TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
公開番号
2025015890
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-01-31
出願番号
2023118765
出願日
2023-07-21
発明の名称
測量装置
出願人
株式会社トプコン
代理人
個人
主分類
G01C
15/00 20060101AFI20250124BHJP(測定;試験)
要約
【課題】光学系及び装置全体の小型化を図る測量装置を提供する。
【解決手段】測距光を発する発光素子28と、測定対象物からの反射測距光を受光する受光素子とを有する測距部と、前記測距光を照射する回転偏向部15,23,24と、該回転偏向部を中空の鉛直回転軸11を介して鉛直方向に回転させる鉛直回転駆動部13と、前記回転偏向部が設けられる托架部5と、該托架部を水平方向に回転させる水平回転駆動部8と、前記受光素子への前記反射測距光の受光結果に基づき測定対象物迄の距離を演算する演算制御部17とを具備し、前記回転偏向部は、中心部に形成され、前記測距光を直角に偏向する投光偏向部と、中心部以外に形成され、前記反射測距光を直角に偏向する受光偏向部とを有し、前記測距光は前記鉛直回転軸内を通過して前記投光偏向部に入射し、前記反射測距光は前記受光偏向部に入射し、前記発光素子と逆向きに偏向される様構成された。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
測距光を発する発光素子と、測定対象物からの反射測距光を受光する受光素子とを有する測距部と、前記測距光を照射する回転偏向部と、該回転偏向部を中空の鉛直回転軸を介して鉛直方向に回転させる鉛直回転駆動部と、前記回転偏向部が設けられる托架部と、該托架部を水平方向に回転させる水平回転駆動部と、前記受光素子への前記反射測距光の受光結果に基づき測定対象物迄の距離を演算する演算制御部とを具備し、前記回転偏向部は、中心部に形成され、前記測距光を直角に偏向する投光偏向部と、中心部以外に形成され、前記反射測距光を直角に偏向する受光偏向部とを有し、前記測距光は前記鉛直回転軸内を通過して前記投光偏向部に入射し、前記反射測距光は前記受光偏向部に入射し、前記発光素子と逆向きに偏向される様構成された測量装置。
続きを表示(約 1,400 文字)
【請求項2】
前記受光偏向部は端部に前記反射測距光の光軸を直角に偏向する反射面が形成された筒体であり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記受光偏向部に形成された前記測距光の光軸と平行な貫通孔と、該貫通孔に設けられた投光ミラーであり、該投光ミラーは前記測距光の光軸を直角に偏向する様構成された請求項1に記載の測量装置。
【請求項3】
前記受光偏向部は端部に前記反射測距光の光軸を直角に偏向する反射面が形成された筒体であり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記受光偏向部に形成された前記測距光の光軸と平行な貫通孔と、該貫通孔に挿入された筒部と、該筒部の端部に設けられた投光ミラーと、前記筒部の前記投光ミラーの反射光軸上に形成された開口部であり、前記投光ミラーは前記測距光の光軸を直角に偏向する様構成された請求項1に記載の測量装置。
【請求項4】
前記受光偏向部は端部に前記反射測距光の光軸を直角に偏向する反射面が形成された筒体であり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記測距光の光軸と平行な前記受光偏向部に形成された貫通孔と、該貫通孔に設けられたメタマテリアルである請求項1に記載の測量装置。
【請求項5】
前記受光偏向部は端部に前記反射測距光の光軸を直角に偏向する反射面が形成された筒体であり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記測距光の光軸と平行な前記受光偏向部に形成された貫通孔と、該貫通孔に設けられた回折格子である請求項1に記載の測量装置。
【請求項6】
前記受光偏向部は、軸外し放物面鏡の反射面を有する請求項2~請求項5のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
【請求項7】
前記受光偏向部は板状のミラーであり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記受光偏向部に形成された前記測距光の光軸と平行な貫通孔と、該貫通孔に設けられた投光ミラーであり、該投光ミラーは前記測距光の光軸を直角に偏向する様構成された請求項1に記載の測量装置。
【請求項8】
前記受光偏向部は板状のミラーであり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記受光偏向部に形成された前記測距光の光軸と平行な貫通孔と、該貫通孔に挿入された筒部と、該筒部の端部に設けられた投光ミラーと、前記筒部の前記投光ミラーの反射光軸上に形成された開口部であり、前記投光ミラーは前記測距光の光軸を直角に偏向する様構成された請求項1に記載の測量装置。
【請求項9】
前記受光偏向部は板状のミラーであり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記受光偏向部に形成された前記測距光の光軸と平行な貫通孔と、該貫通孔に挿入された筒部と、該筒部の端部に設けられた板状のミラーと、前記筒部の前記ミラーの反射光軸上に形成された開口部である請求項1に記載の測量装置。
【請求項10】
前記回転偏向部は板状のメタマテリアルを有し、該メタマテリアルの中心部は透過膜が蒸着された前記投光偏向部を形成し、前記メタマテリアルの中心部以外は反射膜が形成された前記受光偏向部を形成する請求項1に記載の測量装置。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、測定対象物の3次元座標を取得可能な測量装置に関するものである。
続きを表示(約 1,500 文字)
【背景技術】
【0002】
レーザスキャナやトータルステーション等の測量装置は、測定対象物として再帰反射性を有するプリズムを用いたプリズム測距、反射プリズムを用いないノンプリズム測距により測定対象物迄の距離を検出する光波距離測定装置を有している。
【0003】
従来の光波距離測定装置では、測距光を照射する測距光射出部と、反射測距光を受光する測距光受光部とが1つの光学系に組込まれており、又測距光の光軸と反射測距光の光軸とを同軸とする為の偏向光学部材を必要とする為、光学系の大型化、測量装置全体の大型化を招いていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
米国特許出願公開第2022/0373685号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本発明は、光学系及び装置全体の小型化を図る測量装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明は、測距光を発する発光素子と、測定対象物からの反射測距光を受光する受光素子とを有する測距部と、前記測距光を照射する回転偏向部と、該回転偏向部を中空の鉛直回転軸を介して鉛直方向に回転させる鉛直回転駆動部と、前記回転偏向部が設けられる托架部と、該托架部を水平方向に回転させる水平回転駆動部と、前記受光素子への前記反射測距光の受光結果に基づき測定対象物迄の距離を演算する演算制御部とを具備し、前記回転偏向部は、中心部に形成され、前記測距光を直角に偏向する投光偏向部と、中心部以外に形成され、前記反射測距光を直角に偏向する受光偏向部とを有し、前記測距光は前記鉛直回転軸内を通過して前記投光偏向部に入射し、前記反射測距光は前記受光偏向部に入射し、前記発光素子と逆向きに偏向される様構成された測量装置に係るものである。
【0007】
又本発明は、前記受光偏向部は端部に前記反射測距光の光軸を直角に偏向する反射面が形成された筒体であり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記受光偏向部に形成された前記測距光の光軸と平行な貫通孔と、該貫通孔に設けられた投光ミラーであり、該投光ミラーは前記測距光の光軸を直角に偏向する様構成された測量装置に係るものである。
【0008】
又本発明は、前記受光偏向部は端部に前記反射測距光の光軸を直角に偏向する反射面が形成された筒体であり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記受光偏向部に形成された前記測距光の光軸と平行な貫通孔と、該貫通孔に挿入された筒部と、該筒部の端部に設けられた投光ミラーと、前記筒部の前記投光ミラーの反射光軸上に形成された開口部であり、前記投光ミラーは前記測距光の光軸を直角に偏向する様構成された測量装置に係るものである。
【0009】
又本発明は、前記受光偏向部は端部に前記反射測距光の光軸を直角に偏向する反射面が形成された筒体であり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記測距光の光軸と平行な前記受光偏向部に形成された貫通孔と、該貫通孔に設けられたメタマテリアルである測量装置に係るものである。
【0010】
又本発明は、前記受光偏向部は端部に前記反射測距光の光軸を直角に偏向する反射面が形成された筒体であり、前記投光偏向部は前記鉛直回転軸の中空部と連通し、前記測距光の光軸と平行な前記受光偏向部に形成された貫通孔と、該貫通孔に設けられた回折格子である測量装置に係るものである。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
株式会社大真空
センサ
3日前
東レ株式会社
液体展開用シート
18日前
株式会社トプコン
植物センサ
14日前
アズビル株式会社
湿度センサ
11日前
株式会社小野測器
回転計測装置
10日前
株式会社クボタ
作業車両
17日前
株式会社東芝
センサ
10日前
株式会社ミツトヨ
変位測定装置
10日前
キヤノン電子株式会社
サーボ加速度計
18日前
キヤノン電子株式会社
サーボ加速度計
18日前
キヤノン電子株式会社
サーボ加速度計
18日前
アズビル株式会社
検査用プローブ
4日前
トヨタ自動車株式会社
異音解析方法
10日前
トヨタ自動車株式会社
NVH解析装置
10日前
キヤノン株式会社
撮像装置
10日前
日鉄テクノロジー株式会社
衝突試験装置
今日
株式会社トーキン
電流センサ
17日前
ヒロセ電機株式会社
磁気センサ装置
3日前
三菱電機株式会社
振動センサ
14日前
矢崎総業株式会社
サーミスタ
18日前
株式会社ミツトヨ
画像測定機及びプログラム
17日前
株式会社日立ハイテクサイエンス
熱分析装置
4日前
株式会社デンソー
電圧検出回路
17日前
株式会社デンソー
電圧検出回路
17日前
トヨタ自動車株式会社
レーダ取付構造
10日前
三菱電機株式会社
信号処理器及びレーダ装置
17日前
オムロン株式会社
プローブピン
14日前
国立大学法人東京科学大学
サンプル測定装置
11日前
キヤノン株式会社
測距装置
11日前
株式会社JVCケンウッド
ナビゲーション装置
24日前
レーザーテック株式会社
検査方法及び検査装置
17日前
トヨタ自動車株式会社
方法
10日前
富士電機機器制御株式会社
電流検出装置
10日前
富士電機機器制御株式会社
電流検出装置
10日前
新東工業株式会社
センサモジュール
18日前
内山工業株式会社
分析装置用部材
10日前
続きを見る
他の特許を見る