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公開番号2024027772
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-03-01
出願番号2022130861
出願日2022-08-19
発明の名称フィルムコンデンサ
出願人ニチコン株式会社
代理人個人
主分類H01G 4/32 20060101AFI20240222BHJP(基本的電気素子)
要約【課題】フィルムコンデンサに関して、ESL(等価直列インダクタンス)に対する低減効果とともにバスバーの繋ぎ部に対する折り曲げ加工性の向上を図る。
【解決手段】第1および第2のバスバー2,3はそれぞれ本体基板部2a,3a、繋ぎ部2b,3b、複数の接続端子部2c,3cを有している。両繋ぎ部2b,3bは、幅方向Wに沿った折り曲げ領域2b₂₁,2b₂₂を伴う状態で幅方向Wに対して交差する方向Xで折り曲げられ、両者間に絶縁板7を介在させた対向状態の重合領域Aを形成している。第1の繋ぎ部2bにおいて、折り曲げ領域2b₂₁,2b₂₂にまで亘る切欠き部2b₃が形成され、切欠き部2b₃によって幅方向Wで複数に分割した分割繋ぎ部2b_Dの各々の幅方向Wにおける長さが複数の接続端子部2c,3cの幅に比べて大きい。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
コンデンサ素子と、前記コンデンサ素子の電極に本体基板部が接続された第１のバスバーおよび第２のバスバーと、前記コンデンサ素子と少なくとも前記第１および第２のバスバーの本体基板部とを被覆する樹脂層とを備えるとともに、
前記第１のバスバーは一方端が前記第１のバスバーの本体基板部に繋がる第１の繋ぎ部を有し、前記第１の繋ぎ部の他方端において前記樹脂層から露出する部分の遊端辺の複数箇所から第１の接続端子部が突出され、
前記第２のバスバーは一方端が前記第２のバスバーの本体基板部に繋がる第２の繋ぎ部を有し、前記第２の繋ぎ部の他方端において前記樹脂層から露出する部分の遊端辺の複数箇所から第２の接続端子部が突出され、
前記第１の繋ぎ部と前記第２の繋ぎ部とは、前記遊端辺が延びる幅方向に沿った折り曲げ領域を伴う状態で前記幅方向に対して交差する方向で折り曲げられているとともに、両者間に絶縁部材を介在させた対向状態の重合領域を形成しており、
前記第１の繋ぎ部と前記第２の繋ぎ部のうち少なくとも一方の繋ぎ部において、前記折り曲げ領域に前記交差方向に亘って切り欠かれた切欠き部が形成され、当該切欠き部によって前記幅方向で複数に分割された分割繋ぎ部の各々の前記幅方向における長さが前記第１および第２の接続端子部の幅に比べて大きいことを特徴とするフィルムコンデンサ。
続きを表示（約 630 文字）【請求項２】
前記第１および第２の繋ぎ部における重合領域は、前記第１および第２の接続端子部に面一状態で連接する水平領域と、この水平領域に対して屈折状態で連接する垂直領域とを有し、
前記切欠き部は、前記水平領域と前記垂直領域に跨って切り欠かれた第１の切欠きを有する請求項１に記載のフィルムコンデンサ。
【請求項３】
前記切欠き部は、前記第１の切欠きに加えて前記垂直領域と前記本体基板部に跨って切り欠かれた第２の切欠きを有する請求項２に記載のフィルムコンデンサ。
【請求項４】
前記第１の切欠きと前記第２の切欠きとの間には、隣接する前記分割繋ぎ部を接続する架け渡し部が設けられている請求項３に記載のフィルムコンデンサ。
【請求項５】
前記架け渡し部の水平方向に延びる上辺または下辺位置が前記樹脂層を形成するための充填樹脂の充填高さ基準位置に設定されている請求項４に記載のフィルムコンデンサ。
【請求項６】
前記複数の分割繋ぎ部の各々の幅方向の長さが同じである請求項１に記載のフィルムコンデンサ。
【請求項７】
前記切欠き部は、前記第１の繋ぎ部と前記第２の繋ぎ部の両方の繋ぎ部に形成され、前記幅方向における前記第１の繋ぎ部の前記切欠き部の位置と前記第２の繋ぎ部の前記切欠き部の位置が一致している請求項１から請求項６までのいずれか１項に記載のフィルムコンデンサ。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、フィルムコンデンサに関し、ＥＳＬ（等価直列インダクタンス）に対する低減効果とともにバスバーの繋ぎ部に対する折り曲げ加工性の向上を図る技術に関する。
続きを表示（約 2,500 文字）【背景技術】
【０００２】
図１１は第１の従来例における第１のバスバー２と第２のバスバー３を表している。第１のバスバー２の構成要素として、２ａは第１の本体基板部、２ｂは逆Ｌ字状に折り曲げられた第１の繋ぎ部、２ｃは第１の接続端子部、第２のバスバー３の構成要素として、３ａは第２の本体基板部、３ｂは逆Ｌ字状に折り曲げられた第２の繋ぎ部、３ｃは第２の接続端子部である。軸方向を上下方向とする姿勢のコンデンサ素子群（図示せず）の上面の電極に第１の本体基板部２ａが接続され、第２の本体基板部３ａはコンデンサ素子群の下面の電極に接続されている。第１の繋ぎ部２ｂは垂直領域と水平領域とで逆Ｌ字状に折り曲げられ、垂直領域の下端部が第１の本体基板部２ａに連接されている。複数の第１の接続端子部２ｃが第１の繋ぎ部２ｂの遊端辺２ｂ
1
からさらに水平方向外方へ突出している。第２の繋ぎ部３ｂは垂直領域と水平領域とで逆Ｌ字状に折り曲げられている。その垂直領域の下端部が第２の本体基板部３ａに連接されている。複数の第２の接続端子部３ｃが第２の繋ぎ部３ｂの遊端辺３ｂ
1
からさらに水平方向外方へ突出している。第２の繋ぎ部３ｂの垂直領域は第１の繋ぎ部２ｂの垂直領域より上下寸法が大きくなっている。第１の本体基板部２ａと第２の本体基板部３ａとの上下寸法の差はコンデンサ素子群の高さにほぼ匹敵している。第１の繋ぎ部２ｂの水平領域と第２の繋ぎ部３ｂの水平領域との上下寸法の差は両者間に介装される絶縁板の厚みにほぼ匹敵している。
【０００３】
第１の繋ぎ部２ｂの水平領域と垂直領域との境界部分が上位の折り曲げ領域２ｂ
21
であり、垂直領域と第１の本体基板部２ａとの境界部分が下位の折り曲げ領域２ｂ
22
である。
【０００４】
第１の繋ぎ部２ｂと第２の繋ぎ部３ｂとの重合領域Ａがハッチングで強調表示されている。この重合領域Ａにおいては、第１の繋ぎ部２ｂと第２の繋ぎ部３ｂとの間の狭いすき間に断面形状逆Ｌ字形のアングル状に折り曲げられた絶縁板（図示せず）が介在されている。重合領域Ａにおいて、第１の繋ぎ部２ｂに流れる電流の方向と第２の繋ぎ部３ｂに流れる電流の方向とが互いに逆方向（反平行）となり、それぞれの電流が作る磁界が互いに打ち消し合って、ないしは減じ合ってバスバーのＥＳＬを低減化する。
【０００５】
図１２は第２の従来例における第１のバスバー２と第２のバスバー３を表している。第２の従来例の場合には、複数の第１の接続端子部２ｃを第１の本体基板部２ａに連接する第１の繋ぎ部２ｂは、第１の接続端子部２ｃの横幅ｗ
3
と同程度の小幅な寸法となっている。すなわち、図１１の第１の従来例に比べると、第１の接続端子部２ｃに対応する部分を残して第１の繋ぎ部２ｂが大きく切除されている。第１の接続端子部２ｃの根元相当位置（図１１の遊端辺２ｂ
1
参照）から上位の折り曲げ領域２ｂ
21
を通り越して下位の折り曲げ領域２ｂ
22
に至る広い範囲で切除されている。２ｂ
3
′がその切除縁である。
【０００６】
このように上位・下位の折り曲げ領域２ｂ
21
，２ｂ
22
を含めた広い範囲に亘って第１の繋ぎ部２ｂを切除するのは、折り曲げ加工における折り曲げ抵抗を大幅に軽減して折り曲げ加工の精度を向上し、第１の接続端子部２ｃの位置の精度を改善するためである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
特許第６８９５６１０号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
第１の従来例（図１１）の場合には、複数の第１の接続端子部２ｃを第１の本体基板部２ａに連接する第１の繋ぎ部２ｂは、第１の本体基板部２ａの横幅の全域にわたる非分割で単一の繋ぎ部として構成されている。この繋ぎ部２ｂはベタ（すきま（切欠き）のないさま；一面に広がっているさま）の状態である。非分割で単一の（つまりベタの）繋ぎ部の場合、対向する一対のＬ字状の繋ぎ部２ｂ，３ｂどうしの重合面積Ｓ２（これは上位の第１の繋ぎ部２ｂの面積とほぼ同じ）を大きくすることも可能であるが、折り曲げ領域２ｂ
21
，２ｂ
22
の幅は本体基板部２ａの全幅と同じか同程度の大きなものとなり、折り曲げ加工における折り曲げ抵抗が大きなものになる。そのため、折り曲げ加工の精度が悪く、接続端子部および繋ぎ部先端（遊端辺２ｂ
1
）の位置の精度が低いものとなる。結果的に、重合面積Ｓ２を大きくすることができず、バスバーのＥＳＬを低減化することができない。
【０００９】
第２の従来例（図１２）の場合には、第１の接続端子部２ｃと第１の本体基板部２ａとの間に位置してこれら両者を連接する第１の繋ぎ部２ｂは、その幅ｗ
3
が第１の接続端子部２ｃと同程度の短い寸法のものとなっている。すなわち、上位の折り曲げ領域２ｂ
21
を通り下位の折り曲げ領域２ｂ
22
に至る比較的大きな面積の領域が切除されている。切除した範囲は重合領域を形成することはできない。そのため、第１の繋ぎ部２ｂと第２の繋ぎ部３ｂとの重合領域Ａが第１の従来例（図１１）に比べて大きく減少している（切除縁２ｂ
3
′参照）。
【００１０】
第２の従来例にあっては曲げ抵抗をできるだけ減じたいために切り取りの面積をなるべく大きくしている。切り取りを行うことなく残存する領域は曲げ抵抗を低減する上で不利益となるからである。その結果として重合領域Ａの面積（具体的には、分割された単位の重合面積をＳ３、接続端子部２ｃの個数をｎとして、Ｓ３×ｎの面積）が小さくなってしまい、ＥＳＬが増大悪化してしまう。
（【００１１】以降は省略されています）

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