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公開番号
2025020773
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-02-13
出願番号
2023124352
出願日
2023-07-31
発明の名称
半導体装置
出願人
株式会社東芝
,
東芝デバイス&ストレージ株式会社
代理人
弁理士法人鈴榮特許綜合事務所
主分類
H01L
21/52 20060101AFI20250205BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体装置は、ペレットと、上記ペレットを第1方向に挟む第1導電体及び第2導電体と、上記ペレット及び上記第1導電体を接合する第1接合材と、上記ペレット及び上記第2導電体を接合する第2接合材と、を備え、上記第1導電体の上記ペレットと対向する第1面は、上記第1方向に見て、上記ペレットと重なる複数の突起、及び上記ペレットを囲むように設けられる溝を有し、上記複数の突起の高さの設計値は第1値であり、上記溝の体積は、上記ペレットと上記第1導電体との間の第1高さが上記第1値より大きい第2値である場合の、上記ペレットと上記第1導電体とにより挟まれた部分の体積に基づく。
【選択図】図4
特許請求の範囲
【請求項1】
ペレットと、
前記ペレットを第1方向に挟む第1導電体及び第2導電体と、
前記ペレット及び前記第1導電体を接合する第1接合材と、
前記ペレット及び前記第2導電体を接合する第2接合材と、
を備え、
前記第1導電体の前記ペレットと対向する第1面は、前記第1方向に見て、前記ペレットと重なる複数の突起、及び前記ペレットを囲むように設けられる溝を有し、
前記複数の突起の高さの設計値は第1値であり、
前記溝の体積は、前記ペレットと前記第1導電体との間の第1高さが前記第1値より大きい第2値である場合の、前記ペレットと前記第1導電体とにより挟まれた部分の体積に基づく、
半導体装置。
続きを表示(約 880 文字)
【請求項2】
前記溝の体積は、前記第1高さが前記第2値である場合の前記挟まれた部分の体積から、前記第1高さが前記第1値である場合の前記挟まれた部分の体積を減算した体積以上である、
請求項1記載の半導体装置。
【請求項3】
前記第2値は、前記複数の突起の高さのばらつきにおける最大値である、
請求項1記載の半導体装置。
【請求項4】
前記複数の突起は3個以上である、
請求項1記載の半導体装置。
【請求項5】
前記第1導電体において、
前記ペレットより外側の第1部分の幅は、第1幅であり、
前記第1部分と異なる、前記ペレットより外側の第2部分の幅は、前記第1幅より狭い第2幅であり、
前記溝は、前記第1部分において、前記第2部分における前記溝の幅より広い幅を有する第1溝部分を含む、
請求項1乃至請求項4のいずれか一項記載の半導体装置。
【請求項6】
前記第1方向に見て、前記第1導電体における前記溝の内側の領域において、外周部に部分的に設けられた不濡れ領域、及び前記溝と接する濡れ領域が設けられる、
請求項1乃至請求項4のいずれか一項記載の半導体装置。
【請求項7】
前記不濡れ領域は、レジストの塗布、又は酸化処理が実行された領域である、
請求項6記載の半導体装置。
【請求項8】
前記第1方向に見て、前記第1導電体における前記溝の内側の領域において、外周部に部分的に設けられた不濡れ領域、及び前記第1溝部分と接する濡れ領域が設けられる、
請求項5記載の半導体装置。
【請求項9】
前記不濡れ領域は、前記外周部において、前記濡れ領域を除いて全体的に設けられる、
請求項8記載の半導体装置。
【請求項10】
前記第1接合材及び前記第2接合材は、はんだを含む、
請求項1記載の半導体装置。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、半導体装置に関する。
続きを表示(約 1,300 文字)
【背景技術】
【0002】
接合材を介してペレットの上下面が導電体と接続される構造の半導体装置が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2013-16603号公報
特開2012-104709号公報
特開2007-96042号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
信頼性の高い半導体装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0005】
実施形態に係る半導体装置は、ペレットと、上記ペレットを第1方向に挟む第1導電体及び第2導電体と、上記ペレット及び上記第1導電体を接合する第1接合材と、上記ペレット及び上記第2導電体を接合する第2接合材と、を備え、上記第1導電体の上記ペレットと対向する第1面は、上記第1方向に見て、上記ペレットと重なる複数の突起、及び上記ペレットを囲むように設けられる溝を有し、上記複数の突起の高さの設計値は第1値であり、上記溝の体積は、上記ペレットと上記第1導電体との間の第1高さが上記第1値より大きい第2値である場合の、上記ペレットと上記第1導電体とにより挟まれた部分の体積に基づく。
【図面の簡単な説明】
【0006】
実施形態に係る半導体装置の外観の一例を示す斜視図。
実施形態に係る半導体装置の内部構造の一例を示す分解図。
実施形態に係る半導体装置の平面レイアウトの一例を示す平面図。
実施形態に係る半導体装置の断面構造の一例を示す、図3のIV-IV線に沿った断面図。
第1変形例に係る半導体装置の平面レイアウトの一例を示す平面図。
第2変形例に係る半導体装置の平面レイアウトの一例を示す平面図。
第3変形例に係る半導体装置の平面レイアウトの一例を示す平面図。
【発明を実施するための形態】
【0007】
以下に、実施形態について図面を参照して説明する。図面の寸法及び比率は、必ずしも現実のものと同一とは限らない。
【0008】
なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付す。同様の構成を有する要素同士を特に区別する場合、同一符号の末尾に、互いに異なる文字又は数字を付加する場合がある。
【0009】
1 実施形態
実施形態に係る半導体装置について説明する。
【0010】
図1は、実施形態に係る半導体装置の外観の一例を示す斜視図である。半導体装置1は、産業用のパワーデバイスである。半導体装置1は、例えば薄型の直方体形状を有する。以下では、半導体装置1の厚さ方向を、上下方向、又はZ方向と呼ぶ。また、半導体装置1の構成要素が上下方向に対向する2面を有する場合、当該2面をそれぞれ下面及び上面と呼ぶ。また、Z方向に垂直な平面内における、互いに垂直な2つの方向をX方向及びY方向と呼ぶ。
(【0011】以降は省略されています)
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