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公開番号2025172478
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-11-26
出願番号2024078007
出願日2024-05-13
発明の名称アレイ探触子の振動子劣化検出方法
出願人大同特殊鋼株式会社
代理人個人
主分類G01N 29/30 20060101AFI20251118BHJP(測定;試験)
要約【課題】アレイ探触子の振動子の劣化を確実に検出することが可能な振動子劣化検出方法を提供する。
【解決手段】、複数の振動子11を所定のタイミングで発振作動させて探傷ビームを形成するアレイ探触子1において、各振動子11を単独で発振作動させた時の反射波の受信信号S中の、表面反射波信号部S1が現れる領域に校正ゲートXを設定するとともに当該校正ゲートX以外の領域に評価ゲートYを設定し、校正ゲートXにおける表面反射波信号部S1の最大値が所定値になるように受信信号Sを増幅したときの、評価ゲートYにおける受信信号Sの大きさが所定の閾値Th以上となるか否かにより当該振動子11の劣化の有無を検出する。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項１】
複数の振動子を所定のタイミングで発振作動させて探傷ビームを形成するアレイ探触子において、各振動子を単独で発振作動させた時の反射波の受信信号中の、表面反射波信号部が現れる領域に校正ゲートを設定するとともに当該校正ゲート以外の領域に評価ゲートを設定し、前記校正ゲートにおける前記表面反射波信号部の最大値が所定値になるように前記受信信号を増幅したときの、前記評価ゲートにおける前記受信信号の大きさが所定の閾値以上となるか否かにより当該振動子の劣化の有無を検出するアレイ探触子の振動子劣化検出方法。
続きを表示（約 240 文字）【請求項２】
複数の振動子を所定のタイミングで発振作動させて探傷ビームを形成するアレイ探触子において、各振動子を単独で発振作動させた時の反射波の受信信号中の、表面反射波信号部が現れる領域に校正ゲートを設定するとともに当該校正ゲート以外の領域に評価ゲートを設定し、前記校正ゲートにおける前記表面反射波信号部の最大値が所定値になるように前記受信信号を増幅したときの、前記評価ゲートにおける前記受信信号の大きさに応じて当該振動子の劣化の程度を検出するアレイ探触子の振動子劣化検出方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明はアレイ探触子の振動子劣化検出方法に関するものである。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
アレイ探触子は複数の振動子を所定の時間差で発振作動させて探傷ビームを形成するもので、複数の振動子が作動しているため、そのうちいくつかの振動子が劣化していても探傷ビーム自体は形成される。しかし、その検出能は低下する。
【０００３】
そこで、特許文献１には、振動子のいくつかを励振して、この時の対象物の表面ないし底面からの反射波を全ての振動子で受振して、各振動子の受信信号の大きさが従前の大きさになっているか低下しているかで劣化を検出する方法が示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開昭６２－１９４４５６
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、振動子の劣化を従前の受信信号の大きさと比較しても、実際には受信信号の大きさは対象物の材種や接触媒質、接触距離、温度等の変動の影響を受けるために振動子の劣化を確実に検出することができないという問題があった。
【０００６】
そこで、本発明はこのような課題を解決するもので、アレイ探触子の振動子の劣化を確実に検出することが可能な振動子劣化検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本第１発明では、複数の振動子（１１）を所定のタイミングで発振作動させて探傷ビームを形成するアレイ探触子（１）において、各振動子（１１）を単独で発振作動させた時の反射波の受信信号（Ｓ）中の、表面反射波信号部（Ｓ１）が現れる領域に校正ゲート（Ｘ）を設定するとともに当該校正ゲート（Ｘ）以外の領域に評価ゲート（Ｙ）を設定し、前記校正ゲート（Ｘ）における前記表面反射波信号部（Ｓ１）の最大値が所定値になるように前記受信信号（Ｓ）を増幅したときの、前記評価ゲート（Ｙ）における前記受信信号（Ｓ）の大きさが所定の閾値（Ｔｈ）以上となるか否かにより当該振動子（１１）の劣化の有無を検出する。
【０００８】
本第１発明においては、評価ゲート内で受信信号が閾値より大きくなるか否かで振動子が劣化してるか否かを確実に検出することができる。
【０００９】
本第２発明では、本第１発明では、複数の振動子（１１）を所定のタイミングで発振作動させて探傷ビームを形成するアレイ探触子（１）において、各振動子（１１）を単独で発振作動させた時の反射波の受信信号（Ｓ）中の、表面反射波信号部（Ｓ１）が現れる領域に校正ゲート（Ｘ）を設定するとともに当該校正ゲート（Ｘ）以外の領域に評価ゲート（Ｙ）を設定し、前記校正ゲート（Ｘ）における前記表面反射波信号部（Ｓ１）の最大値が所定値になるように前記受信信号（Ｓ）を増幅したときの、前記評価ゲート（Ｙ）における前記受信信号（Ｓ）の大きさに応じて当該振動子（１１）の劣化の程度を検出する。
【００１０】
本第２発明においては、評価ゲート内の受信信号の大きさから振動子の劣化の程度を確実に検出することができる
（【００１１】以降は省略されています）

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