前記設定回路は第１状態を維持し、かつ前記抵抗測定部は前記絶縁抵抗を測定しない、
絶縁抵抗測定装置。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記第１端子と前記第２端子との間における電圧を測定する電圧測定部と、
前記第１端子と前記第２端子との間を流れる電流を測定する電流測定部と、
を備え、
前記抵抗測定部は、前記絶縁抵抗を測定するときに、前記電圧測定部及び前記電流測定部からそれぞれ第２電圧値及び電流値を取得し、前記第２電圧値及び前記電流値に基づき、前記絶縁抵抗を算出する、
請求項１に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項３】
前記電流測定部は、前記第１端子と前記第２端子との間において前記電圧測定部と直列に接続され、前記ガード端子は、前記電圧測定部と前記電流測定部との間のノードに接続されている、請求項２に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項４】
前記電圧判定部は、
プログラムと協働し、前記第２状態において、前記第１電圧値が第２閾値より大きくなったときに、前記設定回路に、前記入力抵抗を前記第２値から前記第１値に設定させるプロセッサと、
前記第２状態において、前記第１電圧値が第３閾値より大きくなったときに、前記プロセッサの指示によらずに、前記設定回路に、前記入力抵抗を前記第２値から前記第１値に設定させる専用の回路と、
を備える、請求項１から３のいずれか一項に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項５】
前記プロセッサは、前記第１電圧値が前記第２閾値以下となっても、条件を満足したときには、前記専用の回路の指示によらずに、前記設定回路に、前記入力抵抗を前記第１値に設定させる、請求項４に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項６】
前記プロセッサは、前記第１電圧値が前記第２閾値以下となっても、前記第１電圧値が交流電圧値と判定したときには、前記専用の回路の指示によらずに、前記設定回路に、前記入力抵抗を前記第１値に設定させる、請求項４に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項７】
前記設定回路は、電源が供給されないときには前記入力抵抗を第１値に設定する、請求項１から３のいずれか一項に記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項８】
前記第１状態において、前記電圧判定部が前記第１電圧値を前記第１閾値より大きいと判定したとき、エラー情報を出力する出力部を備える、請求項１から３のいずれか一項に記載の絶縁抵抗測定装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、絶縁抵抗測定装置に関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
アース端子とライン端子とガード端子とを備える絶縁抵抗測定装置が知られている（例えば特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開平８－８２５０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ガード端子は、絶縁体の表面を流れる電流を除いて絶縁抵抗を測定するために設けられている。ガード端子に高電圧が加わったときに絶縁抵抗測定装置を保護するために、ガード端子に保護回路を接続すると、絶縁抵抗の測定精度が低下してしまう。
【０００５】
本開示は、絶縁抵抗の測定精度を向上させることが可能な絶縁抵抗測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の実施形態によれば、絶縁抵抗測定装置は、第１端子と、第２端子と、ガード端子と、前記ガード端子の入力抵抗を第１値と前記第１値より低い第２値とに設定する設定回路と、前記第１端子と前記ガード端子との間の第１電圧値が第１閾値以下か否かを判定する電圧判定部と、前記第１端子と前記第２端子との間に印加電圧を印加する電圧印加回路と、前記第１端子と前記第２端子との間の絶縁抵抗を測定する抵抗測定部と、を備え、前記設定回路が前記第１値に設定した第１状態において、前記電圧判定部が前記第１電圧値を前記第１閾値以下と判定したとき、前記設定回路が前記入力抵抗を前記第２値に設定しかつ前記電圧印加回路が印加電圧を印加する第２状態となり、前記第２状態において、前記抵抗測定部は、前記第１端子と前記第２端子との間の絶縁抵抗を測定し、前記第１状態において、前記電圧判定部が前記第１電圧値を前記第１閾値より大きいと判定したとき、前記設定回路は第１状態を維持し、かつ前記抵抗測定部は前記絶縁抵抗を測定しない。
【発明の効果】
【０００７】
本開示によれば、絶縁抵抗の測定精度を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
図１は、第１実施形態の絶縁抵抗測定装置を用いた測定方法を示す図である。
図２は、第１実施形態に係る絶縁抵抗測定装置のブロック図である。
図３は、比較例１に係る絶縁抵抗測定装置のブロック図である。
図４は、第１実施形態に係る絶縁抵抗測定装置における動作を示すフローチャートである。
図５は、第２実施形態に係る絶縁抵抗測定装置の電圧判定部を示す回路図である。
図６は、第２実施形態に係る絶縁抵抗測定装置のプロセッサの動作を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を参照して本開示を実施するための形態について詳細に説明する。下記の実施形態は、発明の技術思想を具体化するための例示であり、本開示を記載された構成や数値に限定するものではない。なお、各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を適宜省略する場合がある。
【００１０】
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態の絶縁抵抗測定装置を用いた測定方法を示す図である。図１に示すように、高圧ケーブル３０は、芯線３１、絶縁体３２、シールド層３３及び絶縁体３４を備えている。芯線３１を絶縁体３２が囲み、絶縁体３２をシールド層３３が囲み、絶縁体３４がシールド層３３を囲む。
（【００１１】以降は省略されています）

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