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公開番号2025032942
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-03-12
出願番号2023138478
出願日2023-08-28
発明の名称画像形成装置
出願人キヤノン株式会社
代理人個人,個人
主分類G03G 15/16 20060101AFI20250305BHJP(写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ)
要約【課題】転写バイアスの制御の精度を十分に維持しつつ、制御時間を短くすることを可能とする。
【解決手段】像担持体7と、転写部材8と、転写部T2にバイアスを印加する印加部D2と、印加部D2により転写部T2にバイアスが印加されている際の電圧又は電流を検知する検知部19と、制御部150と、を有し、制御部150は、転写部T2で上記転写を行っていない時に、転写部T2に第1の試験バイアスと該第1の試験バイアスよりも電圧の絶対値が大きい第2の試験バイアスとを印加し、検知部19の検知結果に基づいて上記転写時の転写バイアスを設定する調整動作を実行するように制御可能である画像形成装置100は、制御部150が、上記調整動作において、上記第1の試験バイアスを転写部T2に印加する第1の時間を、上記第2の試験バイアスを転写部T2に印加する第2の時間よりも短くするように制御する構成とする。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
トナー像を担持する像担持体と、
前記像担持体から被転写体にトナー像を転写する転写部を形成する転写部材と、
前記転写部にバイアスを印加する印加部と、
前記印加部により前記転写部にバイアスが印加されている際に前記転写部に印加される電圧又は前記転写部に流れる電流を検知する検知部と、
前記印加部を制御可能な制御部と、
を有し、
前記制御部は、前記転写部で前記転写を行っていない時に、前記印加部により前記転写部に第１の試験バイアスと前記第１の試験バイアスよりも電圧の絶対値が大きい第２の試験バイアスとを印加し、前記第１の試験バイアス及び前記第２の試験バイアスがそれぞれ前記転写部に印加されている際の前記検知部の検知結果に基づいて、前記転写時に前記印加部により前記転写部に印加する転写バイアスを設定する調整動作を実行するように制御可能である画像形成装置において、
前記制御部は、前記調整動作において、前記第１の試験バイアスを前記転写部に印加する第１の時間を、前記第２の試験バイアスを前記転写部に印加する第２の時間よりも短くするように制御することを特徴とする画像形成装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記第１の時間は、前記第２の時間の５％以上９０％未満であることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記転写部材は、前記像担持体の表面に接触して前記転写部を形成するローラであり、
前記第２の時間は、少なくとも前記ローラの略１周分の時間であることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記像担持体は、無端状のベルトで構成され、
前記転写部材は、前記ベルトの内周面に接触する内ローラに前記ベルトを介して当接して前記転写部を形成する外ローラであり、
前記第２の時間は、少なくとも前記外ローラの略１周分の時間であることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記印加部は、前記外ローラにバイアスを印加することで前記転写部にバイアスを印加することを特徴とする請求項４に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記印加部は、前記内ローラにバイアスを印加することで前記転写部にバイアスを印加することを特徴とする請求項４に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記転写部材は、前記像担持体の表面に接触する無端状のベルトを介して前記像担持体に当接して前記転写部を形成するローラであり、
前記第２の時間は、少なくとも前記ローラの略１周分の時間であることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記像担持体は、無端状のベルトで構成され、
前記転写部材は、前記ベルトの内周面に接触する内ローラに前記ベルトを介して当接して前記転写部を形成する外ローラであり、
前記第２の時間は、少なくとも前記内ローラ及び前記外ローラのうち電気抵抗値が高い方のローラの略１周分の時間であることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項９】
温度又は湿度の少なくとも一方を検知する環境検知手段を有し、
前記制御部は、前記環境検知手段の検知結果に基づいて、前記第１の試験バイアス及び前記第２の試験バイアスのうち少なくとも１つを変更するように制御することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記制御部は、前記調整動作を、単数又は複数の記録材にトナー像からなる画像を形成するプリントジョブにおける前記転写を行う前の準備動作において実行するように制御することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像形成装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真方式や静電記録方式を用いた複写機、プリンタ、ファクシミリ装置、印刷装置、あるいはこれらのうち複数の機能を有する複合機などの画像形成装置に関するものである。
続きを表示（約 2,100 文字）【背景技術】
【０００２】
電子写真方式などを用いた画像形成装置は、像担持体上に形成されたトナー像を被転写体に転写する工程を含む画像形成プロセスにより画像を形成して出力する。例えば、画像形成装置は、像担持体と転写部材との当接部に形成される転写部を被転写体としての記録材が通過する際に転写部材に転写バイアスを印加することで、転写部に形成される電界の作用により像担持体から記録材にトナー像を転写する。転写部材としては、回転可能なローラで構成された転写ローラが広く用いられている。
【０００３】
転写ローラは、例えば、１×１０
６
～１×１０
１０
Ω程度の電気抵抗値を有するように構成されている。転写ローラは、導電性の芯金の周りに弾性層が設けられて構成されており、この弾性層に導電性が持たされている。転写ローラは、弾性層への導電性の持たせ方により、電子導電系の転写ローラと、イオン導電系の転写ローラと、の２種類に大別される。電子導電系の転写ローラとしては、ＥＰＤＭ（エチレンプロピレンジエンゴム）やウレタンゴムなどを用いて形成される弾性層に電子導電剤としてのカーボンや金属酸化物などの導電性フィラーが分散されて構成されたローラを例として挙げることができる。また、イオン導電系の転写ローラとしては、ウレタンゴムなどを用いて形成される弾性層の材料自体がイオン導電性を有するローラや、イオン導電剤として界面活性剤などが弾性層に分散されて構成されたローラを例として挙げることができる。
【０００４】
転写バイアスの制御には、定電流制御と定電圧制御とがある。良好な転写性を得るためには、転写部に供給する電荷量を所定の電荷量に制御するのが理想である。そのための１つの方法として、転写バイアスを定電流制御することが考えられる。しかし、転写部における記録材のある部分と無い部分とで転写ローラの感光ドラムに対する負荷インピーダンスが異なり、記録材の無い部分で負荷インピーダンスが小さくなる。そのため、使用される記録材のサイズによっては、記録材の無い部分に多くの電流が集中的に流入してしまい、記録材のある部分で転写不良が発生してしまう可能性がある。これに対し、転写バイアスを定電圧制御する場合は、転写ローラから転写部に供給する電荷量は常に同程度となる。そのため、転写バイアスは定電圧制御されることが多い。
【０００５】
ここで、特に、イオン導電系の転写ローラの電気抵抗値は、雰囲気環境の温湿度によって変動しやすいことが知られている。転写ローラの電気抵抗値の変動などに起因して、所望の転写電流が得られなくなると、転写不良などが発生する可能性がある。
【０００６】
そこで、転写部（主に転写ローラ）の電気抵抗値に応じて転写バイアスを設定するための次のようなＡＴＶＣ制御（ＡｃｔｉｖｅＴｒａｎｓｆｅｒＶｏｌｔａｇｅＣｏｎｔｒｏｌ）がある（特許文献１）。つまり、例えば画像形成前の準備動作（前回転工程、前多回転工程）において、複数水準の試験バイアス（試験電流又は試験電圧）が転写ローラに印加されて、転写部（主に転写ローラ）の電気抵抗値に関する情報としての電圧－電流特性（ＩＶ特性）が取得される。そして、その電圧－電流特性に基づいて、画像形成時（転写時）に所望の転写電流が流れるように、転写ローラに印加される転写バイアスの定電圧制御の目標電圧が決定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
特開２０２０－２７１４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、転写ローラには、周方向（回転方向）における電気抵抗値のムラ（以下、「周ムラ」ともいう。）が存在することがある。この周ムラは、転写ローラの電気抵抗値を調整する材料の不均一のみならず、部分的に温度や湿度の変化の影響を受けることでも顕著となることがある。具体的には、定着装置からの熱による、転写ローラの定着装置に対向する位置とその反対側の位置とでの電気抵抗値の差などである。
【０００９】
そのため、従来のＡＴＶＣ制御では、複数水準の試験バイアスがそれぞれ転写ローラの略１周分の時間にわたり転写ローラに印加される。そして、各水準の試験バイアスが転写ローラに印加されている際に検知された電流又は電圧の平均値が用いられて、電圧－電流特性が取得される。
【００１０】
しかしながら、上述のような従来のＡＴＶＣ制御では、試験バイアスの水準の数に応じて、電圧－電流特性を取得するための時間が必要となる。例えば３水準の試験バイアスを用いる場合、転写ローラの３周分の時間が必要となる。そのため、ＡＴＶＣ制御のための時間により、ダウンタイム（画像を出力できない期間）が長くなることがある。
（【００１１】以降は省略されています）

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