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公開番号2024043066
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-03-29
出願番号2022148050
出願日2022-09-16
発明の名称固体撮像装置
出願人ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
代理人個人
主分類H01L 27/146 20060101AFI20240322BHJP(基本的電気素子)
要約【課題】分離壁上部での光の反射を抑制する固体撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像装置1は、互いに隣接し、同一波長帯域の光を受光する第1受光部100a及び第2受光部100bと、第1受光部及び第2受光部の間に設けられた画素内分離壁104と、を含む画素10A、10Bを備える。第1受光部は、第1光電変換素子102aと、第1光電変換素子の光の入射側に設けられ、入射された光に第1位相を付与する第1位相付与構造101aと、を有する。第2受光部は、第2光電変換素子102bと、第2光電変換素子の光の入射側に設けられ、入射された光に第1位相とは異なる第2位相を付与する第2位相付与構造101bと、を有する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
互いに隣接し、同一波長帯域の光を受光する第1及び第2受光部と、
前記第1及び第2受光部の間に設けられた分離壁と、
を含む画素を備え、
前記第1受光部は、
第1光電変換素子と、
前記第1光電変換素子の前記光の入射側に設けられ、入射光に第1位相を付与する第1位相付与構造と、
を有し、
前記第2受光部は、
第2光電変換素子と、
前記第2光電変換素子の前記光の入射側に設けられ、入射光に前記第1位相とは異なる第2位相を付与する第2位相付与構造と、
を有する、固体撮像装置。
続きを表示(約 1,700 文字)【請求項2】
前記分離壁は、少なくとも前記第1及び第2光電変換素子の間に設けられ、
前記第1及び第2位相付与構造は、前記分離壁の前記光の入射側に位置する、請求項1に記載の固体撮像装置。
【請求項3】
前記第1及び第2位相の位相差の絶対値は、Nを奇数として、(Nπ-π/2)以上(Nπ+π/2)以下の値である、請求項1に記載の固体撮像装置。
【請求項4】
前記第1及び第2光電変換素子が、半導体基板内に面内方向に並べて設けられ、
前記第1位相付与構造は、
前記半導体基板とは屈折率が異なる部分であって、前記半導体基板の前記光の入射側の面に設けられた第1部分と、
前記半導体基板の一部であって、前記第1部分の前記光の入射側とは反対側に位置する第2部分と、
を有し、
前記第2位相付与構造は、前記半導体基板の前記光の入射側の面に設けられ、
前記第1部分及び前記第2位相付与構造は、前記光の入射側の面が面一である、請求項1に記載の固体撮像装置。
【請求項5】
前記第1部分の屈折率n

、厚さd

、前記第2位相付与構造の屈折率n

、厚さd

(≧d

)、前記半導体基板の屈折率n
s
、前記光の波長λについて、Nを奇数として、
(Nλ/2-λ/4)≦|n



+n

(d

-d

)-n



|≦(Nλ/2+λ/4)が成立する、請求項4に記載の固体撮像装置。
【請求項6】
前記第1及び第2光電変換素子が、半導体基板内に面内方向に並べて設けられ、
前記半導体基板の前記光の入射側に絶縁膜が設けられ、
前記第1位相付与構造は、
前記絶縁膜とは屈折率が異なる部分であって、前記半導体基板の前記光の入射側の面に設けられた第1部分と、
前記絶縁膜の一部であって、前記第1部分の前記光の入射側に位置する第2部分と、
を有し、
前記第2位相付与構造は、前記半導体基板と前記絶縁膜との間に設けられ、
前記第1部分及び前記第2位相付与構造は、前記光の入射側とは反対側の面が、面一である、請求項1に記載の固体撮像装置。
【請求項7】
前記第1部分の屈折率n

、厚さd

、前記第2位相付与構造の屈折率n

、厚さd

(≧d

)、前記絶縁膜の屈折率n

、前記光の波長λについて、Nを奇数として、
(Nλ/2-λ/4)≦|n



+n

(d

-d

)-n



|≦(Nλ/2+λ/4)が成立する、請求項6に記載の固体撮像装置。
【請求項8】
前記第1位相付与構造は、複数の第1微細構造を有し、
前記第2位相付与構造は、複数の第2微細構造を有する、請求項1に記載の固体撮像装置。
【請求項9】
前記複数の第1微細構造は、屈折率が異なる第1及び第2種の第1微細構造であって面内方向に交互に並ぶ第1及び第2種の第1微細構造を含み、
前記複数の第2微細構造は、屈折率が異なる第1及び第2種の第2微細構造であって面内方向に交互に並ぶ第1及び第2種の第2微細構造を含む、請求項8に記載の固体撮像装置。
【請求項10】
前記第1種の第1微細構造の体積の総和及び前記第2種の第1微細構造の体積の総和の比と、前記第1種の第2微細構造の体積の総和及び前記第2種の第2微細構造の総和の比とが異なる、請求項9に記載の固体撮像装置。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本開示に係る技術(以下「本技術」とも呼ぶ)は、固体撮像装置に関する。
続きを表示(約 6,100 文字)【背景技術】
【0002】
従来の固体撮像装置には、撮像及び位相差検出を兼ねる、複数の受光部を有する画素を備えるものがある(例えば特許文献1参照)。
【0003】
この固体撮像装置では、互いに隣接する受光部の間に分離壁が設けられ、同一波長帯域の光を受光部毎に受光する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2021-044582号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、従来の固体撮像装置では、分離壁上部での光の反射を抑制することに関して改善の余地があった。
【0006】
そこで、本技術は、分離壁上部での光の反射を抑制することができる固体撮像装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本技術は、互いに隣接し、同一波長帯域の光を受光する第1及び第2受光部と、
前記第1及び第2受光部の間に設けられた分離壁と、
を含む画素を備え、
前記第1受光部は、
第1光電変換素子と、
前記第1光電変換素子の前記光の入射側に設けられ、入射光に第1位相を付与する第1位相付与構造と、
を有し、
前記第2受光部は、
第2光電変換素子と、
前記第2光電変換素子の前記光の入射側に設けられ、入射光に前記第1位相とは異なる第2位相を付与する第2位相付与構造と、
を有する、固体撮像装置を提供する。
前記分離壁は、少なくとも前記第1及び第2光電変換素子の間に設けられ、前記第1及び第2位相付与構造は、前記分離壁の前記光の入射側に位置していてもよい。
前記第1及び第2位相の位相差の絶対値は、Nを奇数として、(Nπ-π/2)以上(Nπ+π/2)以下の値であってもよい。
前記第1及び第2光電変換素子が、半導体基板内に面内方向に並べて設けられ、前記第1位相付与構造は、前記半導体基板とは屈折率が異なる部分であって、前記半導体基板の前記光の入射側の面に設けられた第1部分と、前記半導体基板の一部であって、前記第1部分の前記光の入射側とは反対側に位置する第2部分と、を有し、前記第2位相付与構造は、前記半導体基板の前記光の入射側の面に設けられ、前記第1部分及び前記第2位相付与構造は、前記光の入射側の面が面一であってもよい。
前記第1部分の屈折率n

、厚さd

、前記第2位相付与構造の屈折率n

、厚さd

(≧d

)、前記半導体基板の屈折率n
s
、前記光の波長λについて、Nを奇数として、(Nλ/2-λ/4)≦|n



+n

(d

-d

)-n



|≦(Nλ/2+λ/4)が成立してもよい。
前記第1及び第2光電変換素子が、半導体基板内に面内方向に並べて設けられ、前記半導体基板の前記光の入射側に絶縁膜が設けられ、前記第1位相付与構造は、前記絶縁膜とは屈折率が異なる部分であって、前記半導体基板の前記光の入射側の面に設けられた第1部分と、前記絶縁膜の一部であって、前記第1部分の前記光の入射側に位置する第2部分と、を有し、前記第2位相付与構造は、前記半導体基板と前記絶縁膜との間に設けられ、前記第1部分及び前記第2位相付与構造は、前記光の入射側とは反対側の面が、面一であってもよい。
前記第1部分の屈折率n

、厚さd

、前記第2位相付与構造の屈折率n

、厚さd

(≧d

)、前記絶縁膜の屈折率n

、前記光の波長λについて、Nを奇数として、(Nλ/2-λ/4)≦|n



+n

(d

-d

)-n



|≦(Nλ/2+λ/4)が成立してもよい。
前記第1位相付与構造は、複数の第1微細構造を有し、前記第2位相付与構造は、複数の第2微細構造を有していてもよい。
前記複数の第1微細構造は、屈折率が異なる第1及び第2種の第1微細構造であって面内方向に交互に並ぶ第1及び第2種の第1微細構造を含み、前記複数の第2微細構造は、屈折率が異なる第1及び第2種の第2微細構造であって面内方向に交互に並ぶ第1及び第2種の第2微細構造を含んでいてもよい。
前記第1種の第1微細構造の体積の総和及び前記第2種の第1微細構造の体積の総和の比と、前記第1種の第2微細構造の体積の総和及び前記第2種の第2微細構造の総和の比とが異なっていてもよい。
前記第1及び第2微細構造の少なくとも一方は、縦断面がテーパ形状を有していてもよい。
前記第1及び第2位相付与構造の少なくとも一方は、前記光の反射を防止する反射防止機能を有していてもよい。
前記画素は、前記第1及び第2位相付与構造の前記光の入射側に配置され、該光の反射を防止する反射防止構造を含んでいてもよい。
前記第1及び第2受光部の受光面積が異なっていてもよい。
【図面の簡単な説明】
【0008】
本技術の一実施形態の実施例1に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
図1の固体撮像装置の撮像時の作用を説明するための図である。
図1の固体撮像装置の位相差検出時の作用(その1)を説明するための図である。
図1の固体撮像装置の位相差検出時の作用(その2)を説明するための図である。
図1の固体撮像装置の第1及び第2受光部に入射された入射光の入射角毎の強度分布を示す図である。
本技術の一実施形態の実施例2に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例3に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例4に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例5に係る固体撮像装置の平面構成を模式的に示す図である。
図10Aは、図9の10A-10A線断面を模式的に示す図である。図10Bは、図9の10B-10B線断面を模式的に示す図である。
第1及び第2位相付与構造への光の入射角と光吸収量との関係を示すグラフである。
本技術の一実施形態の実施例6に係る固体撮像装置の平面構成を模式的に示す図である。
図13Aは、図12の13A-13A線断面を模式的に示す図である。図13Bは、図12の13B-13B線断面を模式的に示す図である。
図12の固体撮像装置の第1及び第2受光部に入射された入射光の入射角毎の強度分布を示す図である。
本技術の一実施形態の実施例7に係る固体撮像装置の平面構成を模式的に示す図である。
図16Aは、図15の16A-16A線断面を模式的に示す図である。図16Bは、図15の16B-16B線断面を模式的に示す図である。
図17Aは、図15の17A-17A線断面を模式的に示す図である。図17Bは、図15の17B-17B線断面を模式的に示す図である。
図18Aは、図15の18A-18A線断面を模式的に示す図である。図18Bは、図15の18B-18B線断面を模式的に示す図である。
図19Aは、図15の19A-19A線断面を模式的に示す図である。図19Bは、図15の19B-19B線断面を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例8に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
図20の固体撮像装置の製造方法の一例を説明するためのフローチャートである。
図22A及び図22Bは、それぞれ図20-の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図23A及び図23Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図24A及び図24Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図25A及び図25Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図26A及び図26Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図27A及び図27Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図28A及び図28Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図29A及び図29Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図30A及び図30Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図31A及び図31Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
図32A及び図32Bは、それぞれ図20の固体撮像装置の製造方法の一例の工程毎の模式的平面図及び模式的断面図である。
本技術の一実施形態の実施例9に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例10に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例11に係る固体撮像装置の平面構成を模式的に示す図である。
図36Aは、図35の36A-36A線断面を模式的に示す図である。図36Bは、図35の36B-36B線断面を模式的に示す図である。
図37Aは、図35の37A-37A線断面を模式的に示す図である。図37Bは、図35の37B-37B線断面を模式的に示す図である。
図38Aは、図35の38A-38A線断面を模式的に示す図である。図38Bは、図35の38B-38B線断面を模式的に示す図である。
図39Aは、図35の39A-39A線断面を模式的に示す図である。図39Bは、図35の39B-39B線断面を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例12に係る固体撮像装置の平面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例13に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例14に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例15に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例1の変形例に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例2の変形例に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
本技術の一実施形態の実施例3の変形例に係る固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
比較例の固体撮像装置の断面構成を模式的に示す図である。
図48A及び図48Bは、それぞれ図47の固体撮像装置の第1及び第2フォトダイオードに入射された入射光の入射角毎の強度分布を示す図である。
本技術を適用した固体撮像装置の使用例を示す図である。
本技術を適用した固体撮像装置を備える電子機器の一例の機能ブロック図である。
車両制御システムの概略的な構成の一例を示すブロック図である。
車外情報検出部及び撮像部の設置位置の一例を示す説明図である。
内視鏡手術システムの概略的な構成の一例を示す図である。
カメラヘッド及びCCUの機能構成の一例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下に添付図面を参照しながら、本技術の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。以下に説明する実施形態は、本技術の代表的な実施形態を示したものであり、これにより本技術の範囲が狭く解釈されることはない。本明細書において、本技術に係る固体撮像装置の各々が複数の効果を奏することが記載される場合でも、本技術に係る固体撮像装置の各々は、少なくとも1つの効果を奏すればよい。本明細書に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものではなく、また他の効果があってもよい。
【0010】
また、以下の順序で説明を行う。
0.導入
1.本技術の一実施形態の実施例1に係る固体撮像装置
2.本技術の一実施形態の実施例2に係る固体撮像装置
3.本技術の一実施形態の実施例3に係る固体撮像装置
4.本技術の一実施形態の実施例4に係る固体撮像装置
5.本技術の一実施形態の実施例5に係る固体撮像装置
6.本技術の一実施形態の実施例6に係る固体撮像装置
7.本技術の一実施形態の実施例7に係る固体撮像装置
8.本技術の一実施形態の実施例8に係る固体撮像装置
9.本技術の一実施形態の実施例9に係る固体撮像装置
10.本技術の一実施形態の実施例10に係る固体撮像装置
11.本技術の一実施形態の実施例11に係る固体撮像装置
12.本技術の一実施形態の実施例12に係る固体撮像装置
13.本技術の一実施形態の実施例13に係る固体撮像装置
14.本技術の一実施形態の実施例14に係る固体撮像装置
15.本技術の一実施形態の実施例15に係る固体撮像装置
16.本技術の変形例
17.本技術を適用した固体撮像装置の使用例
18.本技術を適用した固体撮像装置の他の使用例
19.移動体への応用例
20.内視鏡手術システムへの応用例
(【0011】以降は省略されています)

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