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公開番号
2025030968
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-03-07
出願番号
2023136877
出願日
2023-08-25
発明の名称
溶接評価装置及び溶接評価方法
出願人
株式会社東芝
,
東芝エネルギーシステムズ株式会社
代理人
弁理士法人東京国際特許事務所
主分類
G01N
29/14 20060101AFI20250228BHJP(測定;試験)
要約
【課題】溶接による溶け込み深さを高精度に計測することができること。
【解決手段】レーザ溶接時に溶接箇所2から生じたAE波を検出するAEセンサ21と、AEセンサから出力され処理されたAE信号の波形データを周波数解析する周波数解析部32と、周波数解析部にて得られた解析結果から、溶接箇所における溶け込み深さの評価に寄与する周波数帯域の周波数成分を抽出する周波数帯域抽出部33と、周波数帯域抽出部にて抽出された周波数帯域の周波数成分を逆周波数解析して波形データを求める逆周波数解析部34と、逆周波数解析部にて得られた波形データの強度に基づいて、溶接箇所の溶け込み深さを算出する溶け込み深さ算出部35と、を有して構成されたものである。
【選択図】図2
特許請求の範囲
【請求項1】
溶接時に溶接箇所から生じた弾性波を検出するセンサと、
前記センサから出力され処理された検出信号の波形データを周波数解析する周波数解析部と、
前記周波数解析部にて得られた解析結果から、前記溶接箇所における溶け込み深さの評価に寄与する周波数帯域の周波数成分を抽出する周波数帯域抽出部と、
前記周波数帯域抽出部にて抽出された前記周波数帯域の前記周波数成分を逆周波数解析して波形データを求める逆周波数解析部と、
前記逆周波数解析部にて得られた前記波形データの強度に基づいて、前記溶接箇所の前記溶け込み深さを算出する溶け込み深さ算出部と、を有して構成されたことを特徴とする溶接評価装置。
続きを表示(約 960 文字)
【請求項2】
前記センサから出力され処理された検出信号の波形データから、この波形データの包絡線を求める第1包絡線導出部を更に有し、
溶け込み深さ算出部は、前記第1包絡線導出部にて得られた前記包絡線の時間的変動に基づいて、溶接箇所の溶け込み深さの時系列変化を算出するよう構成されたことを特徴とする請求項1に記載の溶接評価装置。
【請求項3】
前記逆周波数解析部にて得られた波形データから、この波形データの包絡線を求める第2包絡線導出部を更に有し、
溶け込み深さ算出部は、前記第2包絡線導出部にて得られた前記包絡線の時間的変動に基づいて、溶接箇所の溶け込み深さの時系列変化を算出するよう構成されたことを特徴とする請求項1に記載の溶接評価装置。
【請求項4】
前記溶け込み深さ算出部は、溶接条件、弾性波の時系列データ、及び溶け込み深さの変動量を教師データとして学習し、前記溶接条件及び前記弾性波の時系列データを説明変数として入力し、前記溶け込み深さの時系列変化を算出する機能を更に有することを特徴とする請求項1に記載の溶接評価装置。
【請求項5】
前記弾性波の時系列データは、センサから出力され処理された検出信号の波形データ、または溶け込み深さの評価に寄与する周波数帯域の周波数成分を逆周波数解析して得られた波形データであることを特徴とする請求項4に記載の溶接評価装置。
【請求項6】
溶接時に溶接箇所から生じた弾性波をセンサが検出するステップと、
前記センサから出力され処理された検出信号の波形データを周波数解析部が周波数解析するステップと、
前記周波数解析部にて得られた解析結果から、前記溶接箇所における溶け込み深さの評価に寄与する周波数帯域の周波数成分を周波数帯域抽出部が抽出するステップと、
前記周波数帯域抽出部にて抽出された前記周波数帯域の前記周波数成分を逆周波数解析部が逆周波数解析して波形データを求めるステップと、
前記逆周波数解析部にて得られた前記波形データの強度に基づいて、溶け込み深さ算出部が前記溶接箇所の前記溶け込み深さを算出するステップと、をすることを特徴とする溶接評価方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、溶接時に溶接箇所から生じた弾性波に基づいて溶接箇所の溶け込み深さを計測して評価する溶接評価装置及び溶接評価方法に関する。
続きを表示(約 2,000 文字)
【背景技術】
【0002】
レーザ溶接において、溶接中の溶接箇所で発生するアコースティックエミッション(AE:Acoustic Emission)によるAE波をAEセンサにより検出し、AE波の検出により得られたAE信号を、溶接箇所の異常判別や溶け込み深さの予測などの品質評価に用いる技術が知られている。溶接中に発生するAE波は弾性波の一種である。しかしながら、検出されるAE波には、品質評価に貢献しないAE波を含む場合や、溶接箇所以外から発生している環境音(例えばノイズ)等も同時に検出され、溶接箇所の品質評価に影響を与えてしまう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2010-266404号公報
特開2007-111745号公報
特許第3292008号公報
特開2006-181585号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献1では、溶接により発生するAE波形以外に、レーザビームのワークに対する初期衝突時やスパッタ発生時、異物付着時のように溶接には貢献しない大きなAEを含む場合があり、これらを溶接異常と判断しないための閾値を設定することで対策し、溶接部の異常判別を可能にしている。また、特許文献2では、円筒体に対するレーザ照射角度や円筒体回転角度の変化によってAE信号レベルが異なることから、それぞれの角度に応じた閾値を設定することで、溶け込み深さ、溶接リード長さ、溶接飛びを識別し、良品溶接時のAE波の判定値と比較して溶接不良の有無を判別している。
【0005】
上述の特許文献1及び2に記載の技術は、正常状態のAE信号から閾値を設定して品質不良を判別している。また、溶け込み深さの計測も閾値を参照して正常か否かの判定を行っている状況であり、正確な溶け込み深さをモニタリングできていない。
【0006】
特許文献3は、キーホール内部のプラズマ光をフォトダイオードにて計測し、特定の周波数信号の強度から溶融状態の良否を判定している。また、特許文献4では、レーザアークハイブリッド溶接時にレーザ光の反射光をフォトダイオードで検出して、ポロシティ及び未溶着時に生じる周波数帯の変化を捉えている。これらの特許文献3及び4に記載の技術は、取得した情報から周波数帯をさらに詳細に確認して必要な情報を抽出している。ところが、これらの特許文献3及び4に記載の技術では、レーザ溶接中の発光を計測して、溶融状態や溶接不良により生じる特徴的な周波数帯を用いて評価を行っている。
【0007】
本発明の実施形態は、上述の事情を考慮してなされたものであり、溶接による溶け込み深さを高精度に計測することができる溶接評価装置及び溶接評価方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明の実施形態における溶接評価装置は、溶接時に溶接箇所から生じた弾性波を検出するセンサと、前記センサから出力され処理された検出信号の波形データを周波数解析する周波数解析部と、前記周波数解析部にて得られた解析結果から、前記溶接箇所における溶け込み深さの評価に寄与する周波数帯域の周波数成分を抽出する周波数帯域抽出部と、前記周波数帯域抽出部にて抽出された前記周波数帯域の前記周波数成分を逆周波数解析して波形データを求める逆周波数解析部と、前記逆周波数解析部にて得られた前記波形データの強度に基づいて、前記溶接箇所の前記溶け込み深さを算出する溶け込み深さ算出部と、を有して構成されたことを特徴とするものである。
【0009】
本発明の実施形態における溶接評価方法は、溶接時に溶接箇所から生じた弾性波をセンサが検出するステップと、前記センサから出力され処理された検出信号の波形データを周波数解析部が周波数解析するステップと、前記周波数解析部にて得られた解析結果から、前記溶接箇所における溶け込み深さの評価に寄与する周波数帯域の周波数成分を周波数帯域抽出部が抽出するステップと、前記周波数帯域抽出部にて抽出された前記周波数帯域の前記周波数成分を逆周波数解析部が逆周波数解析して波形データを求めるステップと、前記逆周波数解析部にて得られた前記波形データの強度に基づいて、溶け込み深さ算出部が前記溶接箇所の前記溶け込み深さを算出するステップと、をすることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【0010】
本発明の実施形態によれば、溶接による溶け込み深さを高精度に計測することができる。
【図面の簡単な説明】
(【0011】以降は省略されています)
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