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公開番号2025079522
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-05-22
出願番号2023192246
出願日2023-11-10
発明の名称乾燥装置及び乾燥方法
出願人株式会社アサヒテクノ
代理人個人,個人
主分類F26B 5/04 20060101AFI20250515BHJP(乾燥)
要約【課題】課題は、乾燥中のサンプルの炭化を防止することである。
【解決手段】乾燥装置1は、乾燥炉20、真空ポンプ50、電磁波加熱器40、温度センサー70及び制御部45を備える。サンプル100が乾燥炉20に収容される。真空ポンプ50は、乾燥炉20の内側のガスを吸引して、乾燥炉20の内側の雰囲気を減圧する。電磁波加熱器40は、乾燥炉20に設けられ、サンプル100に対して電磁波を照射してサンプル100を加熱する。温度センサー70は、サンプル100の内部に設けられ、サンプル100の内部の温度を検出する。制御部45は、温度センサー70によって検出された温度に基づいて電磁波加熱器40を制御する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
サンプルが収容される乾燥炉と、
前記乾燥炉の内側のガスを吸引して、前記乾燥炉の内側の雰囲気を減圧する真空ポンプと、
前記乾燥炉に設けられ、前記サンプルに対して電磁波を照射して前記サンプルを加熱する電磁波加熱器と、
前記サンプルの内部に設けられ、前記サンプルの内部の温度を検出する温度センサーと、
前記温度センサーによって検出された温度に基づいて前記電磁波加熱器を制御する制御部と、
を備える乾燥装置。
続きを表示（約 1,200 文字）【請求項２】
前記制御部が、前記温度センサーによって検出された温度に基づいて前記電磁波加熱器を制御することによって、前記サンプルの内部の温度を設定温度に制御する
請求項１に記載の乾燥装置。
【請求項３】
前記制御部が、
前記温度センサーによって検出された温度を第１閾値及びそれよりも高い第２閾値と比較する比較処理と、
前記比較処理の比較の結果、前記温度センサーによって検出された温度が前記第１閾値以下に低下したら、前記電磁波加熱器を作動させる作動処理と、
前記比較処理の比較の結果、前記温度センサーによって検出された温度が前記第２閾値以下に上昇したら、前記電磁波加熱器を停止する停止処理と、
を実行する
請求項１に記載の乾燥装置。
【請求項４】
前記乾燥炉の内側に設けられ、前記サンプルを動かすアクチュエーター
を備える請求項１から３のいずれか一項に記載の乾燥装置。
【請求項５】
前記サンプルの長さ方向の直交方向に前記サンプルを締め付ける締め付け具
を備える請求項１から３のいずれか一項に記載の乾燥装置。
【請求項６】
前記乾燥炉に設けられ、繰り返し開閉し、開放により前記乾燥炉の内側の雰囲気の圧力を上昇させる開閉弁、
を備える請求項１から３のいずれか一項に記載の乾燥装置。
【請求項７】
不活性ガスを前記開閉弁に供給する供給源
を備える請求項６に記載の乾燥装置。
【請求項８】
サンプルが収容された乾燥炉に設けられた電磁波加熱器により電磁波を前記サンプルに照射することによって前記サンプルを加熱する加熱工程と、
前記サンプルの加熱中に前記乾燥炉の内側のガスを真空ポンプにより吸引することによって、前記乾燥炉の内側の雰囲気を減圧する減圧工程と、
前記サンプルの加熱中に前記サンプルの内部の温度を温度センサーにより検出して、その温度に基づいて前記電磁波加熱器を制御する制御工程と、
を含む乾燥方法。
【請求項９】
前記制御工程において、前記温度センサーによって検出された温度に基づいて前記電磁波加熱器を制御することによって、前記サンプルの内部の温度を設定温度に制御する
請求項８に記載の乾燥方法。
【請求項１０】
前記制御工程が、
前記温度センサーによって検出された温度を第１閾値及びそれよりも高い第２閾値と比較する比較工程と、
前記比較工程の比較の結果、前記温度センサーによって検出された温度が前記第１閾値以下に低下したら、前記電磁波加熱器を作動させる作動工程と、
前記比較工程の比較の結果、前記温度センサーによって検出された温度が前記第２閾値以下に上昇したら、前記電磁波加熱器を停止する停止工程と、
を含む
請求項８に記載の乾燥方法。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、乾燥装置及び乾燥方法に関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１は、木材などのようなサンプルを乾燥させる乾燥技術を開示する。具体的には、以下の通りである。まず、サンプルを乾燥炉に収容する。次に、マグネトロンによって電磁波を発生させて、その電磁波をサンプルに照射することによってサンプルを加熱する。サンプルの加熱中に、乾燥炉の内側のガスを真空ポンプによって吸引し、乾燥炉の内側の圧力を真空圧に低下させる。サンプルの加熱中に、乾燥炉の内側の雰囲気を間欠的に大気圧に開放する。サンプルの内部の水分が減圧及び加熱により気化することで、サンプルの内部に気泡が発生する。サンプルの内部の気泡が大気圧開放により圧壊され、気泡の圧壊に伴う衝撃波がサンプルの細胞壁に微細な空隙を形成する。そのため、サンプルが効率的に乾燥される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特許第６７３９８２１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
マグネトロンによるサンプルの長時間加熱はサンプルの炭化の要因になってしまう。
そこで、本発明の１以上の実施形態の目的は、乾燥中のサンプルの炭化を防止することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一態様によれば、乾燥装置が、乾燥炉、真空ポンプ、電磁波加熱器、温度センサー及び制御部を備える。サンプルが前記乾燥炉に収容される。前記真空ポンプは、前記乾燥炉の内側のガスを吸引して、前記乾燥炉の内側の雰囲気を減圧する。前記電磁波加熱器は、前記乾燥炉に設けられ、前記サンプルに対して電磁波を照射して前記サンプルを加熱する。前記温度センサーは、前記サンプルの内部に設けられ、前記サンプルの内部の温度を検出する。前記制御部は、前記温度センサーによって検出された温度に基づいて前記電磁波加熱器を制御する。
【０００６】
本発明の一態様によれば、乾燥方法は、加熱工程、減圧工程及び制御工程を含む。前記加熱工程は、サンプルが収容された乾燥炉に設けられた電磁波加熱器により電磁波を前記サンプルに照射することによって前記サンプルを加熱する工程である。前記減圧工程は、前記サンプルの加熱中に前記乾燥炉の内側の雰囲気を真空ポンプにより吸引することによって、前記乾燥炉の内側の雰囲気を減圧する工程である。前記制御工程は、前記サンプルの加熱中に前記サンプルの内部の温度を温度センサーにより検出して、その温度に基づいて前記電磁波加熱器を制御する工程である。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の実施形態の乾燥装置及び乾燥方法は、乾燥中のサンプルの炭化防止に貢献する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
図１は、乾燥装置の側面図である。
図２は、サンプル及び締め付け具の側面図である。
図３は、サンプルの内部の温度の変化と、乾燥炉内の温度の変化と、サンプルの含水率の変化とを示すチャートである。
図４は、変形例の乾燥装置の側面図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を参照して、実施形態について説明する。実施形態の特徴及び技術的な効果は、以下の詳細な説明及び図面から理解される。ただし、本発明の範囲は、以下に開示された実施形態に限定されない。図面は例示のみのために提供されるため、本発明の範囲は図面の例示に限定されない。
【００１０】
〔１．乾燥装置及びサンプルの概要〕
図１は、乾燥装置１の側面図である。図２は、乾燥装置１の内側に収容されたサンプル１００を示す側面図である。
（【００１１】以降は省略されています）

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