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公開番号
2025035956
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-03-14
出願番号
2023169715
出願日
2023-09-29
発明の名称
半導体装置
出願人
住友電気工業株式会社
代理人
個人
,
個人
主分類
H10D
30/47 20250101AFI20250306BHJP()
要約
【課題】電流コラプスを抑制できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、上面が窒素極性を有するバリア層と、上面が窒素極性を有し、前記バリア層の上のチャネル層と、上面が窒素極性を有し、前記チャネル層の上の第1キャップ層と、前記第1キャップ層の前記上面に接する誘電体膜と、を有し、前記第1キャップ層は、窒化アルミニウム層である。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
上面が窒素極性を有するバリア層と、
上面が窒素極性を有し、前記バリア層の上のチャネル層と、
上面が窒素極性を有し、前記チャネル層の上の第1キャップ層と、
前記第1キャップ層の前記上面に接する誘電体膜と、
を有し、
前記第1キャップ層は、窒化アルミニウム層である、半導体装置。
続きを表示(約 470 文字)
【請求項2】
上面が窒素極性を有するバリア層と、
上面が窒素極性を有し、前記バリア層の上のチャネル層と、
上面が窒素極性を有し、前記チャネル層の上の第1キャップ層と、
前記第1キャップ層の前記上面に接する誘電体膜と、
を有し、
前記第1キャップ層の前記上面において、III族元素中のアルミニウムの割合が52%以上である、半導体装置。
【請求項3】
前記第1キャップ層の厚さは、0.2nm以上2.0nm未満である、請求項1または請求項2に記載の半導体装置。
【請求項4】
前記チャネル層と前記第1キャップ層との間に、上面が窒素極性を有する第2キャップ層を有し、
前記第2キャップ層におけるIII族元素中のアルミニウムの割合は、前記第1キャップ層におけるIII族元素中のアルミニウムの割合よりも低い、請求項1または請求項2に記載の半導体装置。
【請求項5】
前記誘電体膜の上のゲート電極を有する、請求項1または請求項2に記載の半導体装置。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、半導体装置に関する。
続きを表示(約 1,200 文字)
【背景技術】
【0002】
従来、バリア層の上にチャネル層が形成された高電子移動度トランジスタ(high electron mobility transistor:HEMT)が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
国際公開第2005/119787号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
近年、電流コラプスの抑制の要請が高まっている。
【0005】
本開示は、電流コラプスを抑制できる半導体装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の半導体装置は、上面が窒素極性を有するバリア層と、上面が窒素極性を有し、前記バリア層の上のチャネル層と、上面が窒素極性を有し、前記チャネル層の上の第1キャップ層と、前記第1キャップ層の前記上面に接する誘電体膜と、を有し、前記第1キャップ層は、窒化アルミニウム層である。
【発明の効果】
【0007】
本開示によれば、電流コラプスを抑制できる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
図1は、実施形態に係る半導体装置を示す断面図である。
図2は、実施形態に係る半導体装置の製造方法を示す断面図(その1)である。
図3は、実施形態に係る半導体装置の製造方法を示す断面図(その2)である。
図4は、実施形態に係る半導体装置の製造方法を示す断面図(その3)である。
図5は、実施形態に係る半導体装置の製造方法を示す断面図(その4)である。
図6は、実施形態に係る半導体装置の製造方法を示す断面図(その5)である。
図7は、実施形態に係る半導体装置の製造方法を示す断面図(その6)である。
図8は、実験に用いたエピタキシャル基板の基本構造を示す断面図である。
図9は、原子間力顕微鏡像を示す図(その1)である。
図10は、原子間力顕微鏡像を示す図(その2)である。
図11は、アルミニウム組成とシート抵抗との関係を示す図である。
図12は、アルミニウム組成と突起数との関係を示す図である。
図13は、窒化アルミニウム層の厚さとシート抵抗との関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
[本開示の実施形態の説明]
最初に本開示の実施態様を列記して説明する。
【0010】
〔1〕 本開示の一態様に係る半導体装置は、上面が窒素極性を有するバリア層と、上面が窒素極性を有し、前記バリア層の上のチャネル層と、上面が窒素極性を有し、前記チャネル層の上の第1キャップ層と、前記第1キャップ層の前記上面に接する誘電体膜と、を有し、前記第1キャップ層は、窒化アルミニウム層である。
(【0011】以降は省略されています)
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