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公開番号
2025149291
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-10-08
出願番号
2024049839
出願日
2024-03-26
発明の名称
半導体デバイス
出願人
沖電気工業株式会社
代理人
個人
,
個人
,
個人
主分類
H10H
20/824 20250101AFI20251001BHJP()
要約
【課題】半導体デバイスにおける光の損失を低減する。
【解決手段】半導体デバイス1は、Si基板21と、Si基板21の上方に形成された有機膜23と、有機膜23上に設けられ、光を受光または発光する機能層10とを有する。機能層10のうち、有機膜23と接合される面は、InPで形成されている。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
Si基板と、
前記Si基板の上方に形成された有機膜と、
前記有機膜上に設けられ、光を受光または発光する半導体層と
を有し、
前記半導体層のうち、前記有機膜と接合される面は、InPで形成されている
ことを特徴とする半導体デバイス。
続きを表示(約 830 文字)
【請求項2】
前記有機膜の膜厚T(nm)は、前記半導体層において受光または発光する光の波長をλ(nm)とし、前記有機膜の屈折率をnとした場合に、
T≦λ×0.1/n
を満足することを特徴とする請求項1に記載の半導体デバイス。
【請求項3】
前記有機膜の膜厚Tは、85nm以下である
ことを特徴とする請求項1項に記載の半導体デバイス。
【請求項4】
前記有機膜の膜厚Tは、40nm以下である
ことを特徴とする請求項1に記載の半導体デバイス。
【請求項5】
前記有機膜の膜厚Tは、10nm以上である
ことを特徴とする請求項1から4までの何れか1項に記載の半導体デバイス。
【請求項6】
前記有機膜は、ポリイミドで形成されている
ことを特徴とする請求項1から4までの何れか1項に記載の半導体デバイス。
【請求項7】
前記Si基板上に、前記有機膜の膜厚よりも薄いSiO
2
膜を有し、
前記有機膜は、前記SiO
2
膜上に形成される
ことを特徴とする請求項1から4までの何れか1項に記載の半導体デバイス。
【請求項8】
前記半導体層は、InGaAsで形成された光電変換層を、InPで形成された下クラッド層と、InPで形成された上クラッド層とで挟み込んで構成され、
前記下クラッド層が前記有機膜に接合されている
ことを特徴とする請求項1から4までの何れか1項に記載の半導体デバイス。
【請求項9】
前記半導体層は、波長λが900nm以上の光を受光または発光し、
前記Si基板は、前記半導体層に受光される光または前記半導体層から発せられた光を透過する
ことを特徴とする請求項1から4までの何れか1項に記載の半導体デバイス。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、半導体デバイスに関する。
続きを表示(約 1,200 文字)
【背景技術】
【0002】
従来より、Si基板の表面に半導体層を配置した半導体装置が知られている(例えば特許文献1)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2006-245210号公報(要約参照)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
Si基板は、一定の波長帯域の光を透過する。そのため、半導体層で発生した光をSi基板の裏面から出射し、あるいはSi基板の裏面に入射した光を半導体層で受光するデバイス構成が考えられる。この場合、光の損失の低減が課題となる。
【0005】
本開示は、半導体デバイスにおける光の損失の低減を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の半導体デバイスは、Si基板と、Si基板の上方に形成された有機膜と、有機膜上に設けられ、光を受光または発光する半導体層とを有する。半導体層のうち、有機膜と接合される面は、InPで形成されている。
【発明の効果】
【0007】
本開示の半導体デバイスでは、有機膜とInPとの屈折率差が小さいため、光の損失を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
実施の形態1の半導体デバイスを示す断面図である。
実施の形態1の半導体デバイスの製造方法を示すフローチャートである。
実施の形態1のInP基板上にバッファ層等を介して機能層を形成する工程を示す断面図である。
機能層をパターニングする工程を示す断面図である。
機能層上に保護膜を形成する工程を示す断面図である。
機能層を保持するスタンプを形成する工程を示す断面図である。
機能層をInP基板から剥離する工程を示す断面図である。
Si基板に有機膜を形成する工程を示す断面図である。
機能層をSi基板に転写する工程を示す断面図である。
保護膜を除去する工程を示す断面図(A)、および電極を形成する工程を示す断面図(B)である。
膜厚が5nmの有機膜と機能層との接合力の試験結果を示す図(A),(B)である。
膜厚が11nmの有機膜と機能層との接合力の試験結果を示す図(A),(B)である。
有機膜の膜厚と光の透過率との関係を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0009】
実施の形態に係る半導体デバイスについて、図面を参照して説明する。半導体デバイスは、所定の機能を発揮する機能層すなわち半導体層を有する。
【0010】
半導体デバイスは、例えば、LED(発光ダイオード)もしくは面発光レーザ等の発光素子、または、フォトダイオード等の受光素子である。発光素子と受光素子とを包括して、光電変換素子と称する。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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