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公開番号2025177782
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-12-05
出願番号2024084878
出願日2024-05-24
発明の名称検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラム
出願人アンリツ株式会社
代理人弁理士法人日誠国際特許事務所
主分類G01N 21/27 20060101AFI20251128BHJP(測定;試験)
要約【課題】検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを低減することができる検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラムを提供すること。
【解決手段】分光測定装置によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置によって参照される検量線を生成する検量線生成装置であって、複数の物品に対して分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルと、複数の物品に対する既知の真値とから検量線を算出する検量線算出部を備える。検量線算出部は、複数の吸収スペクトルの各吸収スペクトルを構成する成分データを波長ごとの波長データD1～D3に分類し、波長データが所定の条件を満たさない波長の成分データを複数の吸収スペクトルから除いて検量線を算出する。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項１】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）であって、
複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルと、前記複数の物品に対する既知の真値とから前記検量線を算出する検量線算出部（２２）を備え、
前記検量線算出部は、
前記複数の吸収スペクトルの各吸収スペクトルを構成する成分データを波長ごとの波長データに分類し、
前記波長データが所定の条件を満たさない波長の成分データを前記複数の吸収スペクトルから除いて前記検量線を算出する検量線生成装置。
続きを表示（約 930 文字）【請求項２】
前記検量線算出部は、
前記波長データと前記複数の物品の真値からなる真値データとの相関を表す相関指標を算出し、
前記相関指標に応じて前記波長データが前記所定の条件を満たしたか否かを判断する請求項１に記載の検量線生成装置。
【請求項３】
前記検量線算出部は、
前記相関指標が予め定められた閾値以上であれば、前記波長データが前記所定の条件を満たしたと判断し、前記相関指標が前記閾値未満であれば、前記波長データが前記所定の条件を満たさなかったと判断する請求項２に記載の検量線生成装置。
【請求項４】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成方法であって、
複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルと、前記複数の物品に対する既知の真値とから前記検量線を算出する検量線算出ステップを有し、
前記検量線算出ステップは、
前記複数の吸収スペクトルの各吸収スペクトルを構成する成分データを波長ごとの波長データに分類し、
前記波長データが所定の条件を満たさない波長の成分データを前記複数の吸収スペクトルから除いて前記検量線を算出する検量線生成方法。
【請求項５】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線をコンピュータに生成させる検量線生成プログラムであって、
複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルと、前記複数の物品に対する既知の真値とから前記検量線を算出する検量線算出ステップを有し、
前記検量線算出ステップは、
前記複数の吸収スペクトルの各吸収スペクトルを構成する成分データを波長ごとの波長データに分類し、
前記波長データが所定の条件を満たさない波長の成分データを前記複数の吸収スペクトルから除いて前記検量線を算出する検量線生成プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラムに関する。
続きを表示（約 1,200 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、光源から放たれた光のうち成形品を透過した透過光を信号光としてセンサに入射させ、その信号光を分析することで、成形品の成分が適正であるか否を検査する検査装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１９－１１２１９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載された検査装置は、不要な波長の信号光を含めて分析してしまうため、検査結果を誤判定してしまうことがあるという課題があった。
【０００５】
本発明は、上述のような事情に鑑みてなされたもので、検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを低減することができる検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る検量線生成装置は、分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）であって、複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルと、前記複数の物品に対する既知の真値とから前記検量線を算出する検量線算出部（２２）を備え、前記検量線算出部は、前記複数の吸収スペクトルの各吸収スペクトルを構成する成分データを波長ごとの波長データに分類し、前記波長データが所定の条件を満たさない波長の成分データを前記複数の吸収スペクトルから除いて前記検量線を算出する構成を有する。
【０００７】
この構成により、本発明に係る検量線生成装置は、波長データが所定の条件を満たさない成分データを除いて検量線を生成するため、検査装置に検査結果を誤判定させてしまうことを低減することができる。
【０００８】
なお、本発明に係る検量線生成装置において、前記検量線算出部は、前記波長データと前記複数の物品の真値からなる真値データとの相関を表す相関指標を算出し、前記相関指標に応じて前記波長データが前記所定の条件を満たしたか否かを判断するようにしてもよい。
【０００９】
この構成により、本発明に係る検量線生成装置は、波長データと真値データとの相関指標に応じて波長データが所定の条件を満たしたか否かを判断するため、波長データが所定の条件を満たさない成分データを除いて検量線を生成することができる。
【００１０】
また、本発明に係る検量線生成装置において、前記検量線算出部は、前記相関指標が予め定められた閾値以上であれば、前記波長データが前記所定の条件を満たしたと判断し、前記相関指標が前記閾値未満であれば、前記波長データが前記所定の条件を満たさなかったと判断するようにしてもよい。
（【００１１】以降は省略されています）

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