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公開番号2025067049
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-04-24
出願番号2023176713
出願日2023-10-12
発明の名称劣化状態検査装置、検査システム、劣化状態検査方法、及び劣化状態検査プログラム
出願人ENEOS株式会社
代理人個人
主分類G01N 25/72 20060101AFI20250417BHJP(測定;試験)
要約【課題】より簡便に検査を行うことができる劣化状態検査装置、検査システム、劣化状態検査方法、及び劣化状態検査プログラムを提供する。
【解決手段】劣化状態検査装置4は、配管2の劣化状態を検査するための劣化状態検査装置4であって、複数の画素が並んだ画素列が複数並んで構成された配管2を被写体とする画像を取得する取得部と、取得された画像において基準画素を設定し、基準画素の画素値と、基準画素以外の画素の画素値とを比較して、基準画素における配管2の劣化状態を判定する判定部と、を備え、取得部において取得された画像は、配管2の周囲温度と温度差のある熱源が内部を流れている状態で撮像された配管2の赤外線画像である。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
配管の劣化状態を検査するための劣化状態検査装置であって、
複数の画素が並んだ画素列が複数並んで構成された前記配管を被写体とする画像を取得する取得部と、
取得された前記画像において基準画素を設定し、前記基準画素の画素値と、前記基準画素以外の前記画素の画素値とを比較して、前記基準画素における前記配管の劣化状態を判定する判定部と、
を備え、
前記取得部において取得された前記画像は、前記配管の周囲温度と温度差のある熱源が内部を流れている状態で撮像された前記配管の赤外線画像である、
劣化状態検査装置。
続きを表示（約 1,400 文字）【請求項２】
前記基準画素を起点とする所定方向に配置されている前記画素を比較画素としたとき、
前記判定部は、
前記基準画素の画素値と、前記比較画素の画素値と、を比較して、前記基準画素における前記配管の劣化状態を判定する、
請求項１に記載の劣化状態検査装置。
【請求項３】
前記所定方向が複数あるとき、
前記判定部は、
複数の前記所定方向のそれぞれに対して、前記基準画素から前記所定方向に向かって各前記比較画素を走査して、前記基準画素と異なる画素値を有する前記比較画素を変化画素として特定し、
前記基準画素の画素値と各前記所定方向で特定された前記変化画素の画素値とに基づいて、前記基準画素における前記配管の劣化状態を判定する、
請求項２に記載の劣化状態検査装置。
【請求項４】
前記熱源は、前記周囲温度よりも高温であり、
前記判定部は、複数の前記所定方向のそれぞれの方向における前記変化画素の画素値が、前記基準画素の画素値よりも低い場合に、前記基準画素に対して劣化判定を行う、
請求項３に記載の劣化状態検査装置。
【請求項５】
複数の前記所定方向は、前記基準画素を起点とする第一方向、前記基準画素を起点として前記第一方向と反対方向である第二方向、前記基準画素を起点として前記第一方向及び前記第二方向と直交する第三方向、及び前記基準画素を起点として前記第三方向と反対方向である第四方向の四方向である、
請求項３又は４に記載の劣化状態検査装置。
【請求項６】
前記画像において複数設定された前記基準画素における劣化状態の判定結果に基づいて、前記画像に前記判定結果を表示した画像を生成する画像生成部、
を更に備える、
請求項１から４のいずれか１項に記載の劣化状態検査装置。
【請求項７】
前記画像において、画素値が異なる境界を示す境界線を生成する境界生成部、
を更に備え、
前記画像生成部は、前記画像に対して、前記判定結果と前記境界線を表示した画像を生成する、
請求項６に記載の劣化状態検査装置。
【請求項８】
前記所定方向において、前記変化画素を起点する所定距離内に配置される前記比較画素を補正根拠画素としたとき、
前記判定部は、前記補正根拠画素の画素値に基づいて、前記基準画素における前記配管の劣化状態を判定する、
請求項３に記載の劣化状態検査装置。
【請求項９】
閾値を記憶する記憶部を更に備え、
前記判定部は、
前記所定方向に対して、前記基準画素の画素値と前記補正根拠画素の画素値との差分の最大値を算出し、
前記最大値と前記閾値とを比較して、前記基準画素における前記配管の劣化状態を判定する、
請求項８に記載の劣化状態検査装置。
【請求項１０】
閾値を記憶する記憶部を更に備え、
前記判定部は、
前記所定方向に対して、各前記補正根拠画素の画素値の変化量を算出して、算出された前記変化量を積算して変化量合計値を算出し、
前記変化量合計値と前記閾値とを比較して、前記基準画素における前記配管の劣化状態を判定する、
請求項８に記載の劣化状態検査装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、劣化状態検査装置、検査システム、劣化状態検査方法、及び劣化状態検査プログラムに関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
例えば製油所では、配管の減肉等の劣化状態を定期的に検査している。この検査として超音波厚さ計を利用した検査や、ＲＴ（ＲａｄｉｏｇｒａｐｈｉｃＴｅｓｔ）検査等を行うことで配管の肉厚を計測することが可能である。この肉厚計測は、ピンポイントでの計測であるため、例えば減肉が発生し易い箇所として予め設定された配管の特定箇所に対して計測が行われる。このように、予め設定した配管の特定箇所に対して肉厚計測を行う場合には、検査箇所が限定されてしまい、特定箇所以外の劣化箇所を見逃してしまう可能性がある。もし配管の減肉が進んだ場合、例えば漏洩等の事故となる可能性がある。
【０００３】
これに関し、特許文献１においては、配管表面に黒体塗料を塗布し、加熱照射して赤外線カメラで温度変化分布パターンを測定し、肉厚分布を推定することが開示されている。これによれば、配管の広範囲を検査することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２００８－１５７８０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１の方法においては、配管表面に表面放射率が既知である黒体塗料を塗布する準備作業が必要になると考えられる。このため、製油所等に配置された多くの配管に対して検査を行う場合には準備作業に要する時間が多くなる可能性がある。
【０００６】
上記課題に鑑み、本開示は、より簡便に検査を行うことができる劣化状態検査装置、検査システム、劣化状態検査方法、及び劣化状態検査プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本開示のある態様に係る劣化状態検査装置は、配管の劣化状態を検査するための劣化状態検査装置であって、複数の画素が並んだ画素列が複数並んで構成された前記配管を被写体とする画像を取得する取得部と、取得された前記画像において基準画素を設定し、前記基準画素の画素値と、前記基準画素以外の前記画素の画素値とを比較して、前記基準画素における前記配管の劣化状態を判定する判定部と、を備え、前記取得部において取得された前記画像は、前記配管の周囲温度と温度差のある熱源が内部を流れている状態で撮像された前記配管の赤外線画像である。
【０００８】
本開示の別の態様に係る劣化状態検査方法は、配管の劣化状態を検査するための劣化状態検査方法であって、複数の画素が並んだ画素列が複数並んで構成された前記配管を被写体とする画像を取得する取得工程と、取得された前記画像において基準画素を設定し、前記基準画素の画素値と、前記基準画素以外の前記画素の画素値とを比較して、前記基準画素における前記配管の劣化状態を判定する判定工程と、を有し、前記取得工程において取得された前記画像は、前記配管の周囲温度と温度差のある熱源が内部を流れている状態で撮像された前記配管の赤外線画像である。
【０００９】
本開示の別の態様に係る劣化状態検査プログラムは、配管の劣化状態を検査するための劣化状態検査プログラムであって、複数の画素が並んだ画素列が複数並んで構成された前記配管を被写体とする画像を取得する取得処理と、取得された前記画像において基準画素を設定し、前記基準画素の画素値と、前記基準画素以外の前記画素の画素値とを比較して、前記基準画素における前記配管の劣化状態を判定する判定処理と、をコンピュータに実行させ、前記取得処理において取得された前記画像は、前記配管の周囲温度と温度差のある熱源が内部を流れている状態で撮像された前記配管の赤外線画像である。
【００１０】
なお、本開示は、プログラムの一部又は全部を実現する半導体集回路として実現され得たり、情報処理装置として実現され得たり、情報処理装置を含むシステムとして実現され得る。
【発明の効果】
（【００１１】以降は省略されています）

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