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公開番号2025177989
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-12-05
出願番号2024085193
出願日2024-05-24
発明の名称深度計測装置、深度計測方法及び深度計測プログラム
出願人株式会社トヨタプロダクションエンジニアリング
代理人弁理士法人白坂
主分類G01B 15/00 20060101AFI20251128BHJP(測定;試験)
要約【課題】部材の深度を計測することが可能な深度計測装置、深度計測方法及び深度計測プログラムを提供する。
【解決手段】深度計測装置は、放射線源と、放射線源から放射される放射線の検出器と、放射線源から検出器に向かう奥行き方向に第1距離離れた位置を第1位置とすると、当該第1位置から検出器の検出面に沿って第2距離離れた第2位置に対象物がある場合、検出器で撮像される対象物の像の検出器上の第3位置と、放射線源に対向する検出器上の第4位置との第3距離を取得する第1取得部と、第2位置から奥行き方向に第4距離離れた第5位置に対象物がある場合、検出器で撮像される対象物の像の検出器上の第6位置と、第4位置との第5距離を取得する第2取得部と、第1取得部で取得する第3距離、第2取得部で取得する第5距離、及び、第4距離に基づいて、第1距離を取得する第3取得部と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
放射線源と、
前記放射線源から放射される放射線の検出器と、
前記放射線源から前記検出器に向かう奥行き方向に第１距離離れた位置を第１位置とすると、当該第１位置から検出器の検出面に沿って第２距離離れた第２位置に対象物がある場合、前記検出器で撮像される前記対象物の像の前記検出器上の第３位置と、前記放射線源に対向する前記検出器上の第４位置との第３距離を取得する第１取得部と、
前記第２位置から前記奥行き方向に第４距離離れた第５位置に前記対象物がある場合、前記検出器で撮像される前記対象物の像の検出器上の第６位置と、前記第４位置との第５距離を取得する第２取得部と、
前記第１取得部で取得する前記第３距離、前記第２取得部で取得する前記第５距離、及び、前記第４距離に基づいて、前記第１距離を取得する第３取得部と、
を備える深度計測装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記放射線源と前記検出器との前記奥行き方向の距離を一定としつつ、前記放射線源と前記検出器との間にある前記対象物の奥行き方向の位置を変化させる位置制御部を備える
請求項１に記載の深度計測装置。
【請求項３】
前記第３取得部は、前記第１距離をＬ
１
、前記第３距離をＬ
３
、前記第５距離をＬ
５
、前記第４距離をＬ
４
とすると、下式（１）により前記第１距離Ｌ
１
を算出する
TIFF
2025177989000008.tif
10
150
請求項１又は２に記載の深度計測装置。
【請求項４】
放射線源、及び、前記放射線源から放射される放射線の検出器それぞれとの間で通信が可能なコンピュータが、
前記放射線源から前記検出器に向かう奥行き方向に第１距離離れた位置を第１位置とすると、当該第１位置から検出器の検出面に沿って第２距離離れた第２位置に対象物がある場合、前記検出器で撮像される前記対象物の像の前記検出器上の第３位置と、前記放射線源に対向する前記検出器上の第４位置との第３距離を取得する第１取得ステップと、
前記第２位置から前記奥行き方向に第４距離離れた第５位置に前記対象物がある場合、前記検出器で撮像される前記対象物の像の検出器上の第６位置と、前記第４位置との第５距離を取得する第２取得ステップと、
前記第１取得ステップで取得する前記第３距離、前記第２取得ステップで取得する前記第５距離、及び、前記第４距離に基づいて、前記第１距離を取得する第３取得ステップと、
を実行する深度計測方法。
【請求項５】
放射線源、及び、前記放射線源から放射される放射線の検出器それぞれとの間で通信が可能なコンピュータに、
前記放射線源から前記検出器に向かう奥行き方向に第１距離離れた位置を第１位置とすると、当該第１位置から検出器の検出面に沿って第２距離離れた第２位置に対象物がある場合、前記検出器で撮像される前記対象物の像の前記検出器上の第３位置と、前記放射線源に対向する前記検出器上の第４位置との第３距離を取得する第１取得機能と、
前記第２位置から前記奥行き方向に第４距離離れた第５位置に前記対象物がある場合、前記検出器で撮像される前記対象物の像の検出器上の第６位置と、前記第４位置との第５距離を取得する第２取得機能と、
前記第１取得機能で取得する前記第３距離、前記第２取得機能で取得する前記第５距離、及び、前記第４距離に基づいて、前記第１距離を取得する第３取得機能と、
を実現させる深度計測プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、深度計測装置、深度計測方法及び深度計測プログラムに関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、特許文献１に記載されたＣＴ装置は、異なる２つの撮影距離（ＦＣＤ）それぞれに応じて取得した基準体の断面像の大きさに基づいて演算を行うことにより、撮影距離（ＦＣＤ）及び検出距離（ＦＤＤ）を更正する。撮影距離（ＦＣＤ）は放射線源と被検体との距離であり、検出距離（ＦＤＤ）は放射線源と放射線検出部との距離である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１０－１８５８５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載されたＣＴ装置は、撮影距離（ＦＣＤ）及び検出距離（ＦＤＤ）の更正を行うものである。
放射線を用いて部材（例えば、部材内部の空隙等）の深さを求める場合があるが、特許文献１には部材の深さを求める手法が開示されていない。
【０００５】
本開示は、部材の深度を計測することが可能な深度計測装置、深度計測方法及び深度計測プログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
一態様の深度計測装置は、放射線源と、放射線源から放射される放射線の検出器と、放射線源から検出器に向かう奥行き方向に第１距離離れた位置を第１位置とすると、当該第１位置から検出器の検出面に沿って第２距離離れた第２位置に対象物がある場合、検出器で撮像される対象物の像の検出器上の第３位置と、放射線源に対向する検出器上の第４位置との第３距離を取得する第１取得部と、第２位置から奥行き方向に第４距離離れた第５位置に対象物がある場合、検出器で撮像される対象物の像の検出器上の第６位置と、第４位置との第５距離を取得する第２取得部と、第１取得部で取得する第３距離、第２取得部で取得する第５距離、及び、第４距離に基づいて、第１距離を取得する第３取得部と、を備える。
【発明の効果】
【０００７】
本開示の深度計測装置、深度計測方法及び深度計測プログラムは、部材の深度を計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
一実施形態に係る深度計測装置について説明するための図である。
一実施形態に係る深度計測装置（処理部）について説明するためのブロック図である。
第１距離の算出式を得る際の複数の位置及び複数の距離の関係について説明するための図である。
位置制御部の制御パターン（第１パターン）を説明する際の深度計測装置の概略構成について説明するための図である。
位置制御部の制御パターン（第２パターン）を説明する際の深度計測装置の概略構成について説明するための図である。
一実施形態に係る深度計測方法について説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、一実施形態について説明する。
【００１０】
［深度計測装置１の概要］
まず、一実施形態に係る深度計測装置１の概要について説明する。
図１は、一実施形態に係る深度計測装置１について説明するための図である。
（【００１１】以降は省略されています）

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