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公開番号2025007613
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-17
出願番号2023109133
出願日2023-07-03
発明の名称治具セット
出願人株式会社国際電気
代理人個人
主分類G01M 7/02 20060101AFI20250109BHJP(測定;試験)
要約【課題】 2000Hzまでの振動試験の場合に、治具セットと供試体とが共振を起こさず、振動試験に悪影響を及ぼすことを低減できる治具セットを提供する。
【解決手段】供試体30を試験装置6に取り付けるもので、供試体30を挿入する面を除いた5面がボルト4aで固定されて形成される治具本体10と、治具本体10をボルト4cで接続する試験装置用アダプタ20とを備え、試験装置用アダプタ20が試験装置6の接続部5にボルト4bで固定され、治具本体10と試験装置用アダプタ20とが、厚さ30mm以上50mm以下のアルミニウムの切り出し加工の素材で形成され、設けられるボルト4穴の間隔が20mm以上100mm以下とした治具セットである。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
供試体を試験装置に取り付ける治具セットであって、
前記供試体を挿入する面を除いた５面がボルトで固定されて形成される治具本体と、
前記治具本体を前記試験装置にボルトで接続する試験装置用アダプタとを備え、
前記治具本体と前記試験装置用アダプタとは、厚さ３０ｍｍ以上５０ｍｍ以下のアルミニウムの切り出し加工の素材で形成され、設けられるボルト穴の間隔が２０ｍｍ以上１００ｍｍ以下であることを特徴とする治具セット。
続きを表示（約 390 文字）【請求項２】
前記試験装置用アダプタは、複数のボルト穴を備えており、前記治具本体の５面の内、任意の面と接して前記治具本体を前記試験装置に固定することを特徴とする請求項１記載の治具セット。
【請求項３】
供試体が取り付けられた前記治具本体の重心の位置が、前記試験装置用アダプタの中心位置から５０ｍｍ以内となるよう設置することを特徴とする請求項１又は２記載の治具セット。
【請求項４】
前記治具本体は、角部をカットし、または、前記５面の表面に凹部を形成したことを特徴とする請求項１又は２記載の治具セット。
【請求項５】
供試体の設置方向を変更した場合にも、当該供試体が取り付けられた前記治具本体の重心の位置が、前記試験装置用アダプタの中心位置から５０ｍｍ以内となるよう設置することを特徴とする請求項１又は２記載の治具セット。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器の振動に対する耐環境性能を評価する試験に用いられる治具本体と試験装置用アダプタから成る治具セットに係り、特に、試験対象の供試体に治具本体が共振して試験結果に影響を及ぼすことを低減する治具セットに関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
［従来の技術］
従来、電子機器の耐環境性能を評価する試験において、試験対象の供試体の取り付け箇所を模擬する（実際の取り付け状態に真似る）治具を製作するにあたり、平板の溶接で取り付け構造を再現していた。
【０００３】
［従来の治具セット：図６］
従来の治具セットについて図６を参照しながら説明する。図６は、従来の治具セットの概略図である。
従来の治具セットは、図６に示すように、治具本体１と、試験装置用アダプタ２と、治具固定用金具３と、ボルト４とから構成されている。
【０００４】
治具本体１は、アルミニウムの箱型の形状で、供試体３０を挿入する正面と背面を除いて４面あり、当該各面には治具固定用金具３に接続するための複数のボルト通し穴が設けられている。
試験装置用アダプタ２は、アルミニウムの平板の形状で、治具固定用金具３を介して接続する治具本体１を試験装置に固定するための複数のボルト通し穴が設けられている。
【０００５】
治具固定用金具３は、Ｌ字状の金具で、治具本体１と試験装置用アダプタ２に接続するために複数のボルト通し穴が設けられている。
ボルト４は、治具本体１と治具固定用金具３とを固定し、治具固定用金具３と試験装置用アダプタ２とを固定する。尚、試験装置用アダプタ２を試験装置に固定するにもボルトが用いられる。
図６では、挿入された供試体３０の正面が上を向いており、背面が下側で、その背面からは接続用のケーブルが引き出されている。
【０００６】
［供試体の方向変更：図７］
従来の治具セットは、供試体３０の設置（試験）方向を変えて使用できるように、各部が分割可能であり、各部を組み替えてボルト４で締結して、供試体３０の向きを変えるものである。
【０００７】
図７に、供試体３０の試験方向を変更した例を示している。図７は、供試体の試験方向を変更した例を示す概略図である。
図７（ａ）は、供試体３０の正面が横を向いており、正面の短辺が試験装置用アダプタ２の平面に対向している。
図７（ｂ）は、供試体３０の正面が横を向いており、正面の長辺が試験装置用アダプタ２の平面に対向している。
【０００８】
［関連技術］
尚、関連する先行技術として、特許第３２７５３４０号「振動試験装置」（特許文献１）がある。
特許文献１には、移送ラインで移送される電子機器の耐振性を試験する振動試験装置が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
特許第３２７５３４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上記従来の治具セットでは、平板の溶接構造であるため、２０００Ｈｚ以下の振動試験の場合に、治具セットの固有振動数が１０００Ｈｚ以下となり、供試体の固有振動数の５００～７００Ｈｚに一致することになると、治具セットと供試体とで共振し、振動試験に悪影響を及ぼすことがあるという問題点があった。
（【００１１】以降は省略されています）

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