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公開番号
2025178617
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-12-09
出願番号
2024085327
出願日
2024-05-27
発明の名称
電子装置
出願人
日機装株式会社
代理人
弁理士法人平田国際特許事務所
主分類
H10H
20/00 20250101AFI20251202BHJP()
要約
【課題】実装基板に実装された複数の電子部品のそれぞれの検査が可能な電子装置を提供する。
【解決手段】電子装置1は、配線パターン22を有する実装基板2と、実装基板2に実装され、配線パターン22を介して直列に接続された複数の電子部品と、を備える。配線パターン22は、複数の電子部品が直列に接続された直列経路部10における各電子部品の両側に形成され、各電子部品を検査するためのプローブ11が当接される複数の検査用パッド221,222,223d~223fを有する。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
配線パターンを有する実装基板と、
前記実装基板に実装され、前記配線パターンを介して直列に接続された複数の電子部品と、を備え、
前記配線パターンは、前記複数の電子部品が直列に接続された直列経路部における前記各電子部品の両側に形成され、前記各電子部品を検査するためのプローブが当接される複数の検査用パッドを有する、
電子装置。
続きを表示(約 640 文字)
【請求項2】
前記電子部品は、発光素子である、
請求項1に記載の電子装置。
【請求項3】
前記複数の検査用パッドは、前記配線パターンにおける前記複数の電子部品がそれぞれ実装される複数箇所の実装領域のうちのいずれかの実装領域から、その実装領域と隣り合う実装領域が位置する側とは異なる側に突出するよう形成された突出パッドを有する、
請求項1に記載の電子装置。
【請求項4】
前記複数の電子部品は、4つであるとともに縦横に並んで配置されている、
請求項3に記載の電子装置。
【請求項5】
前記配線パターンは、前記直列経路部における前記4つの電子部品の両側のそれぞれに形成されるとともにそれぞれ縦方向に長い2つの縦パッドを有し、
横方向における前記2つの縦パッドの間に、前記4つの電子部品が配されている、
請求項4に記載の電子装置。
【請求項6】
前記複数の突出パッドのそれぞれは、4箇所の前記実装領域のうちのいずれかの実装領域から、その実装領域と前記縦方向に隣り合う実装領域と反対側に突出するよう形成されている、
請求項5に記載の電子装置。
【請求項7】
前記横方向における前記2つの縦パッドの間であって、前記縦方向における前記4つの電子部品の一方側に、前記実装基板に実装された第2電子部品を更に有する、
請求項5に記載の電子装置。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、電子装置に関する。
続きを表示(約 1,300 文字)
【背景技術】
【0002】
特許文献1には、配線パターンを有する実装基板と、実装基板に実装された複数の発光素子とを有する発光モジュールが開示されている。特許文献1に記載の発光モジュールにおいて、配線パターンには、発光モジュールの電気的な特性の検査のためのパッドが形成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2017-174601号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献1に記載の発光モジュールにおいて、発光素子は複数存在するが、検査用のパッドは2箇所のみであり、複数の発光素子のそれぞれについての検査を行うことはできない。
【0005】
本発明は、前述の事情に鑑みてなされたものであり、実装基板に実装された複数の電子部品のそれぞれの検査が可能な電子装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明は、前記の目的を達成するため、配線パターンを有する実装基板と、前記実装基板に実装され、前記配線パターンを介して直列に接続された複数の電子部品と、を備え、前記配線パターンは、前記複数の電子部品が直列に接続された直列経路部における前記各電子部品の両側に形成され、前記各電子部品を検査するためのプローブが当接される複数の検査用パッドを有する、電子装置を提供する。
【発明の効果】
【0007】
本発明によれば、実装基板に実装された複数の電子部品のそれぞれの検査が可能な電子装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
実施の形態における、電子装置の平面図である。
実施の形態における、電子装置の分解斜視図である。
実施の形態における、実装基板の平面図である。
実施の形態における、電子装置の模式的な回路図である。
実施の形態における、電子装置の検査方法を示す第1図である。
実施の形態における、電子装置の検査方法を示す第2図である。
実施の形態における、電子装置の検査方法を示す第3図である。
実施の形態における、電子装置の検査方法を示す第4図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
[実施の形態]
本発明の実施の形態について、図1乃至図8を参照して説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、本発明を実施する上での好適な具体例として示すものであり、技術的に好ましい種々の技術的事項を具体的に例示している部分もあるが、本発明の技術的範囲は、この具体的態様に限定されるものではない。
【0010】
図1は、本形態における電子装置の平面図である。図2は、電子装置の分解斜視図である。図3は、実装基板2の平面図である。図3においては、発光素子3及び保護素子4の外形位置を二点鎖線で表している。図4は、電子装置の模式的な回路図である。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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