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公開番号2025056441
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-04-08
出願番号2023165916
出願日2023-09-27
発明の名称光コヒーレンストモグラフィ装置、その制御方法、及びプログラム
出願人株式会社トプコン
代理人個人
主分類A61B 3/10 20060101AFI20250401BHJP(医学または獣医学;衛生学)
要約【課題】広角で被測定物を撮影する場合に、良好な画質で被測定物の画像を取得するための新たな技術を提供する。
【解決手段】光コヒーレンストモグラフィ装置は、光学系と、制御部とを含む。光学系は、光学条件を変更可能に構成され、光スキャナを含み、光スキャナを用いて被測定物を測定光でスキャンすることにより被測定物の光コヒーレンストモグラフィデータを取得するように構成される。制御部は、低速スキャン軸に沿って移動する基準位置を基準に高速スキャン軸に沿って被測定物を測定光でスキャンするように光スキャナを制御する。制御部は、低速スキャン軸に沿った低速スキャンの周期に同期して光学条件を変更する。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
光学条件を変更可能に構成され、光スキャナを含み、前記光スキャナを用いて被測定物を測定光でスキャンすることにより前記被測定物の光コヒーレンストモグラフィデータを取得するように構成された光学系と、
低速スキャン軸に沿って移動する基準位置を基準に高速スキャン軸に沿って前記被測定物を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する制御部と、
を含み、
前記制御部は、前記低速スキャン軸に沿った低速スキャンの周期に同期して前記光学条件を変更する、光コヒーレンストモグラフィ装置。
続きを表示（約 1,600 文字）【請求項２】
前記光学系は、
光源からの光を前記測定光と参照光とに分割し、１以上の光学素子が配置された測定光路を経由した前記測定光を前記被測定物に投射し、前記被測定物からの戻り光と参照光路を経由した前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との差を変更する光路長差変更部材と、
を含み、
前記制御部は、前記１以上の光学素子、及び前記光路長差変更部材の少なくとも一方を制御することで前記光学系の光学条件を変更する
ことを特徴とする請求項１に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項３】
前記１以上の光学素子は、合焦レンズ、又は収差補正デバイスを含む
ことを特徴とする請求項２に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項４】
前記光コヒーレンストモグラフィデータに基づいて前記被測定物の画像を形成する画像形成部と、
前記被測定物の画像の画質の評価値を算出する画質評価値算出部と、
を含み、
前記制御部は、前記評価値に基づいて、前記１以上の光学素子を制御する
ことを特徴とする請求項２又は請求項３に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項５】
前記被測定物に対して前記光学系を相対的に移動する移動機構を含み、
前記制御部は、前記移動機構を制御することで前記光学系の光学条件を変更する
ことを特徴とする請求項１～請求項３のいずれか一項に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項６】
前記光コヒーレンストモグラフィデータに基づいて前記被測定物の画像を形成する画像形成部を含み、
前記制御部は、前記画像における前記被測定物の位置に基づいて、前記光路長差変更部材を制御する
ことを特徴とする請求項２又は請求項３に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項７】
前記高速スキャン軸は、円状のスキャン軸であり、
前記低速スキャン軸は、らせん状のスキャン軸である
ことを特徴とする請求項１～請求項３のいずれか一項に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項８】
光学条件を変更可能に構成され、光スキャナを含み、前記光スキャナを用いて被測定物を測定光でスキャンすることにより前記被測定物の光コヒーレンストモグラフィデータを取得するように構成された光学系を含む光コヒーレンストモグラフィ装置の制御方法であって、
低速スキャン軸に沿って移動する基準位置を基準に高速スキャン軸に沿って前記被測定物を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する制御ステップと、
前記低速スキャン軸に沿った低速スキャンの周期に同期して前記光学条件を変更する光学条件変更ステップと、
を含む、光コヒーレンストモグラフィ装置の制御方法。
【請求項９】
前記光学系は、
光源からの光を前記測定光と参照光とに分割し、１以上の光学素子が配置された測定光路を経由した前記測定光を前記被測定物に投射し、前記被測定物からの戻り光と参照光路を経由した前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との差を変更する光路長差変更部材と、
を含み、
前記光学条件変更ステップは、前記１以上の光学素子、及び前記光路長差変更部材の少なくとも一方を制御することで前記光学系の光学条件を変更する
ことを特徴とする請求項８に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置の制御方法。
【請求項１０】
前記１以上の光学素子は、合焦レンズ、又は収差補正デバイスを含む
ことを特徴とする請求項９に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置の制御方法。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
この発明は、光コヒーレンストモグラフィ装置、光コヒーレンストモグラフィ装置の制御方法、及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
レーザー光源等からの光ビームを用いて被測定物の表面形態や内部形態を表す画像を形成する光コヒーレンストモグラフィ（ＯｐｔｉｃａｌＣｏｈｅｒｅｎｃｅＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）装置が知られている。ＯＣＴ装置において実行されるＯＣＴは、生体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。例えば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化されている。このようなＯＣＴの手法を用いた装置（ＯＣＴ装置）は被検眼の様々な部位の観察に適用可能である。また、高精細な画像を取得できることから、様々な眼科疾患の診断に応用されている。
【０００３】
被測定物を広角で撮影する場合、被測定物の断面形状に依存して撮影部位（スキャン領域）ごとに撮影に最適な光学系の光学条件が異なる。その結果、注目部位の周辺の画質が十分ではなく、被測定物の再撮影を行う必要が生ずる場合がある。
【０００４】
これに対して、ＯＣＴの深さ方向の撮影範囲（計測範囲、深さレンジ）を広くすることが考えられる。しかしながら、ＯＣＴの深さ方向の撮影範囲には制限がある。深さ方向の撮影範囲を広くするために、検出系の高コスト化や光学系の大型化等を招く。
【０００５】
例えば、特許文献１には、プレスキャンを行い、事前に取得されたＢスキャンのスキャン方向の複数位置でのＡスキャン画像に基づいて被観察部位の断層画像の全体がＢスキャン画像内の最適位置に配置されるように参照光の光路長を調整する手法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
特開２０１５－１６１５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１では、本スキャンの実行前にプレスキャンを実行する必要があり、撮影時間（計測時間）が長くなる。被測定物が生体眼の場合には被検者の負担が増加するという問題がある。
【０００８】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的の１つは、広角で被測定物を撮影する場合に、良好な画質で被測定物の画像を取得するための新たな技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
いくつかの実施形態の１つの態様は、光学条件を変更可能に構成され、光スキャナを含み、前記光スキャナを用いて被測定物を測定光でスキャンすることにより前記被測定物の光コヒーレンストモグラフィデータを取得するように構成された光学系と、低速スキャン軸に沿って移動する基準位置を基準に高速スキャン軸に沿って前記被測定物を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する制御部と、を含み、前記制御部は、前記低速スキャン軸に沿った低速スキャンの周期に同期して前記光学条件を変更する、光コヒーレンストモグラフィ装置である。
【００１０】
いくつかの実施形態の別の態様は、光学条件を変更可能に構成され、光スキャナを含み、前記光スキャナを用いて被測定物を測定光でスキャンすることにより前記被測定物の光コヒーレンストモグラフィデータを取得するように構成された光学系を含む光コヒーレンストモグラフィ装置の制御方法である。光コヒーレンストモグラフィ装置の制御方法は、低速スキャン軸に沿って移動する基準位置を基準に高速スキャン軸に沿って前記被測定物を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する制御ステップと、前記低速スキャン軸に沿った低速スキャンの周期に同期して前記光学条件を変更する光学条件変更ステップと、を含む。
（【００１１】以降は省略されています）

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