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公開番号2025047846
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-04-03
出願番号2023156599
出願日2023-09-22
発明の名称通電検査装置
出願人個人
代理人
主分類G01R 31/26 20200101AFI20250327BHJP(測定;試験)
要約【課題】従来技術の基盤及びそれに類する通電検査装置は、垂直動作の検査方法なので、作業効率が悪く、検査装置自体の損傷も発生するので、使えなくはないが本発明とは差が大きい。
【解決手段】上下スライド部と、上下スライド部の上下動を作る板カムA部と、上下スライド部にヒンジで回転可能な検査ピン保持プレート(42)と、スライド部の上下移動を支えている部分に固定された板カムBを配した角度変更式測定部と、検査位置である下死点の高さ位置を自動で保持する事が可能なストッパー部とを有し、検査ピン保持プレートの作業者側が開いた状態から、レバーを押し下げると水平になり、且つ水平を保持したまま垂直移動になり、さらに検査作業で作業者がレバーを回転し、検査ピン保持プレート(42)が下死点に到達し、通電検査を行う時、作業者がレバーから手を離しても検査ピン保持プレートが下死点位置を保持された状態になる。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
上下スライド部（２０）、板カムＡ部（３０）、角度変更式測定部（４０）とストッパー部（５０）を有する通電検査装置であって、
上下スライド部（２０）は、水平に配置するベースプレート（２１）に、垂直に立つ２本のスライドシャフト（２２）と、スライドシャフト（２２）の上端が入り込む様に配された上部プレート（２３）と、２個のスライドボールベアリング（２４）を有するスライドボールベアリング取付け板（２５）と、上下スライド部（２０）内の可動部である、スライドボールベアリング取付け板（２５）を上方向に移動させようとする圧縮バネ（２６）と、
板カムＡ部（３０）のレバー（３２）動作で生じる回転軸（３３）の回転を受けた板カム（３１）に依る回転が、上下動作へ移行させる為のブロックとして、上下スライド部（２０）内の可動部である、２個のスライドボールベアリング（２４）と、スライドボールベアリング取付け板（２５）に取り付けられた接触子Ａ（２７）を有する接触子Ａ取り付けブラケット（２８）と、で構成され、板カムＡ部（３０）は、板カムＡ（３１）の回転をスライドボールベアリング取付け板（２５）の上下運動に変換する装置であって、板カムＡ（３１）と、板カムＡ（３１）を回転させるレバー（３２）と、板カムＡ（３１）とレバーを繋ぐ回転軸（３３）と、回転軸を受けるメタルを配した回転軸受けブラケット（３４）で構成され、
角度変更式測定部（４０）は，スライドボールベアリング取付け板（２５）の作業者側に、ヒンジ（４３）を配し、ヒンジで角度の変更を可能にしたコンタクトプローブ（４１）を有する検査ピン保持プレート（４２）と、上下スライド部（２０）の上部プレート(２３)に固定され、角度変更動作を作る為のガイドである板カムＢ（４４）と、板カムＢ（４４）に沿った動きを検査ピン保持プレート（４２）に伝達する従動節(４６)と、板カムＢ（４４）による角度変更の動きをスムーズに伝える、従動節に配された接触子Ｂ（４５）と、従動節と接触子Ｂが板カムＢ（４４）と接触子Ｂ（４５）を密着させる引っ張りバネ（４７）で構成され、
ストッパー部（５０）は、レバー（３２）回転で角度変更し、下死点に到達した位置で検査ピン保持プレート（４２）を固定するための仕組みであって、レバー（３２）回転で板カムＡ（３１）が下死点を越えたとき、板カムＡ（３１）を止めるストッパー（５３）で構成されることを特徴とする通電検査装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
電源、エアー源が設備されている場所以外で、半導体などがアセンブリされた基盤等の通電検査を行う場合、作業者が検査装置を利用して、手動で検査を行うことにおいて、
主に通電検査は、コンタクトプローブという検査ピンを使用して、基盤などのワークをワーク治具にセットし、コンタクトプローブを配した検査ピン保持プレートを上方から下降させ、コンタクトプローブが非検査物の接点に押える状態で接触し、通電によって検査が行われるが、被検査物をセットする時、検査ピン保持プレートが水平のまま上方に２５～３５mm上がった状態の為、セットスペースが狭くなり、作業性が著しく低下する。また、被検査物の脱着時に上方にあるコンタクトプローブに被検査物が接触する可能性があり、コンタクトプローブを破損する事がある。
本発明は、検査装置の上下動作を作業者が片方の手で一つのレバーを動かす事で、検査ピン保持プレート（４２）が上昇しながら開き、下降時は下がりながら水平になり、コンタクトプローブ（４１）が被検査物に接触する少し前の位置から垂直に下降に、被検査物への接触姿勢が被検査物に対して垂直を保ちながら接触する事が可能な通電検査装置（１）に関する。
続きを表示（約 2,900 文字）【背景技術】
【０００２】
特開２０１４－０４８１７２号公報は、検査をする為に接触する検査物が、被検査部に接触する時、被検査物の検査部の高さが定まっていない事で、検査が出来ない事が無いように、被検査物がバネの力で被検査物への当たりを適度に吸収するという内容である。
【０００３】
特開２０１５－３６６２５号公報は、被検査物であるプリント基板などが、何らかの理由で反りが生じている場合、正常な検査に支障を来すので、検査装置自体に反りを矯正するメカを配して、正常な検査が行えるようにするものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１４－０４８１７２号公報
特開２０１５－３６６２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特開２０１４－０４８１７２号公報記載の物は検査物と非検査物との当たり具合を伸縮性のあるバネを利用して、複数の検査ピンなどが均一に当たる様にしたものであり、作業性の向上と装置の破損を防ぐ為のメカは一切無い。
【０００６】
特開２０１５－３６６２５号公報記載の物は、被検査物の反りを矯正するメカが配されてある検査装置であり、作業性の向上と装置の破損で生産性が良くなることに関係したものではない。
【０００７】
従来技術による手動の検査装置は、作業者が手動でレバー回転などの方法で上下運動に変換し、コンタクトプローブを配したプレート等を下降させ、被検査物に接触して通電による検査を行うが、被検査物を検査の為に位置を決められた場所にセットする時と検査終了後に取り出す時、上昇ストロークが充分であれば広く角度変更が可能になり、作業性が良くなる。また上に上がったコンタクトプローブなどに接触することなく、安全性も高まるが、手動の為、上下ストロークが限られてしまう。レバーを複数回回転する事で上部スペースを広くするように上昇する様に出来るが、作業時間と作業者の疲労が大きくなり、作業全般の向上にはならない。そこで、軽い動きと僅かなレバーの回転角度（図６Ａ－４８）で、出来る限り大きく角度が変更し、作業性と安全性を向上させることと、検査中の検査ピン保持プレート（４２）高さ位置が作業を増やす事なく、確実に行われる手動通電検査装置の考案開発を課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
1、上記課題を解決する方法として本発明を成したので説明する。
上下方向移動を可能に構成されている上下スライド部（２０）と、上下スライド部の上下動を作る板カムＡ部（３０）と、上下スライド部にヒンジ（４３）で回転可能な検査ピン保持プレート（４２）と、スライド部の上下移動を支えている部分に固定された板カムＢを配した角度変更式測定部（４０）と、検査位置である下死点の高さ位置を自動で保持する事が可能なストッパー部（５０）と、
を有し、
検査ピン保持プレートの作業者側が開いた状態（図６－Ａ）から、レバーを押し下げると水平（図６－Ｆ）になり、且つ水平を保持したまま垂直移動になり、
さらに検査作業で作業者がレバーを回転し、検査ピン保持プレート（４２）が下死点に到達し、通電検査を行う時、作業者がレバーから手を離しても検査ピン保持プレートが下死点位置を保持された状態になる通電検査装置。
【０００９】
２．具体的に説明すると、
この発明は、電源、エアー源が設備されている場所以外、且つ電圧、周波数などに左右される事無く、手動動作で半導体などがアセンブリされた基盤等の通電検査を行う場合に使用する検査装置において、
作業者は検査する被検査物を片手に持ち、検査を行う定められた位置にセットし、検査ピン保持プレートは水平のまま上昇するが、コンタクトプローブと非検査物の間隔が狭い為に、被検査物に傷を付けたり、また検査ピンを損傷する。検査ピンを損傷すると、結線されたコンタクトプローブの取り換えが大変な作業になり、検査自体の作業を遅らせる事になる。その様な事が生じない様に検査ピン保持プレートを大きく上げ、間口を広めようとするが、それに費やす動作が増える事で労働も増え、その結果作業が遅れる。
そこで本発明の角度変更式測定部（４０）とストッパー部（５０）について図を用いて説明する。
角度変更式測定部（４０）は（図４）を参照。角度変更の動きは（図７）を参照。上下スライドと検査ピン保持プレート上下スライドの高さに応じて、検査ピン保持プレートの作業者側が開閉する関係は、下移動では検査ピン保持プレート（４２）が徐々に水平になり、水平になった時からその水平を保ったまま、垂直に下がりコンタクトプローブが垂直に被検査物に当たる。この間の上下ストロークは被検査物の大きさ等の条件によって異なるが２５～３５ｍｍが適当である。上移動ではこの逆になる。開く角度は、検査ピン保持プレート（４２）が水平の状態から４５～５５度の開き角度（４８）を作るのが板カムＢと上下ストロークの関係では好ましい。これに依って、検査のワーク脱着時に、ワークに傷をつける事と、コンタクトプローブに損傷を与える事は大きく軽減する。尚上下スライド部の上下ストロークを作る為のレバー（３２）の回転角度（図６-Ａ４８）は、下死点を保持している時のレバー角度を０度した時、１２０度から１６０度を回転する辺りが、作業者が使うのに使いやすい状態を作る事を可能にする。
板カムＢは非稼働の上部プレート（２３）に固定されており、上下スライド部（２０）が移動すると、回転軸を持った従動節と接触子Ｂは、引っ張りバネ（４７）で接触子Ｂが板カムＢに追従する形で、スライド部の上下に合わせ、角度変更を繰り返す事が可能になる。
次にストッパー部（５０）は、（図５）を参照。板カムＡが下死点に到達するまでは、圧縮バネにより板カムＡの回転方向は方向Ａ（５５）に戻される力が加わるが、下死点を通過した時点で、板カムＡの回転方向は方向Ｂ（５６）になり、板カムＡの回転方向側に引っ張られる状態になる。その時点から方向Ｂ（５６）に４～８度（５１）進んだ位置に、その板カムＡに配した止板（５２）をストッパー（５３）で止める事で、板カムＡは、確実に固定された状態になり、レバーを上方向に回転させない限り、板カムＡは保持されており、従って検査ピン保持プレート（４２）は、下死点で検査を行う状態を保持し続ける事が可能になる。
【発明の効果】
【００１０】
この発明は、電源、エアー源が設備されている場所以外、且つ電圧、周波数などに左右される事無く、手動動作で半導体などがアセンブリされた基盤等の通電検査を行う場合に使用する手動の検査装置であるが、一つの動作で上下、回転、下死点での確実な位置保持、位置保持の解除、上死点での保持が可能であるので、検査作業に集中する事が可能である。
（【００１１】以降は省略されています）

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