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公開番号
2025178124
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-12-05
出願番号
2025051384
出願日
2025-03-26
発明の名称
不良セル検出方法及び装置
出願人
三星エスディアイ株式会社
,
SAMSUNG SDI Co., LTD.
代理人
弁理士法人谷・阿部特許事務所
主分類
G01R
31/396 20190101AFI20251128BHJP(測定;試験)
要約
【課題】セルを解体することなく不良セル検出する、不良セル検出方法を提供する。
【解決手段】本方法は、セルの充電状態(State of Charge SOC)が既定の範囲に含まれるように、セルの充電又は放電の少なくとも一つを進行するステップS720と、セルの充放電が進行している間の電圧及び温度の情報を含む第1の充放電データを獲得するステップと、第1の充放電データに基づいて、セルのエントロピー値を算出するステップS730と、算出されたエントロピー値に基づいて、セルの黒鉛界面状態を推定するステップS740と、推定されたセルの黒鉛界面状態に基づいて、セルの不良の可否を判定するステップS750,S770と、を含む。
【選択図】図7
特許請求の範囲
【請求項1】
セルの充電状態(SOC)が既定の範囲に含まれるように、前記セルの充電又は放電の少なくとも一つを進行するステップと、
前記セルの充放電を進行している間の電圧及び温度の情報を含む第1の充放電データを獲得するステップと、
前記第1の充放電データに基づいて、前記セルのエントロピー値を算出するステップと、
前記算出されたエントロピー値に基づいて、前記セルの黒鉛界面状態を推定するステップと、
前記推定されたセルの黒鉛界面状態に基づいて、前記セルの不良の可否を判定するステップと、を含む、不良セル検出方法。
続きを表示(約 630 文字)
【請求項2】
前記セルが不良であると判定されることに応じて、前記セルと関連した情報を出力するステップをさらに含む、請求項1に記載の不良セル検出方法。
【請求項3】
前記セルの黒鉛界面状態は、前記セルの黒鉛負極の界面の劣化を示す、請求項1に記載の不良セル検出方法。
【請求項4】
前記既定の範囲は、前記セルの黒鉛界面状態と関連する、請求項1に記載の不良セル検出方法。
【請求項5】
前記既定の範囲は、SOC22%~50%である、請求項4に記載の不良セル検出方法。
【請求項6】
前記セルの充放電は、一定のCレートで進行される、請求項1に記載の不良セル検出方法。
【請求項7】
前記一定のCレートは、既定の閾値以上である、請求項6に記載の不良セル検出方法。
【請求項8】
前記推定するステップは、前記算出されたエントロピー値と基準エントロピー値とを比較して、前記セルの黒鉛界面状態を推定するステップを含む、請求項1に記載の不良セル検出方法。
【請求項9】
前記基準エントロピー値は、正常であると決定した複数の正常セルのエントロピー値に基づいて決定される、請求項8に記載の不良セル検出方法。
【請求項10】
前記セルは、活性化工程を進行したセルである、請求項1に記載の不良セル検出方法。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、不良セル検出方法及び装置に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
二次電池は、充電が不可能な一次電池とは異なり、充電及び放電が可能な電池である。低容量の二次電池は、スマートフォン、フィーチャーフォン、ラップトップコンピュータ、デジタルカメラ及びキャムコーダのように携帯可能な小型電子機器に使用され、大容量の二次電池は、ハイブリッド自動車や電気自動車などのモータ駆動用電源及び電力貯蔵用電池などとして広く使用されている。こうした二次電池は、正極及び負極からなる電極組立体、これを収容するケース、及び電極組立体に連結される電極端子などを含む。
【0003】
一方、二次電池の不良は、火災の発生などのような問題を誘発させる恐れがある。こうした二次電池の不良を検出するために、従来技術では、二次電池を解体した後、電子顕微鏡などを用いてセルの負極状態を確認した。しかしながら、こうした従来技術は、二次電池の内部状態を診断するためにセルを解体しなければならず、解体すると正常なセルも廃棄してしまうという問題がある。
【0004】
このような発明の背景技術に開示される前述の情報は、本発明の背景に対する理解度を向上させるためのものだけであり、よって、従来技術を構成しない情報を含むこともできる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
韓国登録特許公報第10-2558017号(2023.07.17)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本開示は、前記技術的課題を解決するための不良セル検出方法及び装置(システム)を提供する。
【0007】
ただし、本発明が解決しようとする技術的課題は、前述した課題に制限されず、言及されないまた他の課題等は、以下に記載された発明の説明から当業者に明確に理解されるべきである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
前記技術的課題を解決するための本発明の一実施例に係る不良セル検出方法は、セルの充電状態(State of Charge SOC)が既定の範囲に含まれるように、セルの充電又は放電の少なくとも一つを進行するステップと、セルの充放電を進行している間の電圧及び温度の情報を含む第1の充放電データを獲得するステップと、第1の充放電データに基づいて、セルのエントロピー値を算出するステップと、算出されたエントロピー値に基づいて、セルの黒鉛界面状態を推定するステップと、推定されたセルの黒鉛界面状態に基づいて、セルの不良の可否を判定するステップと、を含むことができる。
【0009】
技術的課題を解決するための本開示の他の実施例によれば、不良セル検出方法をコンピュータで実行するために、コンピュータ読み取り可能なコンピュータプログラムを提供できる。
【0010】
技術的課題を解決するための本発明のまた他の実施例に係る装置は、通信モジュールと、メモリと、メモリと連結され、メモリに含まれたコンピュータ読み取り可能な少なくとも一つのプログラムを実行するように構成される少なくとも一つのプロセッサとを含み、少なくとも一つのプログラムは、セルの充電状態が既定の範囲に含まれるように、セルの充電又は放電の少なくとも一つを進行し、セルの充放電を進行している間の電圧及び温度の情報を含む第1の充放電データを獲得し、第1の充放電データに基づいて、セルのエントロピー値を算出し、算出されたエントロピー値に基づいて、セルの黒鉛界面状態を推定し、推定されたセルの黒鉛界面状態に基づいて、セルの不良の可否を判定するための命令を含むことができる。
【発明の効果】
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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