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公開番号
2025160726
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-10-23
出願番号
2024063482
出願日
2024-04-10
発明の名称
粒度判定装置、粒度判定方法及び造粒物の製造方法
出願人
JFEスチール株式会社
代理人
個人
,
個人
,
個人
,
個人
主分類
G01N
15/0227 20240101AFI20251016BHJP(測定;試験)
要約
【課題】粒状物の粒度を精度よく判定することが可能な粒度判定装置、粒度判定方法及び造粒物の製造方法が提供される。
【解決手段】粒度判定装置(10)は、粒状物の粒度を判定する粒度判定装置であって、撮影装置によって撮影された粒状物の画像を取得する取得部(131)と、画像が視野不良か否かを判定する視野不良判定部(133)と、視野不良でないと判定された画像を用いて粒状物の粒度を判定する粒度判定部(134)と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
粒状物の粒度を判定する粒度判定装置であって、
撮影装置によって撮影された前記粒状物の画像を取得する取得部と、
前記画像が視野不良か否かを判定する視野不良判定部と、
視野不良でないと判定された画像を用いて前記粒状物の粒度を判定する粒度判定部と、を備える、粒度判定装置。
続きを表示(約 620 文字)
【請求項2】
前記粒度判定部は、前記粒状物の粒度レベルを学習させた粒度検出モデルを用いて前記画像における粒度レベルを判定する、請求項1に記載の粒度判定装置。
【請求項3】
前記視野不良判定部は、前記画像における発塵状況を判定し、発塵が無い場合に視野不良ではないと判定する、請求項1又は2に記載の粒度判定装置。
【請求項4】
前記視野不良判定部は、発塵状況を学習させた視野不良検出モデルを用いて前記画像における発塵状況を判定する、請求項3に記載の粒度判定装置。
【請求項5】
前記粒状物は、造粒機によって造粒された造粒物であり、
前記視野不良判定部は、前記造粒機の周囲の発塵状況を判定し、
前記粒度判定部は、発塵が無いと判定された画像を用いて、前記造粒物の粒度を判定する、請求項3に記載の粒度判定装置。
【請求項6】
粒状物の粒度を判定する粒度判定方法であって、
撮影装置によって撮影された前記粒状物の画像を取得する取得工程と、
前記画像が視野不良か否かを判定する視野不良判定工程と、
視野不良でないと判定された画像を用いて前記粒状物の粒度を判定する粒度判定工程と、を含む、粒度判定方法。
【請求項7】
請求項5に記載の粒度判定装置を用いて、前記造粒物の粒度レベルを判定する工程を含む、造粒物の製造方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、粒度判定装置、粒度判定方法及び造粒物の製造方法に関する。本開示は、特に造粒機で造粒される造粒物の粒度を判定する粒度判定装置、粒度判定方法及び造粒物の製造方法に関する。
続きを表示(約 1,200 文字)
【背景技術】
【0002】
造粒機で造粒物を製造する際には、造粒物の粒度を測定して管理する必要がある。ここで、造粒物等の粒状物の粒度を測定する方法として、例えば特許文献1は、粒状物の画像を撮影し、撮影した画像を画像処理することにより粒状物の平均粒度を求める平均粒度測定方法を開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開平2-264845号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献1には、皿形転動造粒機内の造粒物を撮影した画像を画像処理することで、造粒物の平均粒度を測定することができる旨が記載されている。しかし、一般的に造粒機の周囲では、造粒する際に材料が舞うことによって発塵が生じることがあり、この発塵により視野不良が生じることがある。このような視野不良環境下で撮影された画像では、画像中の造粒物が判別し難く、造粒物の粒度の判定の際に誤差が生じ易いという問題がある。
【0005】
かかる事情に鑑みてなされた本開示の目的は、粒状物の粒度を精度よく判定することが可能な粒度判定装置、粒度判定方法及び造粒物の製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
(1)本開示の一実施形態に係る粒度判定装置は、
粒状物の粒度を判定する粒度判定装置であって、
撮影装置によって撮影された前記粒状物の画像を取得する取得部と、
前記画像が視野不良か否かを判定する視野不良判定部と、
視野不良でないと判定された画像を用いて前記粒状物の粒度を判定する粒度判定部と、を備える。
【0007】
(2)本開示の一実施形態として、(1)において、
前記粒度判定部は、前記粒状物の粒度レベルを学習させた粒度検出モデルを用いて前記画像における粒度レベルを判定する。
【0008】
(3)本開示の一実施形態として、(1)又は(2)において、
前記視野不良判定部は、前記画像における発塵状況を判定し、発塵が無い場合に視野不良ではないと判定する。
【0009】
(4)本開示の一実施形態として、(3)において、
前記視野不良判定部は、発塵状況を学習させた視野不良検出モデルを用いて前記画像における発塵状況を判定する。
【0010】
(5)本開示の一実施形態として、(3)又は(4)において、
前記粒状物は、造粒機によって造粒された造粒物であり、
前記視野不良判定部は、前記造粒機の周囲の発塵状況を判定し、
前記粒度判定部は、発塵が無いと判定された画像を用いて、前記造粒物の粒度を判定する。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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