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公開番号
2025043880
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-04-01
出願番号
2023151434
出願日
2023-09-19
発明の名称
半導体装置
出願人
株式会社東芝
代理人
弁理士法人iX
主分類
H10D
84/80 20250101AFI20250325BHJP()
要約
【課題】高速スイッチングして、スイッチング損失を低減できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、ドレイン電極と、ソース電極と、ゲート電極と、を含み、半導体基板上に設けられたトランジスタ部と、前記半導体基板上に設けられたゲート電極パッドと、前記ゲート端子とゲート電極パッドとの間を電気的に接続するゲート接続部材と、前記ゲート電極パッドと前記ゲート電極との間に電気的に接続されたゲート回路部と、前記トランジスタ部、前記ゲート電極パッドおよび前記ゲート回路部を収納するケースと、を備える。前記ゲート回路部は、キャパシタと抵抗素子との並列回路と、前記キャパシタを前記ゲート電極パッドに電気的に接続する第1接続部材と、前記キャパシタを前記ゲート電極に電気的に接続する第2接続部材と、を含む。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
半導体基板の第1面上に設けられ、ソース端子に電気的に接続されたソース電極と、前記第1面の反対側の前記半導体基板の第2面に設けられ、ドレイン端子に電気的に接続されたドレイン電極と、前記ソース電極と前記ドレイン電極との間に設けられたゲート電極と、を含むトランジスタ部と、
前記第1面上に設けられたゲート電極パッドと、
前記ゲート電極パッドとゲート端子との間を電気的に接続するゲート接続部材と、
前記第1面上に設けられ、前記ゲート電極パッドと前記ゲート電極との間に電気的に接続されたゲート回路部と、
前記トランジスタ部、前記ゲート電極パッドおよび前記ゲート回路部を収納するケースと、
を備え、
前記ゲート回路部は、
キャパシタと、
前記キャパシタに並列に接続された抵抗素子と、
前記キャパシタの一方の電極を前記ゲート電極パッドに電気的に接続する第1接続部材と、
前記キャパシタの他方の電極を前記ゲート電極に電気的に接続する第2接続部材と、
を含む半導体装置。
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【請求項2】
平面視において、
前記トランジスタ部、前記ゲート電極パッド、前記キャパシタおよび前記抵抗素子は、互いに重ならないように配置され、
前記キャパシタは、前記ゲート電極パッドに隣り合って配置され、
前記第1接続部材は、前記ゲート電極パッドと前記キャパシタとの間に設けられた請求項1記載の半導体装置。
【請求項3】
前記キャパシタは、前記トランジスタ部に隣り合って配置され、
前記第2接続部材は、前記キャパシタと前記トランジスタ部との間に設けられた請求項2記載の半導体装置。
【請求項4】
前記ゲート接続部材、前記第1配線および前記第2配線の直列回路が有するインダクタンス値は、8nHよりも小さい請求項1記載の半導体装置。
【請求項5】
前記トランジスタ部は、
前記第1面上に設けられた第1導電形のドリフト層と、
前記ドリフト層上に設けられた第2導電形のベース層と、
前記ベース層上に選択的に設けられた前記第1導電形のソース層と、
ゲート絶縁膜を介して前記ドリフト層の一部および前記ベース層に向き合うゲート電極と、
を含み、
前記半導体基板は、前記第1導電形の不純物を含み、
前記ソース電極は、前記ベース層上および前記ソース層上で前記ベース層および前記ソース層に電気的に接続され、
前記キャパシタは、
前記第1配線を介して前記ゲート電極パッドに電気的に接続された第1キャパシタ電極と、
前記第2配線を介して前記ゲート電極に電気的に接続された第2キャパシタ電極と、
前記第1キャパシタ電極と前記第2キャパシタ電極との間に設けられた誘電体膜と、
を含む請求項1~4のいずれか1つに記載の半導体装置。
【請求項6】
前記第1キャパシタ電極は、第1絶縁層を介して前記ドリフト層上に設けられ、
前記誘電体層は、前記第1キャパシタ電極上に設けられ、
前記第2キャパシタ電極は、前記誘電体層上に設けられた請求項5記載の半導体装置。
【請求項7】
前記トランジスタ部は、前記ドリフト層中に延在する導電体を含み、
前記導電体は、第1絶縁膜を介して前記ドリフト層に向き合い、第2絶縁膜を介して前記ゲート電極に向き合う導電体を含み、
前記第1キャパシタ電極は、第3絶縁膜を介して前記ドリフト層の一部に向き合い、
前記第2キャパシタ電極は、前記ドリフト層中に延在して、第4絶縁膜を介して前記ドリフト層に向き合い、前記誘電体層を介して前記第1キャパシタ電極に向き合う請求項5記載の半導体装置。
【請求項8】
前記キャパシタは、前記ドリフト層上に前記ベース層を含み、
前記第1キャパシタ電極は、前記ドリフト層の一部および前記ベース層に向き合う請求項7記載の半導体装置。
【請求項9】
前記キャパシタおよび前記抵抗素子は、前記第1接続部材を介して前記ゲート電極パッド上に配置されて前記ゲート電極パッドに電気的に接続された請求項1記載の半導体装置。
【請求項10】
前記第1接続部材は、前記キャパシタと前記ゲート電極パッドとの間に設けられた請求項9記載の半導体装置。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、半導体装置に関する。
続きを表示(約 1,900 文字)
【背景技術】
【0002】
高速スイッチングが可能な電力用の半導体装置として、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)がある。MOSFETは、ゲートを駆動する回路の出力インピーダンスを下げることによって、より高速にスイッチングすることができる。
【0003】
一方で、MOSFETの各電極に接続される配線は、有限のインダクタンスを有しており、このインダクタンスに起因して、高速スイッチングさせるとサージ電圧によるリンギングや素子破壊を生じることがある。
【0004】
MOSFETを高速スイッチングさせてスイッチング損失を低減したいとの要求が強い。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
特許第6729693号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
実施形態は、高速スイッチングして、スイッチング損失を低減できる半導体装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0007】
実施形態に係る半導体装置は、半導体基板の第1面上に設けられ、ソース端子に電気的に接続されたソース電極と、前記第1面の反対側の前記半導体基板の第2面に設けられ、ドレイン端子に電気的に接続されたドレイン電極と、前記ソース電極と前記ドレイン電極との間に設けられたゲート電極と、を含むトランジスタ部と、前記第1面上に設けられたゲート電極パッドと、前記ゲート電極パッドとゲート端子との間を電気的に接続するゲート接続部材と、前記第1面上に設けられ、前記ゲート電極パッドと前記ゲート電極との間に電気的に接続されたゲート回路部と、前記トランジスタ部、前記ゲート電極パッドおよび前記ゲート回路部を収納するケースと、を備える。前記ゲート回路部は、キャパシタと、前記キャパシタに並列に接続された抵抗素子と、前記キャパシタの一方の電極を前記ゲート電極パッドに電気的に接続する第1接続部材と、前記キャパシタの他方の電極を前記ゲート電極に電気的に接続する第2接続部材と、を含む。
【図面の簡単な説明】
【0008】
第1の実施形態に係る半導体装置を例示する模式的な平面図である。
第1の実施形態に係る半導体装置の等価回路を例示する模式的な回路図である。
図1のAA線における模式的な断面図である。
図1のBB線における模式的な断面図である。
図5(a)~図5(c)は、第1の実施形態の変形例に係る半導体装置の一部であるキャパシタを例示する模式的な断面図である。
第1の実施形態に係る半導体装置のスイッチング時の特性をシミュレーションするための回路図である。
図6の回路で、ゲート回路部のインダクタンス値をパラメータとした場合のスイッチング時の特性例のグラフ図である。
図8(a)~図8(c)は、第1の実施形態の変形例に係る半導体装置を例示する模式的な平面図である。
図9(a)~図9(c)は、第1の実施形態の変形例に係る半導体装置を例示する模式的な平面図である。
第2の実施形態に係る半導体装置を例示する模式的な斜視図である。
図10の半導体装置の一部であるキャパシタの模式的な断面図である。
図12(a)および図12(b)は、第2の実施形態の変形例に係る半導体装置を例示する模式的な斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下に、本発明の各実施形態について図面を参照しつつ説明する。
図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
本願明細書と各図において、既に説明したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
【0010】
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る半導体装置を例示する模式的な平面図である。
図1に示すように、本実施形態に係る半導体装置100は、トランジスタ部10と、ゲート電極パッド20と、ゲート回路部30と、を備える。本実施形態では、トランジスタ部10、ゲート電極パッド20およびゲート回路部30は、半導体基板1上に設けられる。半導体基板1は、たとえばSiを含む。
(【0011】以降は省略されています)
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