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公開番号2025136344
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-19
出願番号2024034851
出願日2024-03-07
発明の名称検査装置、検査方法およびプログラム
出願人オムロン株式会社
代理人弁理士法人深見特許事務所
主分類G01N 21/88 20060101AFI20250911BHJP(測定;試験)
要約【課題】テンプレート画像の準備に要する手間を低減可能な技術を提供する。
【解決手段】検査装置は、テンプレート画像を生成する生成部と、検査画像とテンプレート画像との比較結果に基づいて、検査画像の各画素が欠陥画素であるか非欠陥画素であるかを判定する判定部とを備える。生成部は、複数のオリジナル画像の画素の値の集合を画素ごとに特定する。生成部は、特定オリジナル画像における特定領域の指定を受けたことに応じて、特定領域に含まれる1以上の画素の各々に対応する集合において、当該1以上の画素に対応する要素を無効とする。生成部は、各画素の値として各画素に対応する集合の代表値を有するようにテンプレート画像を生成する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
対象物が写る検査画像に基づいて前記対象物に欠陥が存在するか否かを検査する検査装置であって、
良品が写るテンプレート画像を生成する生成部と、
前記検査画像と前記テンプレート画像との比較結果に基づいて、前記検査画像の各画素が欠陥画素であるか非欠陥画素であるかを判定する判定部とを備え、
前記生成部は、
前記テンプレート画像の元となる複数のオリジナル画像の画素の値の集合を画素ごとに特定し、
前記複数のオリジナル画像のうちの特定オリジナル画像における特定領域の指定を受けたことに応じて、前記特定領域に含まれる１以上の画素の各々に対応する前記集合において、前記１以上の画素に対応する要素を無効とし、前記１以上の画素に対応しない要素を有効とし、
各画素の値として前記各画素に対応する前記集合の代表値を有するように前記テンプレート画像を生成する、検査装置。
続きを表示（約 1,700 文字）【請求項２】
前記生成部は、前記複数のオリジナル画像のうちの注目オリジナル画像において、前記複数のオリジナル画像のうちの前記注目オリジナル画像以外の残りのオリジナル画像と比較して、異なる特徴を有する画素塊を前記特定領域の候補として提示する、請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記画素塊は、第１条件を満たす第１注目画素を含み、
前記第１条件は、前記第１注目画素の値と、前記複数のオリジナル画像における前記第１注目画素に対応する画素の値の代表値との差が第１閾値を超えるという条件である、請求項２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記画素塊は、第２条件を満たす第２注目画素を含み、
前記第２条件は、前記注目オリジナル画像と、前記複数のオリジナル画像を合成することにより得られる合成画像との差分画像において、前記第２注目画素に対応する画素と周囲の画素との間の値の差が第２閾値を超えるという条件である、請求項２に記載の検査装置。
【請求項５】
前記画素塊は、さらに、第３条件を満たす第３注目画素を含み、
前記第３条件は、前記複数のオリジナル画像における前記第３注目画素に対応する画素の値のばらつきを表す特徴量が第３閾値を超えるという条件である、請求項３または４に記載の検査装置。
【請求項６】
前記生成部は、ユーザ入力に応じて、前記候補の拡大画像を提示する、請求項２～４のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項７】
前記生成部は、ユーザ入力に応じて、前記残りのオリジナル画像のうちの１つにおける前記候補に対応する領域の拡大画像を提示する、請求項６に記載の検査装置。
【請求項８】
前記生成部は、前記複数のオリジナル画像の全てにおいて、前記特定領域として指定された少なくとも１つの画素が存在することに応じて、エラー通知を出力する、請求項１に記載の検査装置。
【請求項９】
対象物が写る検査画像に基づいて前記対象物に欠陥が存在するか否かを検査する検査方法であって、
良品が写るテンプレート画像を生成することと、
前記検査画像と前記テンプレート画像との比較結果に基づいて、前記検査画像の各画素が欠陥画素であるか非欠陥画素であるかを判定することとを備え、
前記生成することは、
前記テンプレート画像の元となる複数のオリジナル画像の画素の値の集合を画素ごとに特定することと、
前記複数のオリジナル画像のうちの特定オリジナル画像における特定領域の指定を受けたことに応じて、前記特定領域に含まれる１以上の画素の各々に対応する前記集合において、前記１以上の画素に対応する要素を無効とし、前記１以上の画素に対応しない要素を有効とすることと、
各画素の値として前記各画素に対応する前記集合の代表値を有するように前記テンプレート画像を生成することとを含む、検査方法。
【請求項１０】
対象物が写る検査画像に基づいて前記対象物に欠陥が存在するか否かを検査する検査方法をコンピュータに実行させるプログラムであって、前記検査方法は、
良品が写るテンプレート画像を生成することと、
前記検査画像と前記テンプレート画像との比較結果に基づいて、前記検査画像の各画素が欠陥画素であるか非欠陥画素であるかを判定することとを備え、
前記生成することは、
前記テンプレート画像の元となる複数のオリジナル画像の画素の値の集合を画素ごとに特定することと、
前記複数のオリジナル画像のうちの特定オリジナル画像における特定領域の指定を受けたことに応じて、前記特定領域に含まれる１以上の画素の各々に対応する前記集合において、前記１以上の画素に対応する要素を無効とし、前記１以上の画素に対応しない要素を有効とすることと、
各画素の値として前記各画素に対応する前記集合の代表値を有するように前記テンプレート画像を生成することとを含む、プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、検査装置、検査方法およびプログラムに関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、対象物が写る検査画像に基づいて、対象物に欠陥が存在するか否かを検査するための技術が開発されている。例えば、特開２０２２－１３１４６７号公報（特許文献１）は、良品のラベルが写っている画像（以下、「テンプレート画像」と称する）と、検査対象のラベルが写っている検査画像とを比較して、検査対象のラベルが良品か否かを判定する検査装置を開示している。テンプレート画像は、予め登録される。特開２０１５－１７５７０６号公報（特許文献２）は、所定数の画像を平均化した画像をテンプレート画像として登録することを開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２２－１３１４６７号公報
特開２０１５－１７５７０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
テンプレート画像の一部に欠陥部分が含まれると、不良品の対象物が良品として判断され得る。そのため、ユーザは、欠陥部分を含まないテンプレート画像を準備する必要がある。例えば、特許文献２に開示の技術のように所定数の画像からテンプレート画像を生成する場合、ユーザは、所定数の画像の全てを目視検査する。そして、一部の画像に欠陥が含まれる場合、ユーザは、新たに良品が写る画像を準備し、欠陥が含まれる画像を新たに準備した別の画像に差し替える必要が生じる。ユーザは、新たに準備した画像についても目視検査しなければならない。例えば、特許文献１に開示のようにラベルを検査する場合、ユーザは、インク飛び等に起因する、意図しない場所へのインクの付着のない新たな画像を準備しなければならない。
【０００５】
本開示は、このような実情を鑑みてなされたものであり、その目的は、テンプレート画像の準備に要する手間を低減可能な検査装置、検査方法およびプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の一側面に係る検査装置は、対象物が写る検査画像に基づいて対象物に欠陥が存在するか否かを検査する。検査装置は、良品が写るテンプレート画像を生成する生成部と、検査画像とテンプレート画像との比較結果に基づいて、検査画像の各画素が欠陥画素であるか非欠陥画素であるかを判定する判定部とを備える。生成部は、テンプレート画像の元となる複数のオリジナル画像の画素の値の集合を画素ごとに特定する。生成部は、複数のオリジナル画像のうちの特定オリジナル画像における特定領域の指定を受けたことに応じて、特定領域に含まれる１以上の画素の各々に対応する集合において、１以上の画素に対応する要素を無効とし、１以上の画素に対応しない要素を有効とする。生成部は、各画素の値として各画素に対応する集合の代表値を有するようにテンプレート画像を生成する。
【０００７】
この開示によれば、ユーザは、複数のオリジナル画像のうちの特定オリジナル画像において欠陥が含まれる場合、当該欠陥を含む領域を特定領域として指定すればよい。これにより、特定オリジナル画像中の欠陥は、テンプレート画像に影響を及ぼさない。そして、ユーザは、特定オリジナル画像に代わりに、新たなオリジナル画像を準備する必要がない。これにより、テンプレート画像の準備に要する手間が低減する。
【０００８】
上述の開示において、生成部は、複数のオリジナル画像のうちの注目オリジナル画像において、複数のオリジナル画像のうちの注目オリジナル画像以外の残りのオリジナル画像と比較して、異なる特徴を有する画素塊を特定領域の候補として提示する。
【０００９】
この開示によれば、ユーザは、候補を確認することにより、特定領域を指定しやすくなる。
【００１０】
上述の開示において、画素塊は、第１条件を満たす第１注目画素を含む。第１条件は、第１注目画素の値と、複数のオリジナル画像における第１注目画素に対応する画素の値の代表値との差が第１閾値を超えるという条件である。
（【００１１】以降は省略されています）

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