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公開番号2025166586
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-11-06
出願番号2024070708
出願日2024-04-24
発明の名称情報処理方法及び情報処理装置
出願人株式会社東芝
代理人弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類G01R 31/00 20060101AFI20251029BHJP(測定;試験)
要約【課題】事前に取得した加速試験の結果を用いて最適な加速条件を迅速に取得可能な情報処理方法等を提供すること。
【解決手段】実施形態に係る情報処理方法は、経時的に劣化する特性を有する対象電子部品の加速試験条件を推定する情報処理方法であり、複数の前記対象電子部品に対して複合的な負荷因子を含む加速試験条件を用いた加速試験を実行して、複数の対象電子部品のそれぞれについての漏れ電流の変化傾向を含む計測データを取得し、計測データに基づきベイズ最適化処理を用いて加速試験条件を最適化すること、を備える。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
経時的に劣化する特性を有する対象電子部品の加速試験条件を推定する情報処理方法であって、
複数の前記対象電子部品に対して複合的な負荷因子を含む加速試験条件を用いた加速試験を実行して、複数の前記対象電子部品のそれぞれについての漏れ電流の劣化特性の変化傾向を含む計測データを取得し、
前記計測データに基づきベイズ最適化処理を用いて前記加速試験条件を最適化すること、
を備える情報処理方法。
続きを表示（約 610 文字）【請求項２】
前記加速試験条件は、前記対象電子部品の実使用の故障モードを逸脱しない範囲及び前記対象電子部品の構成材料の限界点を超えない範囲である、
請求項１に記載の情報処理方法。
【請求項３】
前記ベイズ最適化処理を繰り返し実行し、前記加速試験条件を最適化する、
請求項１に記載の情報処理方法。
【請求項４】
前記ベイズ最適化処理において用いられる目的変数は、前記複合的な負荷因子としての温度及び電圧を少なくとも入力として含む関数である、
請求項１に記載の情報処理方法。
【請求項５】
前記目的変数は、複数の前記対象電子部品の故障時間、前記故障時間のばらつき、故障に至るまでの特性の傾きのうちの少なくとも一つを入力として含む関数である、
請求項４に記載の情報処理方法。
【請求項６】
経時的に劣化する特性を有する対象電子部品の加速試験条件を推定する情報処理を実行する情報処理装置であって、
複数の前記対象電子部品に対して複合的な負荷因子を含む加速試験条件を用いた加速試験を実行して、複数の前記対象電子部品のそれぞれについての漏れ電流の劣化特性の変化傾向を含む計測データを取得する取得部と、
前記計測データに基づきベイズ最適化処理を用いて前記加速試験条件を最適化する計算部と、
を備える情報処理装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、情報処理方法及び情報処理装置に関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
電子部品の信頼性や寿命を短期間で評価する手法として、室温以上の温度において電圧を印加して、絶縁抵抗値の変化傾向をもとに故障寿命時間を算出する手法がある。また、所定の加速試験条件で試験を実施し、短時間で精度良く故障時間を見積る評価手法、ベイズ最適化により材料の処理条件を最適化する提案もなされている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２２－１９１９１１号公報
特開２０００－１３１３６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
積層セラミックコンデンサを例に挙げると、温度と電圧を加速試験条件とした場合、そのパターンは膨大な量となる。従って、実使用の故障モードを逸脱しない加速範囲で、故障時間等を短時間で推定可能な試験条件の探索は困難である。
【０００５】
本開示が解決しようとする課題は、電子部品の故障時間等を短時間で推定可能な試験条件を、従来に比して迅速且つ高精度で取得可能な情報処理方法及び情報処理装置を実現することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
実施形態に係る情報処理方法は、経時的に劣化する特性を有する対象電子部品の加速試験条件を推定する情報処理方法であり、複数の前記対象電子部品に対して複合的な負荷因子を含む加速試験条件を用いた加速試験を実行して、複数の前記対象電子部品のそれぞれについての漏れ電流の劣化特性の変化傾向を含む計測データを取得し、前記計測データに基づきベイズ最適化処理を用いて前記加速試験条件を最適化すること、を備える。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
図１は、実施形態に係る情報処理システムの構成の一例を説明するための図である。
図２は、加速試験条件に用いるデータを計測するための実験装置の一例を示した図である。
図３は、対象電子部品としての積層セラミックコンデンサの一例を示した図である。
図４は、実施形態に係る情報処理装置が実施する加速試験条件の最適化処理の流れを示したフローチャートである。
図５は、各積層セラミックコンデンサの漏れ電流の経時的変化（漏れ電流特性）の一例を示した図である。
図６は、図５に示した積層セラミックコンデンサの漏れ電流特性の一部を抜粋した図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して、実施形態に係る情報処理システム、情報処理装置及び情報処理方法について説明する。なお、同一の参照符号を付した部分は同様の動作をおこなうものとして、重複する説明を適宜省略する。以下の実施形態は開示の技術を限定するものではない。そして、各実施形態は、処理内容を矛盾させない範囲で適宜組み合わせることが可能である。
【０００９】
一般的に、電子部品の経年的な故障の要因としては、絶縁抵抗の低下等の電気的なものが多い。そのため、市場で電子部品を使用する際には、加速試験を実施し、耐用年数を把握することが重要である。加速試験は、加速劣化試験とも呼ばれ、製品を過酷な条件下に置き、意図的に劣化を進めて製品寿命を検証する試験である。加速試験で得られた故障時間と既知の加速係数を乗じることにより、実際の年月を経過せずとも、所定環境における耐用年数の推定が可能となる。
【００１０】
図１は、実施形態に係る情報処理システムＳの構成の一例を説明するための図である。情報処理システムＳは、ベイズ最適化を用いて、対象電子部品の加速試験条件の最適化処理を実行する。
（【００１１】以降は省略されています）

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