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公開番号2024137717
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-10-07
出願番号2024010150
出願日2024-01-26
発明の名称解析装置及び解析プログラム
出願人ローム株式会社
代理人弁理士法人佐野特許事務所
主分類G01R 27/02 20060101AFI20240927BHJP(測定;試験)
要約【課題】抵抗及びインダクタの直列接続体に対してキャパシタが並列接続されたとみなせる回路の回路定数を良好に解析することができる解析装置を提供する。
【解決手段】解析装置(1)は、周波数特性測定装置でのシャント・スルー測定法によって測定されたDUTのSパラメータに含まれる反射特性及び透過特性を用い、前記反射特性及び前記透過特性のゲインと位相から、ポールの周波数、零点の周波数、前記ゲインのDC成分に近似できる低周波部分を抽出するように構成された抽出部(3)と、前記ポールの周波数、前記零点の周波数、及び前記低周波部分から、前記DUTの等価回路の回路定数を算出するように構成された算出部(4)と、を備える。前記等価回路は、抵抗及びインダクタの直列接続体に対してキャパシタが並列接続されたとみなせる回路である。
【選択図】図8
特許請求の範囲【請求項１】
周波数特性測定装置でのシャント・スルー測定法によって測定されたＤＵＴのＳパラメータに含まれる反射特性及び透過特性を用い、前記反射特性及び前記透過特性のゲインと位相から、ポールの周波数、零点の周波数、前記ゲインのＤＣ成分に近似できる低周波部分を抽出するように構成された抽出部と、
前記ポールの周波数、前記零点の周波数、及び前記低周波部分から、前記ＤＵＴの等価回路の回路定数を算出するように構成された算出部と、
を備え、
前記等価回路は、抵抗及びインダクタの直列接続体に対してキャパシタが並列接続されたとみなせる回路である、解析装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記反射特性及び前記透過特性の前記ゲインと前記位相のパターンが第１パターン及び第２パターンを含み、
前記反射特性及び前記透過特性の前記ゲインと前記位相が前記第１パターンであるときに、前記算出部は前記反射特性を用い、
前記反射特性及び前記透過特性の前記ゲインと前記位相が前記第２パターンであるときに、前記算出部は前記透過特性を用いる、請求項１に記載の解析装置。
【請求項３】
前記反射特性及び前記透過特性の前記ゲインと前記位相が前記第１パターンであるときに、前記透過特性の前記位相は１８０°回らず、
前記反射特性及び前記透過特性の前記ゲインと前記位相が前記第２パターンであるときに、前記透過特性の前記位相は１８０°回る、請求項２に記載の解析装置。
【請求項４】
前記反射特性及び前記透過特性の前記ゲインと前記位相が前記第１パターンであるときに、前記算出部は、前記回路の伝送線路の特性インピーダンスＺ
０
及び前記抵抗の抵抗値Ｒで表される式Ｚ
０
／（２Ｒ）を０とみなす、請求項２又は請求項３に記載の解析装置。
【請求項５】
前記反射特性及び前記透過特性の前記ゲインと前記位相が前記第１パターンであるときに、前記算出部は、前記インダクタのインダクタンスＬ、前記回路の伝送線路の特性インピーダンスＺ
０
、前記抵抗の抵抗値Ｒ、及びラプラス変換の変数ｓで表される式|｛ＬＺ
０
／（２Ｒ
２
）｝ｓ|を０とみなす、請求項２又は請求項３に記載の解析装置。
【請求項６】
前記反射特性及び前記透過特性の前記ゲインと前記位相が前記第２パターンであるときに、前記算出部は、前記回路の伝送線路の特性インピーダンスＺ
０
及び前記抵抗の抵抗値Ｒで表される式Ｚ
０
／（２Ｒ）を０とみなさない、請求項２又は請求項３に記載の解析装置。
【請求項７】
コンピュータを、
周波数特性測定装置でのシャント・スルー測定法によって測定されたＤＵＴのＳパラメータに含まれる反射特性及び透過特性を用い、前記反射特性及び前記透過特性のゲインと位相から、ポールの周波数、零点の周波数、前記ゲインのＤＣ成分に近似できる低周波部分を抽出するように構成された抽出部、並びに、
前記ポールの周波数、前記零点の周波数、及び前記低周波部分から、前記ＤＵＴの等価回路の回路定数を算出するように構成された算出部として機能させ、
前記等価回路は、抵抗及びインダクタの直列接続体に対してキャパシタが並列接続されたとみなせる回路である、解析プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本明細書中に開示されている発明は、抵抗及びインダクタの直列接続体に対してキャパシタが並列接続されたとみなせる回路の回路定数を解析する技術に関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
解析対象回路のＳパラメータは、ベクトル・ネットワークアナライザ等の周波数特性測定装置によって測定される（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
解析対象回路の回路定数を解析する方法としては、解析対象回路のＳパラメータをインピーダンスに変換してフィッティング等が実行されることによって、集中定数としての回路定数を同定する方法がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０２２－１６０３５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述した解析方法は、原理的にＳパラメータからインピーダンスへの変換時に一部のデータを破棄することになるため、回路定数を上手く同定できない場合があった。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本明細書中に開示されている解析装置は、周波数特性測定装置でのシャント・スルー測定法によって測定されたＤＵＴのＳパラメータに含まれる反射特性及び透過特性を用い、前記反射特性及び前記透過特性のゲインと位相から、ポールの周波数、零点の周波数、前記ゲインのＤＣ成分に近似できる低周波部分を抽出するように構成された抽出部と、前記ポールの周波数、前記零点の周波数、及び前記低周波部分から、前記ＤＵＴの等価回路の回路定数を算出するように構成された算出部と、を備える。前記等価回路は、抵抗及びインダクタの直列接続体に対してキャパシタが並列接続されたとみなせる回路である。
【０００７】
本明細書中に開示されている解析プログラムは、コンピュータを、周波数特性測定装置でのシャント・スルー測定法によって測定されたＤＵＴのＳパラメータに含まれる反射特性及び透過特性を用い、前記反射特性及び前記透過特性のゲインと位相から、ポールの周波数、零点の周波数、前記ゲインのＤＣ成分に近似できる低周波部分を抽出するように構成された抽出部、並びに、前記ポールの周波数、前記零点の周波数、及び前記低周波部分から、前記ＤＵＴの等価回路の回路定数を算出するように構成された算出部として機能させる。前記等価回路は、抵抗及びインダクタの直列接続体に対してキャパシタが並列接続されたとみなせる回路である。
【発明の効果】
【０００８】
本明細書中に開示されている発明によれば、抵抗及びインダクタの直列接続体に対してキャパシタが並列接続されたとみなせる回路の回路定数を良好に解析することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
図１は、ＤＵＴの等価回路を示す図である。
図２は、二端子対回路を示す図である。
図３は、第１パターンにおける透過特性のゲイン及び位相を示す図である。
図４は、第１パターンにおける反射特性のゲイン及び位相を示す図である。
図５は、第１パターンにおける反射特性のゲイン及び位相を示す図である。
図６は、第２パターンにおける透過特性のゲイン及び位相を示す図である。
図７は、第２パターンにおける透過特性のゲイン及び位相を示す図である。
図８は、一実施形態に係る解析装置の概略構成を示す図である。
図９は、解析装置の動作例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
＜Ｓパラメータの測定＞
ＤＵＴ（Device Under Test）のＳパラメータは、ベクトル・ネットワークアナライザ等の周波数特性測定装置でのシャント・スルー測定法によって測定される。
（【００１１】以降は省略されています）

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