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公開番号
2024151200
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2024-10-24
出願番号
2023064417
出願日
2023-04-11
発明の名称
巻取機構および試験片回収システム
出願人
株式会社島津製作所
代理人
弁理士法人クシブチ国際特許事務所
主分類
G01N
3/04 20060101AFI20241017BHJP(測定;試験)
要約
【課題】伸びた試験片を適切に回収する。
【解決手段】巻取機構(100)は、伸びて破断した試験片(T)を掴んでいるチャック部(61、62、81、82)から前記試験片(T)を巻取って回収する巻取機構(100)であって、前記チャック部(61、62、81、82)に向けて相対的に進退する巻取部(121)を備え、前記巻取部(121)は複数の巻取棒(118)を備え、前記巻取部(121)を回転させて複数の前記巻取棒(118)により前記試験片(T)を巻き取って回収する。
【選択図】図7
特許請求の範囲
【請求項1】
伸びて破断した試験片を掴んでいるチャック部から前記試験片を巻取って回収する巻取機構であって、前記チャック部に向けて相対的に進退する巻取部を備え、前記巻取部は複数の巻取棒を備え、前記巻取部を回転させて複数の前記巻取棒により前記試験片を巻き取って回収する巻取機構。
続きを表示(約 1,000 文字)
【請求項2】
前記巻取部は、前記巻取棒を待機位置と巻取位置との間で進退させる進退機構を備える請求項1に記載の巻取機構。
【請求項3】
前記巻取部は、前記巻取棒を前記巻取位置に進出させた状態で前記試験片を巻取り、前記巻取棒を前記待機位置に後退させる際に前記巻取った前記試験片を前記巻取棒から離脱させる請求項2に記載の巻取機構。
【請求項4】
試験片に引張試験を行う試験装置と、伸びて破断した試験片を前記試験装置から回収する回収装置と、を備える試験片回収システムであって、
前記回収装置のチャック部から前記試験片を巻取って回収する巻取機構を備え、前記巻取機構は、前記回収装置のチャック部に向けて相対的に進退する巻取部を備え、前記巻取部は複数の巻取棒を備え、前記巻取部を回転させて複数の前記巻取棒により前記試験片を巻き取って回収する試験片回収システム。
【請求項5】
前記試験装置は、前記試験片の第1端を掴む第1のチャック部と、前記試験片の第2端を掴む第2のチャック部と、を備え、
前記回収装置は、前記第1のチャック部から破断した前記試験片を回収する第1の回収機構と、前記第2のチャック部から破断した前記試験片を回収する第2の回収機構と、を備え、
前記巻取機構は、前記第1の回収機構および前記第2の回収機構のそれぞれに応じて設けられ、
前記第1の回収機構および前記第2の回収機構のそれぞれは、破断した前記試験片を掴む一対の前記チャック部を有し、
前記巻取機構は、対応する前記一対のチャック部の間に相対的に進退可能に設けられる
請求項4に記載の試験片回収システム。
【請求項6】
前記第1の回収機構および前記第2の回収機構のそれぞれは、前記試験片を回収する回収位置と、回収した前記試験片を廃棄する廃棄位置との間を移動可能に設けられ、
前記第1の回収機構および前記第2の回収機構は、前記試験片が破断する前に、前記回収位置に移動され、
前記試験片が破断した場合に、前記一対のチャック部を開放位置から掴み位置に移動させる
請求項5に記載の試験片回収システム。
【請求項7】
前記回収機構が回収位置に移動した場合に、前記一対のチャック部のそれぞれは、前記試験装置の前記第1のチャック部および前記第2のチャック部のうちの対応するチャック部の内側と外側に配置される
請求項5または6に記載の試験片回収システム。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、巻取機構および試験片回収システムに関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
従来、チャックにより試験片の両端を掴み、試験片の破断試験を行う試験機が知られている。この種の試験機では、試験片回収装置を備えている場合があり、破断後の試験片をチャックから自動的に取り出すことがある(例えば、特許文献1参照)。特許文献1には、破断後も大きく収縮しないフィルムなどで構成された試験片を回収する構成が記載されている。特許文献1では、チャックに掴まれた試験片を回収チャックで挟んで回収しており、特に下側の試験片については回収時に二つの回収チャックを順に受け渡して搬送することにより試験片を上下反転させて回収している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
実用新案登録第3119809号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
試験片の伸びが大きい場合には、破断後の試験片を挟んで搬送するだけでは、伸びた試験片が試験装置や回収装置などに引っ掛かった状態となる恐れがあり、適切に回収できない恐れがあった。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、伸びた試験片を適切に回収することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明の第一の態様は、伸びて破断した試験片を掴んでいるチャック部から前記試験片を巻取って回収する巻取機構であって、前記チャック部に向けて相対的に進退する巻取部を備え、前記巻取部は複数の巻取棒を備え、前記巻取部を回転させて複数の前記巻取棒により前記試験片を巻き取って回収する巻取機構である。
【0006】
本発明の第二の態様は、試験片に引張試験を行う試験装置と、伸びて破断した試験片を前記試験装置から回収する回収装置と、を備える試験片回収システムであって、前記回収装置のチャック部から前記試験片を巻取って回収する巻取機構を備え、前記巻取機構は、前記回収装置のチャック部に向けて相対的に進退する巻取部を備え、前記巻取部は複数の巻取棒を備え、前記巻取部を回転させて複数の前記巻取棒により前記試験片を巻き取って回収する試験片回収システムである。
【発明の効果】
【0007】
本発明の態様によれば、伸びた試験片が試験装置などに引っ掛かっても巻取部で巻き取るため、引っかかった状態を解消できる。また、巻取ることにより伸びた試験片を塊状にして回収し易くできる。よって、伸びた試験片を適切に回収することができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
実施形態に係る材料試験機を示す正面図である。
上チャック、下チャック、下部回収装置、および、上部回収装置の斜視図である。
下部回収装置の平面図である。
下部回収装置が回収位置に移動した場合の回収機構と下チャックとの位置関係を示す図である。
巻取機構の断面図である。
巻取機構が回収機構から試験片を巻き取る場合を示す図である。
図6の続きであって巻取機構が回収機構から試験片を巻き取る場合を示す図である。
図7の続きであって巻取機構が回収機構から試験片を廃棄する場合を示す図である。
制御装置の試験片回収処理の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
【0010】
[1.実施形態]
図1は、実施形態に係る材料試験機1を示す正面図である。
本実施形態の材料試験機1は、試験片Tに対して試験力としての試験荷重を付与することにより、試験片Tの引張力を自動で測定する材料試験機である。
(【0011】以降は省略されています)
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