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公開番号2025179502
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-12-10
出願番号2024086296
出願日2024-05-28
発明の名称検量線生成装置、検量線生成装置の制御方法及び検量線生成装置の制御プログラム
出願人アンリツ株式会社
代理人弁理士法人日誠国際特許事務所
主分類G01N 21/27 20060101AFI20251203BHJP(測定;試験)
要約【課題】検量線を生成する時間を短縮することができる検量線生成装置、検量線生成装置の制御方法及び検量線生成装置の制御プログラムを提供すること。
【解決手段】前処理を行う波長の処理領域の候補を所定の分解能で抽出する第1処理と、処理領域の各候補に対する前処理を実行する第2処理と、各候補に対して前処理を行った結果から検量線を算出する第3処理と、各候補から算出された検量線を評価し、最も評価が高かった検量線が得られた処理領域の候補を最良候補として選択する第4処理と、分解能を上げて、最良候補に処理領域が近い候補を新たな候補として抽出する第5処理との一連の処理を実行し、第4処理を実行した後に分解能が特定の分解能になっていない場合、第5処理を実行した後に、第2処理から一連の処理を実行し、第4処理を実行した後に分解能が特定の分解能になっていた場合、最良候補を前処理の処理領域として決定する。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）であって、
真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部（２０）と、
前記複数の物品に対する前記前処理後の吸収スペクトル及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出部（２２）と、
前記検量線算出部によって算出された検量線の精度を評価する検量線評価部（２３）と、
少なくとも前記前処理の処理内容を決定する処理決定部（２４）と、を備え、
前記処理決定部は、
前記前処理を行う波長の処理領域の候補を所定の分解能で抽出する第１処理と、
前記前処理部に前記処理領域の各候補に対する前記前処理を実行させる第２処理と、
前記処理領域の各候補に対して前記前処理を行った結果から前記検量線を前記検量線算出部に算出させる第３処理と、
前記検量線算出部によって前記処理領域の各候補から算出された検量線を前記検量線評価部に評価させ、最も評価が高かった検量線が得られた前記処理領域の候補を最良候補として選択する第４処理と、
前記分解能を上げて、前記最良候補に処理領域が近い候補を前記処理領域の新たな候補として抽出する第５処理と、の一連の処理を実行し、
前記第４処理を実行した後に前記分解能が特定の分解能になっていない場合、前記第５処理を実行した後に、前記第２処理から前記一連の処理を実行し、
前記第４処理を実行した後に前記分解能が前記特定の分解能になっていた場合、前記最良候補を前記前処理の処理領域として決定する検量線生成装置。
続きを表示（約 1,900 文字）【請求項２】
前記処理決定部は、
前記第５処理において、前記最良候補の開始位置及び終了位置に対して、
前記開始位置及び前記終了位置を１分解能分減じた処理領域と、
前記開始位置を１分解能分減じて前記終了位置を１分解能分加えた処理領域と、
前記開始位置を１分解能分加えて前記終了位置を１分解能分減じた処理領域と、
前記開始位置及び前記終了位置を１分解能分加えた処理領域と、を
前記最良候補に処理領域が近い候補とする請求項１に記載の検量線生成装置。
【請求項３】
前記前処理は、実行する処理に複数の候補があり、
前記処理決定部は、
前記前処理の各候補に対して前記前処理の処理領域を決定し、
前記前処理の処理領域を決定したときの前記検量線評価部による評価が最も高かった処理の候補を前記前処理で実行する処理として決定する請求項１に記載の検量線生成装置。
【請求項４】
真値が既知の複数の物品に対して分光測定装置（１０）によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部（２０）と、
前記複数の物品に対する前記前処理後の吸収スペクトル及び前記真値から検量線を算出する検量線算出部（２２）と、
前記検量線算出部によって算出された検量線の精度を評価する検量線評価部（２３）と、を備え、
前記分光測定装置によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）を制御する制御方法であって、
前記前処理を行う波長の処理領域の候補を所定の分解能で抽出する第１処理と、
前記前処理部に前記処理領域の各候補に対する前記前処理を実行させる第２処理と、
前記処理領域の各候補に対して前記前処理を行った結果から前記検量線を前記検量線算出部に算出させる第３処理と、
前記検量線算出部によって前記処理領域の各候補から算出された検量線を前記検量線評価部に評価させ、最も評価が高かった検量線が得られた前記処理領域の候補を最良候補として選択する第４処理と、
前記分解能を上げて、前記最良候補に処理領域が近い候補を前記処理領域の新たな候補として抽出する第５処理と、の一連の処理を実行し、
前記第４処理を実行した後に前記分解能が特定の分解能になっていない場合、前記第５処理を実行した後に、前記第２処理から前記一連の処理を実行し、
前記第４処理を実行した後に前記分解能が前記特定の分解能になっていた場合、前記最良候補を前記前処理の処理領域として決定する検量線生成装置の制御方法。
【請求項５】
真値が既知の複数の物品に対して分光測定装置（１０）によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部（２０）と、
前記複数の物品に対する前記前処理後の吸収スペクトル及び前記真値から検量線を算出する検量線算出部（２２）と、
前記検量線算出部によって算出された検量線の精度を評価する検量線評価部（２３）と、を備え、
前記分光測定装置によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）をコンピュータに制御させる制御プログラムであって、
前記前処理を行う波長の処理領域の候補を所定の分解能で抽出する第１処理と、
前記前処理部に前記処理領域の各候補に対する前記前処理を実行させる第２処理と、
前記処理領域の各候補に対して前記前処理を行った結果から前記検量線を前記検量線算出部に算出させる第３処理と、
前記検量線算出部によって前記処理領域の各候補から算出された検量線を前記検量線評価部に評価させ、最も評価が高かった検量線が得られた前記処理領域の候補を最良候補として選択する第４処理と、
前記分解能を上げて、前記最良候補に処理領域が近い候補を前記処理領域の新たな候補として抽出する第５処理と、の一連の処理を実行し、
前記第４処理を実行した後に前記分解能が特定の分解能になっていない場合、前記第５処理を実行した後に、前記第２処理から前記一連の処理を実行し、
前記第４処理を実行した後に前記分解能が前記特定の分解能になっていた場合、前記最良候補を前記前処理の処理領域として決定する検量線生成装置の制御プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、検量線生成装置、検量線生成装置の制御方法及び検量線生成装置の制御プログラムに関する。
続きを表示（約 2,000 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、測定スペクトルに正規化を含む前処理を行ったＱ個の光学スペクトルとＳ個の評価用スペクトルを取得し、Ｑ個の光学スペクトルの集合からＲ個の部分集合を抽出し、Ｒ個の部分集合のそれぞれに対して、各サンプルにおける各成分の成分量を独立成分とする独立成分分析を実行してＲ×Ｎ個の成分検量用スペクトルを取得し、Ｒ×Ｎ個の各成分検量用スペクトルと評価用スペクトルとの内積値を求め、Ｒ×Ｎ個の成分検量用スペクトルの中から、目的成分の成分量と内積値との相関度が最高となるものを目的成分検量用スペクトルとして選択し、目的成分検量用スペクトルを用いて検量線を作成する装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１８－５４３０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載されたような装置は、前処理に関する複数のパラメータを適切に設定する必要がある。しかしながら、前処理の複数のパラメータを適切に設定するためには、全てのパラメータの組み合わせに基づいて検量線を生成して評価する必要があるため、従来の技術では、検量線を生成するために時間を要するといった課題があった。
【０００５】
本発明は、上述のような事情に鑑みてなされたもので、検量線を生成する時間を短縮することができる検量線生成装置、検量線生成装置の制御方法及び検量線生成装置の制御プログラムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る検量線生成装置は、分光測定装置（１０）によって測定される物品の分光スペクトルに基づいて当該物品を検査する検査装置（１１）によって参照される検量線を生成する検量線生成装置（２）であって、真値が既知の複数の物品に対して前記分光測定装置によってそれぞれ得られる複数の吸収スペクトルの前処理を行う前処理部（２０）と、前記複数の物品に対する前記前処理後の吸収スペクトル及び前記真値から前記検量線を算出する検量線算出部（２２）と、前記検量線算出部によって算出された検量線の精度を評価する検量線評価部（２３）と、少なくとも前記前処理の処理内容を決定する処理決定部（２４）と、を備え、前記処理決定部は、前記前処理を行う波長の処理領域の候補を所定の分解能で抽出する第１処理と、前記前処理部に前記処理領域の各候補に対する前記前処理を実行させる第２処理と、前記処理領域の各候補に対して前記前処理を行った結果から前記検量線を前記検量線算出部に算出させる第３処理と、前記検量線算出部によって前記処理領域の各候補から算出された検量線を前記検量線評価部に評価させ、最も評価が高かった検量線が得られた前記処理領域の候補を最良候補として選択する第４処理と、前記分解能を上げて、前記最良候補に処理領域が近い候補を前記処理領域の新たな候補として抽出する第５処理と、の一連の処理を実行し、前記第４処理を実行した後に前記分解能が特定の分解能になっていない場合、前記第５処理を実行した後に、前記第２処理から前記一連の処理を実行し、前記第４処理を実行した後に前記分解能が前記特定の分解能になっていた場合、前記最良候補を前記前処理の処理領域として決定する構成を有する。
【０００７】
この構成により、本発明に係る検量線生成装置は、分解能を上げていきながら前処理を行う波長の処理領域の候補を絞り込んでいくことによって、前処理の処理領域を決定するため、検量線を生成する時間を短縮することができる。
【０００８】
なお、本発明に係る検量線生成装置において、前記処理決定部は、前記第５処理において、前記最良候補の開始位置及び終了位置に対して、前記開始位置及び前記終了位置を１分解能分減じた処理領域と、前記開始位置を１分解能分減じて前記終了位置を１分解能分加えた処理領域と、前記開始位置を１分解能分加えて前記終了位置を１分解能分減じた処理領域と、前記開始位置及び前記終了位置を１分解能分加えた処理領域と、を前記最良候補に処理領域が近い候補とするようにしてもよい。
【０００９】
この構成により、本発明に係る検量線生成装置は、分解能を上げていきながら前処理を行う波長の処理領域の候補を絞り込んでいくことができる。
【００１０】
また、本発明に係る検量線生成装置において、前記前処理は、実行する処理に複数の候補があり、前記処理決定部は、前記前処理の各候補に対して前記前処理の処理領域を決定し、前記前処理の処理領域を決定したときの前記検量線評価部による評価が最も高かった処理の候補を前記前処理で実行する処理として決定するようにしてもよい。
（【００１１】以降は省略されています）

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