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公開番号2025171363
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-11-20
出願番号2024076608
出願日2024-05-09
発明の名称外観検査装置
出願人株式会社リコー
代理人弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類G01N 21/88 20060101AFI20251113BHJP(測定;試験)
要約【課題】外観検査において、GRAY領域の製品の欠陥を高精度に良否判別することのできる、外観検査装置を提供する。
【解決手段】本発明は、被検査体の撮像範囲の照度ムラが平均値を基準に±10%以下でありかつ前記被検査体の表面に光を照射する光源と、前記光源で光が照射された前記被検査体を撮像する撮像手段と、異なる撮像方法で前記撮像手段により撮像される複数の撮像画像から抽出した特徴量を用いて、機械学習にて、前記被検査体の欠陥の良否を判別する判別手段と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
被検査体の撮像範囲の照度ムラが平均値を基準に±10%以下でありかつ前記被検査体の表面に光を照射する光源と、
前記光源で光が照射された前記被検査体を撮像する撮像手段と、
異なる撮像方法で前記撮像手段により撮像される複数の撮像画像から抽出した特徴量を用いて、機械学習にて、前記被検査体の欠陥の良否を判別する判別手段と、
を備える、外観検査装置。
続きを表示(約 610 文字)【請求項2】
前記光源で光が照射された前記被検査体を撮像する前記撮像手段は、画素数が8000px以上のラインスキャンカメラである、請求項1に記載の外観検査装置。
【請求項3】
前記光源で光が照射された前記被検査体を撮像する前記撮像手段の位置を、前記撮像手段への光の入射方向と直交方向に変えて、複数個所で撮像し、
前記判別手段は、複数個所の前記撮像画像から抽出した前記特徴量を用いて、前記被検査体の欠陥の良否を判別する、請求項1または2に記載の外観検査装置。
【請求項4】
前記判別手段は、3種類以上の異なる撮像方法で前記撮像手段により撮像される前記撮像画像から抽出した前記特徴量を用いて、機械学習にて、前記被検査体である感光体の良否を判別する、請求項1または2に記載の外観検査装置。
【請求項5】
前記判別手段は、前記撮像画像から抽出した前記特徴量として、欠陥の面積値を用いて、機械学習にて、前記被検査体の良否を判別する、請求項1または2に記載の外観検査装置。
【請求項6】
前記判別手段は、ある1つの撮像結果からルールベースで、前記被検査体の良否を判別した後に、異なる撮像方法で前記撮像手段により撮像される複数の前記撮像画像から抽出した前記特徴量を用いて、機械学習にて、前記被検査体の欠陥の良否を判別する、請求項1または2に記載の外観検査装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、外観検査装置に関する。
続きを表示(約 1,300 文字)【背景技術】
【0002】
製造業において、市場に高品質かつ安心な製品を提供するために検査工程により良品または不良品を適切に判別する必要がある。一般に外観検査においては、カメラや照明等の撮像光学系を組み合わせ、製品の外観を撮影した後、適切な画像処理を行うことで製品の欠陥の有無や大きさを判別し、良否を判定する技術がある(特許文献1~3参照)。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
しかしながら、このような従来の技術では、ルールベースや機械学習モデルを用いて、良否(OKとNG)の閾値を引く際に、閾値付近には良品と不良品が混在する領域(GRAY領域)が生じる場合、不良品を流出させないために、GRAY領域は全てNGと判定するように閾値を引く関係上、一部良品をNGと判定し、不良品を過検出してしまう問題がある。
【0004】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、外観検査において、GRAY領域の製品の欠陥を高精度に良否判別することのできる、外観検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、被検査体の撮像範囲の照度ムラが平均値を基準に±10%以下でありかつ前記被検査体の表面に光を照射する光源と、前記光源で光が照射された前記被検査体を撮像する撮像手段と、異なる撮像方法で前記撮像手段により撮像される複数の撮像画像から抽出した特徴量を用いて、機械学習にて、前記被検査体の欠陥の良否を判別する判別手段と、を備える。
【発明の効果】
【0006】
本発明によれば、外観検査において、GRAY領域の製品の欠陥を高精度に良否判別することができる、という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【0007】
図1は、本実施の形態にかかる外観検査装置の概略図である。
図2は、本実施の形態にかかる外観検査装置の概略図である。
図3は、本実施の形態にかかる外観検査装置における制御処理の流れの一例を説明するための図である。
図4は、本実施の形態にかかる外観検査装置における制御処理の流れの一例を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【0008】
以下に添付図面を参照して、外観検査装置の実施の形態を詳細に説明する。
【0009】
図1および図2は、本実施の形態にかかる外観検査装置の概略図である。図3および図4は、本実施の形態にかかる外観検査装置における制御処理の流れの一例を説明するための図である。撮像方式12は、被検査体1、光源2、撮像手段3、ステージ5、および制御部6を有している。撮像方式13は、被検査体1、光源7、撮像手段8、ステージ9、およびマルチスリット10,11を有している。
【0010】
被検査体1は、図1および図2に示す円筒型形状以外に、シート型形状も用いることができる。
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する

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