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公開番号2025030215
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-03-07
出願番号2023135311
出願日2023-08-23
発明の名称電気光学装置および電子機器
出願人セイコーエプソン株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G09F 9/30 20060101AFI20250228BHJP(教育;暗号方法;表示;広告;シール)
要約【課題】温度検出素子への光の入射による特性変動を抑制することができる電気光学装置、および電子機器を提供すること。
【解決手段】電気光学装置は、複数の画素を有する表示領域と、表示領域の外側に位置する周辺領域とを含む電気光学装置であって、第1基板と、第2基板と、第1基板と第2基板との間に配置され、電界に応じて光学的特性が変化する電気光学層と、を備え、第1基板は、基板と、表示領域に設けられる複数の画素電極と、周辺領域、に設けられる温度検出素子と、周辺領域に設けられ、平面視で温度検出素子に重なる第1遮光膜と、周辺領域に設けられ、平面視で温度検出素子に重なる第2遮光膜と、を備え、第2遮光膜、温度検出素子、および第1遮光膜とは、この順に基板から並ぶ。
【選択図】図6
特許請求の範囲【請求項１】
複数の画素を有する表示領域と、前記表示領域の外側に位置する周辺領域とを含む電気光学装置であって、
第１基板と、第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置され、電界に応じて光学的特性が変化する電気光学層と、を備え、
前記第１基板は、
基板と、
前記表示領域に設けられる複数の画素電極と、
前記周辺領域に設けられる温度検出素子と、
前記周辺領域に設けられ、平面視で前記温度検出素子に重なる第１遮光膜と、
前記周辺領域に設けられ、平面視で前記温度検出素子に重なる第２遮光膜と、を備え、
前記第２遮光膜、前記温度検出素子、および前記第１遮光膜とは、この順に前記基板から並ぶことを特徴とする電気光学装置。
続きを表示（約 940 文字）【請求項２】
前記第１遮光膜は、タングステンまたはアルミニウムを含む、
請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記第２遮光膜は、タングステンまたはアルミニウムを含む、
請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記第１基板は、前記温度検出素子に電気的に接続される電極をさらに備え、
前記温度検出素子、前記第１遮光膜、および前記電極は、この順に前記基板から並ぶ、
請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記温度検出素子は、ダイオードである、
請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項６】
前記温度検出素子は、入力側と出力側とを含み、
前記出力側は、前記入力側よりも前記表示領域から遠い、
請求項５に記載の電気光学装置。
【請求項７】
前記温度検出素子が、ＰＮ接合ダイオードである場合、
前記第１遮光膜および前記第２遮光膜は、平面視でＰＮ接合部に重なる、
請求項５に記載の電気光学装置。
【請求項８】
前記第１基板は、前記表示領域に設けられるトランジスター、をさらに備え、
前記トランジスターは、前記画素電極に電気的に接続されるドレインを含む半導体層を含み、
前記温度検出素子は、前記半導体層と同層に設けられる、
請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項９】
前記トランジスターは、前記半導体層と前記画素電極との間の層に配置され、前記半導体層を平面視で重なるゲート電極をさらに含み、
前記温度検出素子は、前記ゲート電極が設けられる層、または、前記半導体層と前記ゲート電極との間の層に設けられる、
請求項８に記載の電気光学装置。
【請求項１０】
前記第１基板は、前記周辺領域に設けられ、前記第１遮光膜と前記第２遮光膜とを接続する接続部をさらに備え、
前記接続部は、前記第１遮光膜および前記第２遮光膜よりも前記表示領域に近い、
請求項１に記載の電気光学装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気光学装置および電子機器に関する。
続きを表示（約 2,000 文字）【背景技術】
【０００２】
プロジェクター等の電子機器には、例えば、画素ごとに光学的特性を変更可能な液晶表示装置等の電気光学装置が用いられる。当該電気光学装置の例として、特許文献１に記載の電気光学装置が知られている。
【０００３】
特許文献１に記載の電気光学装置は、画素領域に複数の画素が設けられた第１基板と、枠状の遮光膜を備える第２基板と、温度検出素子と、を備える。温度検出素子は、第１基板に設けられる。また、温度検出素子は、遮光膜と平面視で重なる位置に設けられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０２１－１８３６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、第１基板と第２基板とは離間しているため、第１基板に設けられる温度検出素子に対して、第２基板に設けられる遮光膜によって温度検出素子への光の入射を抑制することは難しい。よって、従来の構成では、温度検出素子への光の入射による特性変動を抑制することが難しい。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の電気光学装置の一態様は、複数の画素を有する表示領域と、前記表示領域の外側に位置する周辺領域とを含む電気光学装置であって、第１基板と、第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置され、電界に応じて光学的特性が変化する電気光学層と、を備え、前記第１基板は、基板と、前記表示領域に設けられる複数の画素電極と、前記周辺領域に設けられる温度検出素子と、前記周辺領域に設けられ、平面視で前記温度検出素子に重なる第１遮光膜と、前記周辺領域に設けられ、平面視で前記温度検出素子に重なる第２遮光膜と、を備え、前記第２遮光膜、前記温度検出素子、および前記第１遮光膜とは、この順に前記基板から並ぶ。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
第１実施形態に係る電気光学装置の平面図である。
図１に示す電気光学装置のＡ－Ａ線の断面図である。
図１の第１基板の電気的な構成を示す等価回路図である。
図２の第１基板の平面図である。
図４に示す温度検出回路の回路図である。
図２に示す第１基板の一部の断面図である。
図６の第１遮光膜、第２遮光膜および温度検出素子の平面的な配置を示す図である。
第２実施形態の第１基板の一部の断面図である。
第３実施形態の第１基板の一部の断面図である。
図９の第１遮光膜、第２遮光膜および温度検出素子の平面的な配置を示す図である。
第４実施形態の第１基板の一部の断面図である。
電子機器の一例であるパーソナルコンピューターを示す斜視図である。
電子機器の一例であるスマートフォンを示す平面図である。
電子機器の一例であるプロジェクターを示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施形態を説明する。なお、図面において各部の寸法または縮尺は実際と適宜に異なり、理解を容易にするために模式的に示す部分もある。また、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの形態に限られない。
【０００９】
１．電気光学装置
Ａ. 第１実施形態
Ａ１．基本構成
図１は、第１実施形態に係る電気光学装置１００の平面図である。図２は、図１に示す電気光学装置１００のＡ－Ａ線の断面図である。また、以下では、説明の便宜上、互いに直交するＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸を適宜用いて説明する。また、Ｘ軸に沿う一方向をＸ１方向と表記し、Ｘ１方向とは反対の方向をＸ２方向と表記する。同様に、Ｙ軸に沿う一方向をＹ１方向と表記し、Ｙ１方向とは反対の方向をＹ２方向と表記する。Ｚ軸に沿う一方向をＺ１方向と表記し、Ｚ１方向とは反対の方向をＺ２方向と表記する。
【００１０】
また、本明細書において、「要素α上の要素β」とは、要素βが要素αの上方に位置することを意味する。したがって、「要素α上の要素β」とは、要素βが要素αに直接的に接触している場合のみならず、要素αと要素βとが離間している場合も含む。また、要素αと要素βとの「電気的な接続」は、要素αと要素βとが直接的に接合されることで導通する構成のほか、要素αと要素βとが他の導電体を介して間接的に導通する構成も含まれる。また、「略等しい」とは、厳密に等しい場合のほか、製造誤差および測定誤差程度の差異を有する場合を含む。
（【００１１】以降は省略されています）

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