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公開番号2025170565
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-11-19
出願番号2024075239
出願日2024-05-07
発明の名称コネクタピン検査装置、コネクタピン検査方法
出願人株式会社デンソー
代理人弁理士法人サトー
主分類G01B 11/02 20060101AFI20251112BHJP(測定;試験)
要約【課題】コネクタに設けられている複数のコネクタピンを一層精度良く検査できるようにしたコネクタピン検査装置およびコネクタピン検査方法を提供する。
【解決手段】本開示に係るコネクタピン検査装置10は、コネクタ100に設けられている複数のコネクタピン101を検査する検査装置であって、前記コネクタピンが存在する可能性があることを示す第1画像を取得する第1取得部21と、前記コネクタピンの高さを示す画像であって、前記第1画像よりもノイズが大きい第2画像を取得する第2取得部22と、前記第1取得部により取得された前記第1画像のうち前記コネクタピンが存在する可能性がある位置を仮存在位置として特定する仮存在位置特定部23と、前記第2取得部により取得された前記第2画像のうち前記仮存在位置に示されている高さを、前記コネクタピンの高さとして特定する高さ特定部24と、を備える。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
コネクタ（１００）に設けられている複数のコネクタピン（１０１）を検査する検査装置（１０）であって、
前記コネクタピンが存在する可能性があることを示す第１画像を取得する第１取得部（２１）と、
前記コネクタピンの高さを示す画像であって、前記第１画像よりもノイズが大きい第２画像を取得する第２取得部（２２）と、
前記第１取得部により取得された前記第１画像のうち前記コネクタピンが存在する可能性がある位置を仮存在位置として特定する仮存在位置特定部（２３）と、
前記第２取得部により取得された前記第２画像のうち前記仮存在位置に示されている高さを、前記コネクタピンの高さとして特定する高さ特定部（２４）と、
を備えるコネクタピン検査装置。
続きを表示（約 1,300 文字）【請求項２】
前記仮存在位置特定部は、前記第１画像のうち、前記コネクタピンが存在する可能性がある所定の存在エリア内の位置を前記仮存在位置として特定する請求項１に記載のコネクタピン検査装置。
【請求項３】
前記仮存在位置特定部は、前記第１画像のうち、前記存在エリア内において輝度が所定値以上であって且つ面積が所定値以上である位置を前記仮存在位置として特定する請求項２に記載のコネクタピン検査装置。
【請求項４】
前記コネクタピンが正規の状態で設けられているマスタコネクタ（１００Ｍ）について取得された前記第２画像のうち前記コネクタピンの高さが示されている位置を仮位置として特定し、前記マスタコネクタについて取得された前記第１画像のうち前記仮位置を含む所定範囲のエリアを前記存在エリアとして登録する存在エリア登録部（２５）をさらに備える請求項２に記載のコネクタピン検査装置。
【請求項５】
前記存在エリアは、前記第１画像のうち所定の基準位置を基準として設定されている請求項２に記載のコネクタピン検査装置。
【請求項６】
前記コネクタピンが正規の状態で設けられているマスタコネクタ（１００Ｍ）について取得された前記第１画像のうち前記コネクタピンが存在する可能性がある位置とは異なる位置を前記基準位置として登録する基準位置登録部（２６）をさらに備える請求項５に記載のコネクタピン検査装置。
【請求項７】
前記高さ特定部は、前記第２画像のうち前記仮存在位置に示されている高さ、および、前記第２画像のうち前記仮存在位置の周辺に示されている高さを平均した高さを前記コネクタピンの高さとして特定する請求項１に記載のコネクタピン検査装置。
【請求項８】
コネクタ（１００）に設けられている複数のコネクタピン（１０１）を検査する検査方法であって、
前記コネクタピンが存在する可能性があることを示す第１画像を取得する第１取得処理と、
前記コネクタピンの高さを示す画像であって、前記第１画像よりもノイズが大きい第２画像を取得する第２取得処理と、
前記第１取得処理により取得された前記第１画像のうち前記コネクタピンが存在する可能性がある位置を仮存在位置として特定する仮存在位置特定処理と、
前記第２取得処理により取得された前記第２画像のうち前記仮存在位置に示されている高さを、前記コネクタピンの高さとして特定する高さ特定処理と、
を含むコネクタピン検査方法。
【請求項９】
前記仮存在位置特定処理では、前記第１画像のうち、前記コネクタピンが存在する可能性がある所定の存在エリア内の位置を前記仮存在位置として特定する請求項８に記載のコネクタピン検査方法。
【請求項１０】
前記仮存在位置特定処理では、前記第１画像のうち、前記存在エリア内において輝度が所定値以上であって且つ面積が所定値以上である位置を前記仮存在位置として特定する請求項９に記載のコネクタピン検査方法。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、コネクタに設けられる複数のコネクタピンを検査するコネクタピン検査装置およびコネクタピン検査方法に関する。
続きを表示（約 2,900 文字）【背景技術】
【０００２】
コネクタに設けられる複数のコネクタピンを検査するための様々な技術が考えられている。例えば特許文献１に開示されているピン曲がり検出装置は、照明装置によりコネクタピンの先端を照明した状態でラインセンサカメラによりコネクタピンを撮像し、その撮像結果から得られるコネクタピンの間隔に基づいて、コネクタピンの曲がりを判定する構成となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１２－５２９６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
例えば自動車は、近年、電動化の流れが進んでおり、これに伴い、自動車に搭載される電気部品や電子部品が多種多様化している。コネクタは、電気部品や電子部品を接続するために重要な部品である。従って、例えばコネクタピンの曲がりなどといった不具合がコネクタに発生していないか否かを検査する技術について、その検査精度の向上がますます重要な課題となっている。
【０００５】
本開示は、コネクタに設けられている複数のコネクタピンを一層精度良く検査できるようにしたコネクタピン検査装置およびコネクタピン検査方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示に係るコネクタピン検査装置１０は、コネクタ１００に設けられている複数のコネクタピン１０１を検査する検査装置であって、前記コネクタピンが存在する可能性があることを示す第１画像を取得する第１取得部２１と、前記コネクタピンの高さを示す画像であって、前記第１画像よりもノイズが大きい第２画像を取得する第２取得部２２と、前記第１取得部により取得された前記第１画像のうち前記コネクタピンが存在する可能性がある位置を仮存在位置として特定する仮存在位置特定部２３と、前記第２取得部により取得された前記第２画像のうち前記仮存在位置に示されている高さを、前記コネクタピンの高さとして特定する高さ特定部２４と、を備える。
【０００７】
本開示に係るコネクタピン検査方法は、コネクタ１００に設けられている複数のコネクタピン１０１を検査する検査方法であって、前記コネクタピンが存在する可能性があることを示す第１画像を取得する第１取得処理と、前記コネクタピンの高さを示す画像であって、前記第１画像よりもノイズが大きい第２画像を取得する第２取得処理と、前記第１取得処理により取得された前記第１画像のうち前記コネクタピンが存在する可能性がある位置を仮存在位置として特定する仮存在位置特定処理と、前記第２取得処理により取得された前記第２画像のうち前記仮存在位置に示されている高さを、前記コネクタピンの高さとして特定する高さ特定処理と、を含む。
【０００８】
本開示に係るコネクタピン検査装置１０およびコネクタピン検査方法によれば、第２画像に比べノイズの影響が小さい第１画像に基づいてコネクタピンが存在する可能性がある位置を仮存在位置として絞り込む。そして、コネクタピン検査装置１０は、第１画像に比べノイズの影響が大きい第２画像において仮存在位置に対応する位置に示されている高さをコネクタピンの高さとして特定する。これにより、ノイズの影響が大きい第２画像であっても、その第２画像のうちコネクタピンが存在する可能性が高い部分に示されている高さ情報に基づいて、コネクタピンの高さを特定することができる。つまり、ノイズの影響を極力排除してコネクタピンの高さを特定することができる。そのため、コネクタに設けられている複数のコネクタピンが正規の態様で設けられているか否かを一層精度良く検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
本開示に係るコネクタピン検査装置の構成例を概略的に示す図
本開示に係るコネクタの構成例を概略的に示す平面図
本開示に係る撮像ユニットの構成例を概略的に示す図
本開示に係るコネクタピン検査装置の制御系の構成例を概略的に示すブロック図
本開示に係る撮像ユニットを第１撮像モードで機能させる場合を概略的に示す図
本開示に係る撮像ユニットを第２撮像モードで機能させる場合を概略的に示す図
本開示に係る輝度画像の一例を概略的に示す図
本開示に係る高さ画像の一例を概略的に示す図
本開示に係るコネクタピンの高さ画像がノイズの影響を受けることを説明する図
本開示に係るコネクタピン検査装置による自動登録制御の一例を概略的に示すフローチャート
本開示に係るコネクタピン検査装置による自動登録制御においてマスタコネクタの輝度画像および高さ画像を取得した状態を例示する図
本開示に係るコネクタピン検査装置による自動登録制御において仮位置を特定した状態を例示する図
本開示に係るコネクタピン検査装置による自動登録制御において存在エリアを設定した状態を例示する図
本開示に係るコネクタピン検査装置による自動登録制御において正規位置を特定した状態を例示する図
本開示に係るコネクタピン検査装置による検査制御の一例を概略的に示すフローチャート
本開示に係るコネクタピン検査装置による検査制御において検査対象コネクタの輝度画像および高さ画像を取得した状態を例示する図
本開示に係るコネクタピン検査装置による検査制御において基準位置を基準として存在エリアを配置した状態を例示する図
本開示に係るコネクタピン検査装置による検査制御において仮存在位置を特定した状態を例示する図
本開示に係るコネクタピン検査装置による検査制御においてコネクタピンの高さを特定した状態を例示する図
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本開示のコネクタピン検査装置およびコネクタピン検査方法に係る一実施形態について図面を参照しながら説明する。図１に例示するコネクタピン検査装置１０は、コネクタ１００に設けられている複数のコネクタピン１０１を検査するための装置、つまり、コネクタ１００に複数のコネクタピン１０１が正規の態様で設けられているか否かを判定可能な装置である。正規の態様は、具体的には、複数のコネクタピン１０１が、予め定められた所定の位置に、予め定められた所定の間隔で、曲がったり折れたりすることなく設けられた態様と定義することができる。コネクタ１００は、例えば自動車などに搭載される電気部品や電子部品などの基板に設けられるものであり、当該コネクタ１００には図示しない接続ケーブルが接続される。コネクタ１００に複数のコネクタピン１０１が正規の態様で配置されていれば、図示しない接続ケーブルをコネクタ１００に接続することが可能である。コネクタ１００に複数のコネクタピン１０１が正規の態様で配置されていなければ、図示しない接続ケーブルをコネクタ１００に接続することが不能あるいは困難となる。
（【００１１】以降は省略されています）

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